赫立麟翔系列在线型自动光学检测仪使用手册-Ver3.0-C3069.pdf - 第30页

上海赫立电子科技有限公司在线型自动光学检测仪使用手册第 29 页共 64 页坐标相同， A 面有而 B 面没有的孔。 2-3-8. BarCode （条码）检测库的制作方法、步骤和工作原理（选配功能）步骤 1 ）：鼠标左键单击 “赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元件目录树内的 BarCode （条码）所在目录，在随即出现的右下方目录属性“ 类型”下拉列表内选择 “…

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色抽取 HSV”，并同时进行适当的“图像源”选择，以及适当的算法参数设置。注意：当 PCB

上无专用的 Bad Mark 点时，一般选择最大的元件，以防止真正的缺件造成 Bad Mark 起作用，

导致整个拼板都未检测。

2-3-7. SideMark（板面标识）检测库的制作方法、步骤和工作原理

SideMark（板面标识）检测库主要用于电路板检测 AB 面自动识别，即放入电路板 A 面将自动调入

A 程序检测，而放入电路板 B 面将自动调入 B 程序检测，无需人工手动调入程序。

要启用 AB 面自动识别功能，必须要依次打开两个检测程序，A 面程序及 B 面程序，A 程序检测到

B 面的图像必须报错，而 B 程序检测到 A 面的图像同样也必须报错。注意： AB 面都报错的话，将会

报标识错误。

步骤 1）：鼠标左键单击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内

的元件目录树内的 Side Mark 点所在目录，在随即出现的

右下方目录属性“类型”下拉列表内选择“Side Mark”；

（参见右图）

步骤 2）：鼠标左键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元件目录树内的 Side Mark 点所

在目录，“赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”板块点击右侧的“检测库

新建/选择/链接”按钮，在随即出现的列表的上方点击“新建检测库”按钮，在弹出的“新

建检测库”对话框内输入 SIDEMARK 点检测库的名称，例如：SIDEMARK。（参见下图）

步骤 3）：在左上角“元件列表”板块内，鼠标左键单击选择其中任何一个元件

（例如，SIDEMARK_0），“图像”板块将自动切换至相应的位置；鼠

标左键单击“新建检测窗口”按钮，检测窗口树内出现第一个检测窗

口，在左下方“属性”板块“报错类型”列表选择“通用”，“算法”

列表选择“颜色抽取 HSV”，并同时进

行适当的“图像源”选择，以及适当的

算法参数设置，注

意： Side Mark 一

般选择在 AB 面基

板上有较大差异的

地方，例如找一个

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坐标相同，A 面有而 B 面没有的孔。

2-3-8. BarCode（条码）检测库的制作方法、步骤和工作原理（选配功能）

步骤 1）：鼠标左键单击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元

件目录树内的 BarCode（条码）所在目录，在随即出现的右下

方目录属性“类型”下拉列表内选择“条码”；（参见右图）

步骤 2）：鼠标左键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元件目录树内的 Bad Mark 点所在

目录，“赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”板块点击右侧的“检测库新

建/选择/链接”按钮，在随即出现的列表的上方点击“新建检测库”按钮，在弹出的“新

建检测库”对话框内输入条码检测库的名称，例如：BARCODE。（参见下图）

步骤 3）：在左上角“元件列表”板块内，鼠标左键单击选择其中任何一

个元件（例如，BARCODE_0），“图像”板块将自动切换至

相应的位置；鼠标左键单击“新建检测窗口”按钮，检测窗

口树内出现第一个检测窗口，在左下方“属性”板块“报错

类型”列表选择“通用”，“算法”列表选择“条码识别”，

并同时进行适当的“图像源”选择，以及适当的算法参数设

置，注意：可用多

种不同的光源去观

察，另外请特别留

意条码的元件角度

设定，横向为 0 度

或 180 度，纵向为

90 度或 270 度。

2-3-9. 元件检测库的选择链接和脱离链接

通常情况下，“赫立 AOI 系统软件”已附带了绝大多数常用 SMT（表面贴装）元件的标准检测库，

而且赫立标准检测库的兼容性和移植性非常好。通过直接给待测元件料号/封装形式直接选择链接已有检

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测库，可缩短检测程序的制作时间。实际使用过程中，通过检测库的后期不断积累，可逐步缩短后续检

测程序制作的时间。

鼠标左键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧元件目录树内需要匹配选择/检测库的元件所在目录（例

如，1005R 目录），“赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”板块点击右侧的

“检测库新建/选择/链接”按钮，在随即出现的检测库列表内，鼠标左键双击目标检测库，则完成了

元件检测库的选择和链接，检测窗口列表内自动罗列该检测库所包含的所有检测窗口。

通过鼠标左键单击按钮，可将元件目录（料号/封装形式）与当前检测库进行脱离链接。

2-3-10. 检测库制作常用工具及元件批量操作

“赫立 AOI 系统软件” 配备了图形化操作工具，以辅

助用户进行快速程序制作，以及快速进行元件批量操作。在

“导航”模式以及“检测库设计器”模式下，用户都可以通

过鼠标右键“框选”一片区域（按住鼠标右键，拖划一片区

域后松开鼠标，即可实现框选），以实现检测库缩略图的获

取和存储，以及批量操作选中区域内的元件（设置拼板、启

用元件、禁用元件、删除元件、标示、清除标示等）。同

样，也可以通过在“导航”板块，展开右侧元件目录树后，

鼠标多选元件以实现元件批量操作的目的。

2-3-11. 全板匹配功能的使用方法和步骤

首先，“启动自动运行模式”（具体方法参看第三章. 电路板检测操作方法），在“缺陷警报信息确认

对话框”内点击下方的“模板采样”按钮，可将一块合格的 PCB 板图像自动存储为标准模板图像，按

照此方法采集一定数量的标准模板图像后（注意：切记不能将有异物或板材瑕疵的 PCB 基板图像存储

为标准模板），即可开始启用全板匹配功能（请鼠标单击自动运行界面“文件”主菜单项下的“选项”

子菜单内并勾选全板匹配“启用”复选框），即可开始全板匹配以辅助检测任意位置的多件和锡珠等。

2-4.

拼板复制的操作方法和步骤

有些情况下，一块 PCB 上会包含多块拼板。在这种情况下，可通过鼠标左键单击“赫立 AOI 系统

软件”“编辑”主菜单项下的“拼板管理”子菜单项，在弹出的“拼板管理”对话框中输入行数和列数，

以及相应的行列间隔数值。

注意：水平方向为列，向左复制拼板则列间隔数值为正数，向

右复制拼板则列间隔数值为负数；垂直方向为行，向上复制拼板则

行间隔数值为正数，向下复制拼板则行间隔数值为负数。

如右图所示：

注意：当完成上述所有工作后，检测程序已基本制作完毕。需要拿一些待测 PCB 通过检测来调整

检测库的兼容性及稳定性，即根据实际情况对相关检测算法的参数进行合理的设定和调试，直至检测程

序的缺陷检出率和误报率达到了期望的平衡点时，整个检测程序才算真正完成了。