镭晨AIS63X Series-SPI产品介绍_210223.pdf - 第10页
全光谱的相位调制轮廓测量技术(PL SMPMP) • 采⽤正弦光栅投影，8Bit的分辨率，将每个相位分为256阶，其检测分辨率可以达到0.37um • 采⽤多次不同相位采样的⽅式，保证检测准确性 • 全光谱⽩⾊光源不受测线路板颜⾊限制 AIS63XSeries - SPI｜核⼼原理 Phase=t an-1[(I4-I2)/(I1-I3)]
AIS63XSeries-SPI｜核⼼原理
相位调制轮廓测量技术
运⽤相位调制轮廓测量技术实现对精密印刷焊锡
膏的三维测量，在保证⾼速测量的同时，⼤幅提
⾼测量精度
相位调制轮廓测量技术(PMP)，⼜称为相移轮廓
术(简称PSP)基于正弦结构光栅投影，离散相移
获取多幅变形光场图像，再根据多步相移法计算
出相位分布，最后通过三⻆测量等⼏何⽅法得到
⾼精度的体积测量结果
全光谱的相位调制轮廓测量技术(PLSMPMP)
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采⽤正弦光栅投影，8Bit的分辨率，将每个相位分为256阶，其检测分辨率可以达到0.37um
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采⽤多次不同相位采样的⽅式，保证检测准确性
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全光谱⽩⾊光源不受测线路板颜⾊限制
AIS63XSeries-SPI｜核⼼原理
Phase=tan-1[(I4-I2)/(I1-I3)]
采⽤图⽚直投的光闸成像⽅式(PSLM)，实现了对条纹结构光的软件调制及控制
直接形成⿊⽩间隔的条纹结构光，通过软件调制及控制。⼤⼤增强了对不同精度
要求的适应⼒。⽆需机械部件，⼤⼤减少了设备的故障⼏率，降低维修成本
AIS63XSeries-SPI｜核⼼原理