2D AOI _CN.pdf - 第2页

1 Saki Corporation Line Scan T echnology 让世界感到震惊的线扫描技术 在赛凯智能的测试设备中,采用 独自开发的线扫描技术 ( 参照下 图 )。 进化的摄像系统与完全同轴落射 照明同时使用,实现了高速且高 精度的检查。 通过简易的机构,同时实现了高 速性和高可靠性,是在线检查中 最适合的解决方案。 线性扫描方式 线扫描技术,是快速地进行全基板的扫描,是赛凯 智能测试设备的基础技术。通过一般的测试设备…

100%1 / 8
2D
外观检查装置产品目录
2D AOI Lineup
根据先进的技术,实现高速 / 高精度检查
1 Saki Corporation
Line Scan Technology
让世界感到震惊的线扫描技术
在赛凯智能的测试设备中,采用
独自开发的线扫描技术 ( 参照下
图 )。
进化的摄像系统与完全同轴落射
照明同时使用,实现了高速且高
精度的检查。
通过简易的机构,同时实现了高
速性和高可靠性,是在线检查中
最适合的解决方案。
线性扫描方式
线扫描技术,是快速地进行全基板的扫描,是赛凯
智能测试设备的基础技术。通过一般的测试设备所
采用的分段拍摄方式,根据零部件数,基板尺寸改
变检查工作,如果进行更细微的检查,则检查时间
会大幅度增大。赛凯智能采用线性照相机的摄像方
式,实现了快速的检查。
(*1) BF-TristarII
( 分辨率
10μm
)。基板的搬入 / 搬出时间不包括在内。
(*2) BF-FrontierII
( 分辨率
18μm
)。基板的搬入 / 搬出时间不包括在内。
设定进行检查区域的
分段拍摄方式
什么是线扫描技术?
引进的优点
适合于超高速线
通过新开发的照相机装置和照明,对 M
寸基板实行 5 (*1),于 LL 基板
行 5 秒 (*2) 的摄像。并且,也对应于超高速
的双轨产线的生产。
高可靠性
没有振动的线扫描的机制故障发生率很低
很多在线装置正在运转着。最新的软件支持
着这些运转中的机器。
面积生产率
简易的机制实现了紧凑的框体设计。无论是
单轨产线还是双轨产线都以同样的装置寛
度,实现了高生产率。
2Saki Corporation
赛凯智能独自的软件,用最新的技术,一边改变内部结构一边经常持续进化。
实现一边保护全基板摄像的完整存储器结构的操作性,一边对应于多核心的
高速化。追加新功能和演算方法,被最新的装置所装载。
由于这个软件同时与以前的硬件相对应,所以旧装置的升级也能同时进行
是一个独特的结构。
采用新的检查程序库,再加上数据初始加工工时的削减,为加速生产启动作
出了贡献。
完全同轴落射照明,是在基板上全部的位置上对于检查部件,从正上方
照射光的赛凯智能的独自技术。不受到相邻零部件的影响,能够捕捉
到焊端等角度的影像。用这个照明制作的程序库,在基板间及装置间可
以共享。
全基板摄像的完整存储器结构原理,可以进行对落
下物和剩余零部件的检查。为
SMT
达到高质量的
PPM
提高作出贡献。
Technology 01
Technology 02 Technology 03
先进的软件
进化的同轴落射照明
基板全面检查
通过丰富的算法,丰富的灯光检查
通过完全同轴落射照明的
完全共享程序库
也对基板上的剩余零部
件和异物等进行检查
同轴顶光
环形光源
半透镜
平衡透镜
显示单轨通道
FUJIYAMA
( 分立元件集成测试焊端
检查用演算方法 )
显示双轨通道