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11 半⽔基清洗剂、设备和⼯艺优化 本章节 阐 述了电气 / 电子组件、 配 件及 应 用工 具 在 焊接 后 的 半水基 清洗。 半水基 清洗 是 通 过 先 用有 机 溶剂 洗 涤 组件,然 后 用 水冲 洗组件上的有 机溶剂 , 从 而清 除 掉 印制线路组件上的 助焊剂残留物 及其 它 污染 物 的一个 过 程。 I 型使 用 非水溶 性有 机溶剂 ,而 II 型采 用 水溶 性有 机溶剂 。 I 型 的 特 征 是 洗 涤 和…

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之外规定明污必须流进水处理系统,其排放清洁法案402
章节或者307b)章节的限制。
10.11.4.3 资源保护和复法 RCRA可能会使一个公司或者个人陷入
事或者犯罪法规规定犯罪金高每天$25000之外法规列了
任何人故意任何认定是
到工惩罚措施物处理
可,或者有得到可而任何或者故意背一物质;或者
在任何合,对标、单、记录可证或者它维护或者使用的存档文件错误的陈述
或者记录;或者变或者记录
10.11.4.4 资源保护和回收溶剂系统的影响
资源保护收法主要影印制线路板的溶剂清洗
系统。二甲烷U-080)和不再生产的三乙烷业化学品类别里40 CFR 261.33)都列为有
被排放或者的时,列出的物质成有垃圾
情况下,列出的有物质有在溢漏用,未被用的溶剂不能
来一效益
业化学列表,汽相清洗和其清洗系统中的废卤溶剂列为有要,通
化和再利用可减少去助焊剂系统产生溶剂量。许多情况下,系统保留
以送到一个溶剂或者运到一个的有害物质特定
料源。
10.11.5 -概述 工业许多人都超级
或者环保补偿法案
特定溶剂来付特定的有物处理场超级环境排放
报告
环保补偿法案中,什么必须向环保局中心报告排放
量。国允许排放物质排放列在40 CFR 302.4物质要对超级
提出
。其的要求超级授权法案S311312313有相应规定。国家报告
的要求有不释放值,可能的用核证。
量和释放过报告连续性,在量和性的释放
要其报告
环保补偿法案报告
使起释放量和性。有在释放数据大的时要在允许时提
交报告
10.11.6 物质物释放报告 10或者全职人员的电子制
使10000的有40 CFR 372.65清单上的化学物质必须
家环保局方环境局
一份有化学物质释放清单。个清单报告这些化学物质物质排放部运情况(包
报告治污染和收数据报告需年的71前提
业中用到的化学乙烷、四和三乙烯
10.11.7 影响法规许多贸易会,IPC溶剂产
都在为系统完善法规
力。为电分类修正清洁水法案一个子。IPC参与到EPA环保设计目中
另外一个政府法者来节业资减少环境污染的子。关目的更多信息,
http://www.epa.gov/dfe
10.11.8 适⽤性 这些法规适用用在国及其范围波多各,,关)的
手册中包含的法规信息出版起即被的。此手册中出现的程
、州或者方法律的任何。任何一个使这些产品的用使
前了相关的法律例或者规章制
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11 半⽔基清洗剂、设备和⼯艺优化
本章节述了电气/电子组件、件及用工焊接半水基清洗。半水基清洗用有
溶剂组件,然水冲洗组件上的有机溶剂而清印制线路组件上的助焊剂残留物及其
污染的一个程。I型使非水溶性有机溶剂,而II型采水溶性有机溶剂I
第一步冲上会乳液形态,而II型系统有。半水基艺具体的不包用有机水基溶液或
者无机剂或者涤剂的清洗
这些都包含在水基清洗工章。)其的目标使程中
残留产品料的材料,水溶
件和用工使用相清洗或者程中用不乳液
11.1 ⽬的 目的一个半水基清洗程的工便潜在用以更好地技术,
丰富的用操作它们的半水基清洗程
。本文件到包含了印制线路组装的
操作。其用来半水基清洗的所有面:包清洗设、清洗洗和制。
手册述了两种型号半水基清洗。第一使非水溶性有机溶剂组成I第二
使水溶性有机溶剂组成II。在洗涤阶段之后都要用纯净水冲洗印制线路组件,干燥
