镭晨AOI深度学习算法逻辑介绍.pdf - 第5页
SPI 需要检测的缺陷 锡型 / 锡高 少锡 / 多锡 连锡 偏移
AOI需要检测的缺陷
错件 浮高
立碑 漏件 偏移 翘脚
丝印反件
SPI需要检测的缺陷
锡型/锡高 少锡/多锡 连锡偏移
根据实际需要检测的缺陷内容，可以拆分成几个基础的算法任务：
1. 定位（Location）
2. 分类（Classification）
3. 检测（Detection）
4. 分割（Segmentation）
AOI算法主要任务
SPI 需要检测的缺陷 锡型 / 锡高 少锡 / 多锡 连锡 偏移