Jutze AOI 编程手册.pdf - 第36页
（二）：电容错电阻 可以通过亮度或是抽取颜色来进行判定， （三 ） ： 电容错电感 基本上和电容错电容情形相同 ； 我们着重以第二种情形为主进行介绍 新增加一个窗口 --- 选择 NG 种类 （ W rongComp ） --- 调整窗口大小 （ 考虑到元件本身的尺寸 亮度 颜色 变异；实际设定窗口应比特征位置要小） -- - 选择算法（ Scale ） --- 选择需要调用的向 量 （ Vector3 ） --- 抽取窗口内的亮度和彩…
（ 6 ） chip 电容的检查项目归纳如下：漏件，偏移，错件（损件），虚焊，少
锡 ； 可能需要进行检查的项目 ： 短路 ， 侧立 。 针对上述项目分别设定检查
窗口
漏 件和偏 移 可以采用一个算法 ContoursFind 达成
激活检查窗口列表中需要进行设定的窗口 --- 选择算法 --- 拖动窗口大小到零件本体大小 --- 设
定目标尺寸的几何参数 （ 取窗口 ， 设定块数量和一致性 ） --- 再次拖动检查窗口大小 （ 搜寻本体的
区域） --- 抽取电容两端电极的亮度和彩度 --- 再次对目标尺寸的几何参数进行设定（取模板） ---
最后设定阀值进行判定（目标尺寸的容许误差：通常建议 10% ； X/Y/ θ 方向的偏移量：按照各
公司制定实际接受的标准进行设定，图中零件为 1608 电容 X 允许偏移的量：
0.8*0.25=0.2mm=200um ， Y 偏移量设定为： 1.6*0.25=0.4mm=400um ， θ 设定值为 5-7 ° ； ）
ContoursFind 算法可以得到量化值，同时可以将输出值作为向量进行调用；向量包含 X/Y 。
错件 （ 损件 ） 是针对零件存在后需要进行的检查项目 ， 对此通过 ContoursFind 算法得到的
向量需要赋予此项目检查（以确保不产生误判），电容错件发生情况统计
（一）：电容错电容 就外观来看只能对亮度和颜色差异较大的情形进行检查，
（二）：电容错电阻 可以通过亮度或是抽取颜色来进行判定，
（三 ） ： 电容错电感 基本上和电容错电容情形相同 ； 我们着重以第二种情形为主进行介绍
新增加一个窗口 --- 选择 NG 种类 （ WrongComp ） --- 调整窗口大小 （ 考虑到元件本身的尺寸
亮度 颜色 变异；实际设定窗口应比特征位置要小） --- 选择算法（ Scale ） --- 选择需要调用的向
量 （ Vector3 ） --- 抽取窗口内的亮度和彩度 （ 窗口尺寸设定完成后 ， 按住 ctrl+ 鼠标左键在彩度三
角型内双击 ； 激活算法设定栏 ， 可滚动鼠标滑轮来适当同步调整彩度的设定范围 ） --- 设定阀值来
判定结果（ OK/NG ）
虚焊 （ 少锡 ） 依然是针对零件已经存在后发生的问题 ， 通过下面图示可以轻松设定检查虚焊
放置窗口的位置（一）：放置在红色光源的反射区域；
（二）：放置在蓝色光源的反射区域。实际还要考虑到 pad 尺寸来设定
新增加窗口 --- 选择 NG 种类（ In s f s older ） --- 调整窗口大小（依照光源反射理论值来放置窗
口位置进行检查虚焊 ， 窗口依然要调用向量 （ Vector3 ） 上图中需要注意 ： 窗口 X 方向中心要对
称） --- 抽取窗口的亮度和彩度 --- 激活窗口列表中的第二步作 Y 方向的复制
短路 针对 chip 元件出现此种状况主要是由于元件设计的过于密集；通常状况短路
在 chip 元件中不作检测。
新增加窗口 --- 选择 NG 种类 （ Bridge ） --- 调整窗口大小 （ 实际发生短路情形在电极两端 ） ---
选择算法（ Connex ） --- 设定判定阀值（通常上限：６０－７０；下限：０） --- 激活窗口列表中
第四步，作Ｘ方向／Ｙ方向／对角复制。
电容侧立状况发生在Ｗ ≠ Ｔ或是两者差异比较大的情况；
W>2T 或是 T >2W 情况需要设定检查项目
差异大时用 ContoursFind 算法 , 本体误差容许值设定 10% 完全可以查出