手册包含了清洗的成化性物处理和兼容性相关信息。
11.1.1 术语和定义
半⽔基清洗 半水基
清洗用有机溶剂组件,然水冲洗组件上的有机溶剂而清
印制线路组件上的助焊剂残留物及其污染的一个程。I型使非水溶性有机溶剂,而II
水溶性有机溶剂I和第一步冲上会乳液形态,而II型系统有。
半水基艺具体的不包用有机水基溶液或者无机剂或者涤剂的清洗这些都包含在水基
清洗工章。)其的目标使程中的残留
产品料的材料,水溶
BOD 需氧量,在一测试件下有材料生物化学降解量。
碳吸附 吸附中的污染液体或者中杂的一技术。
COD 化学需氧量,材料化为二气量,测试溶液中含有
表示,单位为mg/L
可燃物 个术适用闭口点介于
38° C[100° F]至93.3° C[200° F]液体材料。
倾析 在不影方液体情况液体材料与其不相分离程。
带离液 在组件或者上的液体清洗被从清洗的一段带,并进入
作场所的气中。
乳液 两种或者两种以上的不液体如油,在清洗程下使性和一
性。
破坏臭氧的化学能和起反破坏的化学
⽔质软化 种从水处理
挥发性有机化合物(VOC 化合,有可量的
11.2 半⽔基清洗剂
11.2.1 半⽔基概述 半水基清洗用有机溶剂组件,然水冲洗组件上的有机溶剂
而清线路组件上的助焊剂残留物及其污染的一个程。I型使非水溶性有机溶剂
II型采水溶性有机溶剂I
和第一步冲上会乳液形态,而II型系统
有。半水基艺具体的不包用有机水基溶液或者无机剂或者涤剂的清洗这些都包含在
清洗工章。)其的目标使程中的残留产品料的材料,水溶
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半水基清洗技术来清洗电子组件时,目的是溶组件或者元器件表面上的涤步骤
成,部件通列的之后除溶剂已溶时的可阻焊膜非离子性
的和一,和水基子)残留之后干燥部件,通污染平要达到不可
的程
半水基清洗选择广用有机水溶化学
各不相。大数是由低
溶剂和表面组合而成,可能添加半水基清洗剂是用来去极性(有
)和非极性污染变剂。洗清洗寿命个月到一年,取决
高等级污染性和趋势
半水基溶剂清洗效率大限使取决于溶剂
。一个
是保使17° C[30° F]生溶剂变必须认识溶剂
下限和上限。
半水基清洗设计与用电子组件的数元器件有良好的兼容性。并能提良好
的清洗替半水基清洗助焊剂很好的清洗能力,使是它们含有高浓焊剂残留。一
些常问题溶剂残留
、标化、印章、的兼容性,发和带引
消耗细留意设计和清洗选择,能大限地减少这些问题
明大数半水基清洗剂是发性的有化合。清洗设备应半水基清洗和相
的清洗程而设计。
11.2.2 半⽔基的学性 电子组件的半水基清洗剂是设计用于溶助焊剂残留性和
性的溶质。设计的剂是溶剂能性添加
能性添加剂是用来整特定
范围、、和性能的。在较高的洗下,助焊剂残留能量通会有所提
的清洗示的性有,能解广的松清洗的助焊剂残留,与构造电子元器
材料的兼容性,之后容易洗)
半水基清洗剂基于分子力及间作用力的设计,使清洗污染。与清洗匹配
焊剂残留
示出性、。一性清洗剂溶助焊剂污染
,而非极性清洗剂溶非极性的助焊剂污染物最性有是离子,用
大的制的半水基清洗清洗会半水基清洗中的部分正吸引
于助焊剂离残留中的。相
助焊剂分间的化学
半水基清洗对性无极树
溶”原理是引导设计去理半水基清洗剂分助焊剂残留用力。
于半水基清洗中的溶剂型材料可溶于水,有分溶于水或者溶于水
会影响溶剂中的
性,是因溶剂合。性,所有
能量的和来溶剂溶或者溶于水时,合能量,在情况下,其
构是大的。据助焊剂残留物特点,成反比溶于水溶剂具性。水是冲
,用于半水基清洗中的溶剂是性的,吸引水分吸引非极助焊剂
11.2.3 半⽔基清洗剂 高锡无铅化和微型化对助焊剂的性能提出了更高的要求。于水基清洗
溶剂半水基清洗求有所下。然而,型助焊剂的设计用
性、阻燃性、化性能力,水基清洗
除这些助焊剂残留物变越困难此,现出对半水基清洗求有所,用来
匹配这些助焊剂
半水基清洗剂选低蒸的材料和子量的化合制成。这些溶剂特允许
材料,并情况下工38-71° C[100-160° F]半水基清洗下:
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