TR518_SII_硬体规格与架构_v1.0.0.pdf - 第2页
Test R esearch Inc. TR518 SII 使用手冊 --- 硬體 規格與架構 TR518 SII In-Circu it Test Sy stem 使用手冊 ---- 硬體規格與 架構 ver.1.0.0 Copyright © 2011 Test Research Inc . All rights re served. 這份文件只有客戶或者 TRI 人員，為了要運用在 TR518 SII 測試系統時 ，才能夠被印製或…
TR518 Series II
In-Circuit Test System
硬體規格與架構
ver. 1.0.0
July 26, 2011
Test Research Inc.
TR518 SII 使用手冊---硬體規格與架構
TR518 SII In-Circuit Test System
使用手冊----硬體規格與架構
ver.1.0.0
Copyright © 2011 Test Research Inc. All rights reserved.
這份文件只有客戶或者 TRI 人員，為了要運用在 TR518 SII 測試系統時，才能夠被印製或是影
印使用，任何其他方面的用途必須先獲得 TRI 公司的許可才行。
硬體規格跟軟體版本視情況需要改變時，並不會另行通知。
TRI 會作出最好的努力，讓客戶知道任何關於產品方面的升級、修改或是汰舊換新的消息。
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Test Research Inc.
TR518 SII 使用手冊---硬體規格與架構 1
Contents
1 簡介 ........................................................................................................................ 4
2 TR518 SII 硬體架構 ............................................................................................... 5
2.1 TR518 SII 系統架構 ........................................................................................ 5
2.2 TR518 SII 系統架構板列表 ............................................................................. 6
2.3 治具選配零組件 .............................................................................................. 6
2.4 TR518 SII Switch Board 圖解 ......................................................................... 7
2.5 TR518 SII 電源供應配線圖 ............................................................................. 8
2.6 TR518 SII 系統電源供應配置圖 ...................................................................... 9
3 Analog Test Module (ATM) Board ..................................................................... 10
3.1 功能 .............................................................................................................. 11
3.2 規格 .............................................................................................................. 12
3.2.1 類比測量模組 12
3.2.2 直流電壓源 12
3.2.3 交流電壓源 12
3.2.4 直流電流源 12
3.2.5 直流電壓測量 13
3.2.6 交流電壓測量 13
3.2.7 直流電流測量 13
3.2.8 交流電流測量 13
3.2.9 阻抗測量 14
3.2.10 訊號產生器 14
3.2.11 電阻測量 14
3.2.12 電容測量 14
3.2.13 電容放電 14
3.2.14 針對極性電容的定向測量 14
3.2.15 針對 IC 裝置的定向測量 (not on 2-sided devices with VCC and GND
symmetrical) 14
3.2.16 電感測量 15
3.2.17 兩極體測量 15