Jutze-AOI编程手册MI3000.pdf - 第44页

（ 6 ） chip 电容的检查项目归纳如下：漏件，偏移，错件（损件），虚焊，少锡；可能需要进行检查的项目：短路，侧立。针对上述项目分别设定检查窗口漏件和偏移可以采用一个算法 Co ntoursFind 达成激活检查窗口列表中需要进行设定的窗口 - -- 选择算法 --- 拖动窗口大小到零件本体大小 --- 设定目标尺寸的几何参数（取窗口，设定块数量和一致性） -- - 再次拖动检查窗口大小（搜寻本体的…

（4）按住 ctrl 点窗口调整零件外形窗口尺寸（下图绿色窗口），激活窗口列

表设定窗口类型 BodySearch，调整窗口大小到零件本体大小记录本体

长宽

（5）为了后续资料库的统一管理和调用，元件类型命名方式需要进行规范化定

义，考虑到资料库的通用性采用(类型+尺寸+P 引脚 V 版本)这样的排序进行

命名。如下图电容为例：C1608（引脚和版本没必要引入则可以取消）

（6） chip 电容的检查项目归纳如下：漏件，偏移，错件（损件），虚焊，少

锡；可能需要进行检查的项目：短路，侧立。针对上述项目分别设定检

查窗口漏件和偏移可以采用一个算法 ContoursFind 达成

激活检查窗口列表中需要进行设定的窗口---选择算法---拖动窗口大小到零件本体大小---设

定目标尺寸的几何参数（取窗口，设定块数量和一致性）---再次拖动检查窗口大小（搜寻本体

的区域）---抽取电容两端电极的亮度和彩度---再次对目标尺寸的几何参数进行设定（取模板）--

-最后设定阀值进行判定（目标尺寸的容许误差：通常建议 10%；X/Y/θ方向的偏移量：按照各

公司制定实际接受的标准进行设定，图中零件为 1608 电容 X 允许偏移的量：

0.8*0.25=0.2mm=200um，Y 偏移量设定为：1.6*0.25=0.4mm=400um，θ设定值为 5-7°；）

ContoursFind 算法可以得到量化值，同时可以将输出值作为向量进行调用；向量包含 X/Y。

错件（损件）是针对零件存在后需要进行的检查项目，对此通过 ContoursFind 算法得到的

向量需要赋予此项目检查（以确保不产生误判），电容错件发生情况统计

（一）：电容错电容就外观来看只能对亮度和颜色差异较大的情形进行检查，

（二）：电容错电阻可以通过亮度或是抽取颜色来进行判定，

（三）：电容错电感基本上和电容错电容情形相同；我们着重以第二种情形为主进行介绍

新增加一个窗口---选择 NG 种类（WrongComp）---调整窗口大小（考虑到元件本身的尺寸

亮度颜色变异；实际设定窗口应比特征位置要小）---选择算法（Scale）---选择需要调用的向

量（Vector3）---抽取窗口内的亮度和彩度（窗口尺寸设定完成后，按住 ctrl+鼠标左键在彩度三

角型内双击；激活算法设定栏，可滚动鼠标滑轮来适当同步调整彩度的设定范围）---设定阀值来

判定结果（OK/NG）

虚焊（少锡）依然是针对零件已经存在后发生的问题，通过下面图示可以轻松设定检查虚焊

放置窗口的位置（一）：放置在红色光源的反射区域；

（二）：放置在蓝色光源的反射区域。实际还要考虑到 pad 尺寸来设定