TR7500-AOI检测原理说明.pdf - 第6页

第 6 页 共 14 页 2006-09-15 0 1 2 3 4 ◎ 帶有和 Lead V oid Link 的 Lead ，在 Reloca te 成功時會連同 Lead V oid 一起 T rain. ◎ 某些種類的 IC 腳較短 ， 往往在前端發亮帶在爐後有時發生變黑的情形 ， 此時會造 成 Lead 分數不足而連帶 Lead V oid 維持在 Untrain 的狀態， 此類 IC Lead 需要加入 代料影像。 ◎ 有時文…

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Level Check – 勾選表示[Level Difference]功能開啟。
Level difference – 系統會檢測[Missing]框正中央 10x10 畫素區域的灰階平均
值。舉例而言，若標準元件對於灰階值學習的結果為 100，而參數設定為 35，
表示待測元件的檢測結果若大於 135 或小於 65 都會顯示為瑕疵。
Polarity Check – 勾選表示若元件旋轉 180 度會判定為缺陷。
Missing 亦可放在 IC 的文字上檢測 IC 的極反與錯件。文字大約取用 3~4 個字
數較為合適，另由於文字的位置並非檢測的重點，故建議將 X、Y 偏移量的門檻值
放寬（減少文字偏移的誤判），且將相似度設嚴可有較佳的檢測結果。
* Missing 在設定為 Polarity 之前，對於 0°與 180°視為相同的元件。
2、Lead
Lead 的影像比對方法使用標準化相關性比對（方法二），其具有以下判別能力：
影像分數、偏移距離量測、同排相鄰 Lead 的相對位置差量測。
影像擷取：
　 　
用 Lead 檢測 IC 時，擷取 IC 類 Pin 腳的影像若包含一部份本體（黑色區），且周
圍也留一黑邊，會使檢測效果較為穩定。
100
10 < 65
不良
標準
本體黑色區
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◎ 帶有和 Lead Void Link 的 Lead，在 Relocate 成功時會連同 Lead Void 一起 Train.
◎ 某些種類的 IC 腳較短，往往在前端發亮帶在爐後有時發生變黑的情形，此時會造
成 Lead 分數不足而連帶 Lead Void 維持在 Untrain 的狀態，此類 IC Lead 需要加入
代料影像。
◎ 有時文字尺寸過小的影像，使用 Missing 不易解析出輪廓特徵，此時可試以 Lead
代替 Missing 檢查文字。
3. 關於搜尋範圍 Search Range
Missing、Lead、Alignment、Warp 這一類具有定位能力的檢測框可以設定搜尋範圍，
在搜尋範圍內的影像才可以被比對與尋找，由於 Search Range 設定的情況不同，檢測結
果也會有些差異。（虛線部分為搜尋範圍）
1. 以 Missing 與 Lead 來說，元件偏離了容許範圍，在搜尋範圍內的被找到會判偏移，
在搜尋範圍外由於並沒有找到所以判缺件。
缺件 加大搜尋範圍後判為偏移
2. 搜尋範圍過小時會造成檢測框搜尋上的錯誤，造成誤判，請重新設定適當的大小。
搜尋範圍過小
3. 在 Angle Camera 由於板彎存在時容易造成待測影像偏離搜尋範圍，故需要把某些
方向的搜尋範圍加大，原則如下：
※ 1、2 號 Camera：
Y 方向板彎偏移大→
Y 方向搜尋範圍、Y 方向偏移容許值放大
※ 3、4 號 Camera：
X 方向板彎偏移大→
X 方向搜尋範圍、X 方向偏移容許值放大
4. 搜尋範圍可先在 AT PG 的 Tune>Library
中設定，亦可在 Train Dialog 中設定。
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B、灰階像數統計：
二值化處理
在此之前先介紹灰階的二值化處理。
灰階從最暗的黑色（第 0 階）到最亮的白色（第 255 階）共分為 256 階個層次。如
下圖：
今有影像的灰階畫素如下圖分佈：
首先指定一灰階門檻值（Threshold），如 140 ，在此原則下，
大於 140 灰階的畫素都視為白色，小於 140 為黑色。二值化後的情形如下：
二值化後，灰階僅分為黑與白兩類，以下檢測框皆使用此二值化方式判別。
1. Void
Vo i d 主要在計算檢測框內的灰階分佈比例。
上圖灰階點數共 32 畫素（8 x 4），以白色為分子，白點共 9 點，將白色點數除以全
部點數可以得到 Vo i d 的 Bright Ratio。 9 / 32 = 28%
內總畫素
白色畫素
oid
oBrightRati
V
=
Vo i d 預設值為 Check Bright（測亮法），若改為 Check Dark（測暗法），會將測試的
相反結果輸出（例如：Pass → Fail），不論是測亮還是測暗都是以白色畫素量為分子。
255
Gray Level
0
140
Void 框