镭晨AIS63X Series-SPI产品介绍_210203.pdf - 第12页
测 范 围 单 个 像 素 的 度 值 通过测每个像素范围内的度值，再乘以每个像素 的表积，对测范围内的所有度值进累计加法， 准确地计算体积 相对零平定义原 AIS63X Series-SPI ｜核原
采图直投的光闸成像式(PSLM)，实现对条纹结构光的软件调制及控制
直接形成间隔的条纹结构光，通过软件调制及控制。增强对同精度
要求的适应。需机械部件，减少设备的故障率，降低维修成本
AIS63X Series-SPI｜核原
测
范
围
单
个
像
素
的
度
值
通过测每个像素范围内的度值，再乘以每个像素
的表积，对测范围内的所有度值进累计加法，
准确地计算体积
相对零平定义原
AIS63X Series-SPI｜核原
通过RGB TUNE对锡膏、线、杂物进过滤，有效避免锡膏桥接的
伪判情况
RGB Tune 有源三、2D照明光源
AIS63X Series-SPI｜技术优势