操作手册-2016_CH_ - 第52页
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3.2.19 OTHER 算法
3.2.20 PadPlace 算法
左 图 为 ”OTHER” 算 法 的
检测示意图,此算法主要
作为图像对比的方法来进
行检测,此算法用途广泛,
但针对性较差,故在软件
中一般做为其他算法的补
充。
左图为”PadPlace”算法的
检测示意图,此算法主要
作为定位算法来对元件
的位置进行检测。

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3.2.21 PIN 算法
3.2.22 PINSolder 算法
左图为”PIN”算 法的检测示 意
图,此算法主要用来检测多脚件
的引脚及引脚焊接情况,如”少
锡、虚焊、空焊、无引脚”的检
测项。
左 图 为 ”PINSolder” 算 法的 检
测示意图,此算法是”PIN”算法
的改进算法,将”PIN”算法中的
测试项目合并,并进行了相应
的操作简化,以达到更好的检
测效果。

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3.2.23 Pole 算法
3.2.24 Short 算法
左 图 为”Pole” 算法的 检
测示意图,此算法主要检
测 CHIP 元件的位置及焊
点检测,是一种综合性的
检测算法。
注:使用此算法需要对软
件原理及元件有较深了
解才能合理的控制检测
效果。
左图为”Short”算法的检测示
意图,此算法主要检测多脚
类或比较靠近的元件是否有
联锡或者短路的情况。