赫立麟翔系列在线型自动光学检测仪使用手册-Ver3.0-C3069.pdf - 第29页
上海赫立电子 科技有限公司 在线型自动光 学检测仪使用 手册 第 28 页 共 64 页 色抽取 HSV ” ， 并同时进行 适当的 “图 像源” 选择， 以 及适当的算 法参数设 置。 注意 ： 当 PCB 上无专 用 的 Bad Mark 点时， 一般 选 择最 大的 元件 ， 以防止 真正 的缺 件造 成 B ad Mark 起 作用 ， 导致整 个拼板 都未检 测。 2-3-7. SideMark （板 面标识） 检测 库的制 …
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注意：关于“窗口生成”检测算法，对于一些具有几何对称性的元件，例如片式电阻、电容、
电感、IC（包含单边引脚连接器、双边引脚 SOP、四边引脚 QFP）等元件，为了实现快速制
作对称性的检测窗口、减少检测窗口的平铺数量、快速调试对称性检测窗口算法参数等目的，
请尽量使用“窗口生成”检测算法。
2-3-6. Bad Mark（拼板坏板标识）检测库的制作方法、步骤和工作原理
Bad Mark（拼板坏板标识）检测库主要用于自动屏蔽检测受检电路板任一拼板坏板（所谓拼板坏板
是指因板材自身来料不良而造成个别拼板报废，该报废拼板往往不贴装任何元件）。
对于一个检测程序来说，电路板有几块拼版就会有几个 Bad Mark。当 Bad Mark 检测窗口报错时，
则视其所在拼板为坏板，并且自动屏蔽检测该拼板；当 Bad Mark 检测窗口不报错时，则按正常状况检
测其所在拼板。注意：Bad Mark 拼板号必须与所在的拼板对应。
步骤 1）：鼠标左键单击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元
件目录树内的 Bad Mark 点所在目录，在随即出现的右下方目录
属性“类型”下拉列表内选择“Bad Mark”；（参见右图）
步骤 2）：鼠标左键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元件目录树内的 Bad Mark 点所在
目录，“赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”板块点击右侧的“检测库新
建/选择/链接”按钮 ，在随即出现的列表的上方点击“新建检测库”按钮 ，在弹出的“新
建检测库”对话框内输入 BADMARK 点检测库的名称，例如：BADMARK。（参见下图）
步骤 3）：在左上角“元件列表”板块内，鼠标左键单击选择其中任何一个元件（例
如，BADMARK_0），“图像”板块将自动切换至相应的位置；鼠标左键
单击“新建检测窗口”按钮，检测窗口树内出现第一个检测窗口，在左
下方“属性”板块“报错类型”列表选择“通
用”，“算法”列表选择“颜
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色抽取 HSV”，并同时进行适当的“图像源”选择，以及适当的算法参数设置。注意：当 PCB
上无专用的 Bad Mark 点时，一般选择最大的元件，以防止真正的缺件造成 Bad Mark 起作用，
导致整个拼板都未检测。
2-3-7. SideMark（板面标识）检测库的制作方法、步骤和工作原理
SideMark（板面标识）检测库主要用于电路板检测 AB 面自动识别，即放入电路板 A 面将自动调入
A 程序检测，而放入电路板 B 面将自动调入 B 程序检测，无需人工手动调入程序。
要启用 AB 面自动识别功能，必须要依次打开两个检测程序，A 面程序及 B 面程序，A 程序检测到
B 面的图像必须报错，而 B 程序检测到 A 面的图像同样也必须报错。注意： AB 面都报错的话，将会
报标识错误。
步骤 1）：鼠标左键单击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内
的元件目录树内的 Side Mark 点所在目录，在随即出现的
右下方目录属性“类型”下拉列表内选择“Side Mark”；
（参见右图）
步骤 2）：鼠标左键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元件目录树内的 Side Mark 点所
在目录，“赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”板块点击右侧的“检测库
新建/选择/链接”按钮 ，在随即出现的列表的上方点击“新建检测库”按钮 ，在弹出的“新
建检测库”对话框内输入 SIDEMARK 点检测库的名称，例如：SIDEMARK。（参见下图）
步骤 3）：在左上角“元件列表”板块内，鼠标左键单击选择其中任何一个元件
（例如，SIDEMARK_0），“图像”板块将自动切换至相应的位置；鼠
标左键单击“新建检测窗口”按钮，检测窗口树内出现第一个检测窗
口，在左下方“属性”板块“报错类型”列表选择“通用”，“算法”
列表选择“颜色抽取 HSV”，并同时进
行适当的“图像源”选择，以及适当的
算法参数设置，注
意： Side Mark 一
般选择在 AB 面基
板上有较大差异的
地方，例如找一个
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坐标相同，A 面有而 B 面没有的孔。
2-3-8. BarCode（条码）检测库的制作方法、步骤和工作原理（选配功能）
步骤 1）：鼠标左键单击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元
件目录树内的 BarCode（条码）所在目录，在随即出现的右下
方目录属性“类型”下拉列表内选择“条码”；（参见右图）
步骤 2）：鼠标左键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元件目录树内的 Bad Mark 点所在
目录，“赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”板块点击右侧的“检测库新
建/选择/链接”按钮 ，在随即出现的列表的上方点击“新建检测库”按钮 ，在弹出的“新
建检测库”对话框内输入条码检测库的名称，例如：BARCODE。（参见下图）
步骤 3）：在左上角“元件列表”板块内，鼠标左键单击选择其中任何一
个元件（例如，BARCODE_0），“图像”板块将自动切换至
相应的位置；鼠标左键单击“新建检测窗口”按钮，检测窗
口树内出现第一个检测窗口，在左下方“属性”板块“报错
类型”列表选择“通用”，“算法”列表选择“条码识别”，
并同时进行适当的“图像源”选择，以及适当的算法参数设
置，注意：可用多
种不同的光源去观
察，另外请特别留
意条码的元件角度
设定，横向为 0 度
或 180 度，纵向为
90 度或 270 度。
2-3-9. 元件检测库的选择链接和脱离链接
通常情况下，“赫立 AOI 系统软件”已附带了绝大多数常用 SMT（表面贴装）元件的标准检测库，
而且赫立标准检测库的兼容性和移植性非常好。通过直接给待测元件料号/封装形式直接选择链接已有检