赫立AOI之程序设计 - 第3页

二、各类元件检测库示例 1 、概述 1.1 、结合要测缺陷类型 （比如缺件） ， 观察对比 OK （正常贴片） 和 NG （漏 贴）的差异（颜色和灰 度方面） ，立足 差异并在深入理解算法 逻辑（ 参看《赫立 AOI 之算法逻辑》 ） 的基础上 选择 合适 算法，设置恰当参数 、判定标 准以确保不 良 100% 检出。 1 .2 、各检测窗口光源可以自由选择，原则上优先考虑 side 光和 top 光。