赫立麟翔系列在线型自动光学检测仪使用手册-Ver3.0-C3069.pdf - 第62页

上海赫立电子科技有限公司在线型自动光学检测仪使用手册第 61 页共 64 页 b) 极反检测方法之亮度偏差在 T op （ RGB ） Dark 图像模式下： IC 元件极性标识亮度明显区别于周边像素的亮度数值，且清晰可见，以当前检测窗口为例， IC 未极反时，当前检测窗口内的亮度偏差百分比结果数值相对较大；而当 IC 贴片极反时，当前检测窗口内的亮度分布…

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c) 错件检测方法之符号匹配

在 Side（RGB）真彩色图像模式下：IC 等元件本体上有丝印/激光字符，未错贴成其它元件时，当前检

测窗口位置字符图形相似度百分比结果数值较高；而当元件错贴成其它元件时，当前检测窗口位置字符

图形发生变化，相似度百分比结果数值非常小。

5-4-7. 极反

a) 极反检测方法之极性检测

在 Side（RGB）真彩色图像模式下：二极管元件极性标识在极性检测算法下，更加突出且清晰可见，以

当前检测窗口为例，二极管未极反时，极性结果数值显示为 N；而当二极管贴片极反时，极性结果数值

则为 P。

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b) 极反检测方法之亮度偏差

在 Top（RGB）Dark 图像模式下：IC 元件极性标识亮度明显区别于周边像素的亮度数值，且清晰可见，

以当前检测窗口为例，IC 未极反时，当前检测窗口内的亮度偏差百分比结果数值相对较大；而当 IC 贴

片极反时，当前检测窗口内的亮度分布将非常均匀，亮度偏差百分比结果数值相对较小。

c) 极反检测方法之符号匹配

在 Side（RGB）真彩色图像模式下：IC 等元件本体上有丝印/激光字符，未贴片极反时，当前检测窗口

位置字符图形相似度百分比结果数值较高；而当元件贴片极反时，当前检测窗口位置字符图形发生变化，

相似度百分比结果数值非常小。

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5-4-8. 缺锡

a) 缺锡检测方法之亮度抽取（暗部抽取）

在 Top（RGB）同轴落射照明图像模式下：由于良好的焊锡会依附电阻/电容等片式元件的电极端面以及

IC 等元件的引脚端面形成自然的斜坡，焊锡为斜坡状，焊锡区域亮度数值呈现为非常暗，焊盘相对平坦

则呈现为非常亮。焊锡状况良好时，当前检测窗口亮度抽取亮度很暗的像素数占窗口内像素总数的百分

比结果数值相对较大，暨焊锡量较足；而当焊锡较少时，当前检测窗口亮度抽取亮度很暗的像素数占窗

口内像素总数的百分比结果数值相对很小。