IPC-2221A-2003中文版-印制板设计通用标准.pdf - 第3页

前⾔ 本 标准是为有 机刚 性印制 板 设计提供 详细 的 资 料。这 里详细描述 了设计要求的所有 方 面和 细节 、 使其成为以 下 设计的 唯 一规范、 刚 性有 机 (增 强 )材料或有 机 材料 结 合无 机 材料( 金属 、 玻璃 、 陶 瓷等 )为 电子 、 机电 和 机械元 件的 安装 和 互连 提供所需的 结构 。 本 文 中 的 资 料是IPC-2221 中 技术 总 则和 确 定的设计规范的 补充 。 当与技术设计…

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IPC-2221A
印制版设计通⽤标准
由IPC性有印制委员会(D-30)的IPC-2221任务
(D-31b)开发
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ASSOCIATION CONNECTING
ELECTRONICS INDUSTRIES
®
前⾔
标准是为有机刚性印制设计提供详细料。这里详细描述了设计要求的所有面和细节
使其成为以设计的一规范、性有(增)材料或有材料合无材料(金属玻璃
瓷等)为电子机电机械元件的安装互连提供所需的结构
料是IPC-2221技术则和定的设计规范的补充 当与技术设计输入联系在一
时、所有公部分应利于材料的适当选择过详细刚性有机结构制造技术需求以满足技术设计
的。
印制板元安装互连技术的选择文件提供的要求和体的专题符。
IPC文件制的方针对特定的电子封装项目方面提供体的文件。在这面、对特定电子封
装项目采用文件系列方式以提供全部有关料。用数为0的个数字识别一个文件系
规范包含通用料、它收集一个文件内、 并用四位 通用标准由一个
个分标准作补充个分标准提供选定的专题或技术的一个面的专。印制设计者
至少需要通用设计标准、所选技术的分标准、通用工程总则以及成品的工要求。
开始设计之前未能取得全部可利用料、 致产品生产困难过印制板预期的或希望
由于技术的化、专标准将进行修订、或者在系文件增加新的专标准。IPC欢迎有关文
件有面的意见、并鼓励
使用者通过填写每个文件末尾改进建议进行反馈。
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鸣谢
包含复杂技术的标准都要有大量的资料来源。虽 然下面列出了刚性印制板委员会(D-30)的
IPC-2221 任务组(D-31b)的主要成员,但不可能囊括所有那些曾经帮助过本标准开发的人士。仅
在此表达对他们诚挚的感谢。
刚性印制板委员会 IPC-2221 任务组(D-31b) IPC理事会的技术连络
主席
C. Don Dupriest
Lockheed Martin Missiles
and Fire Control
主席
Lionel Fullwood
WKK Distribution Ltd.
Nilesh S. Naik
Eagle Circuits Inc.
IPC-2221 任务组(D-31b)
Lance A. Auer, Tyco Printed
Circuit Group
Stephen Bakke, C.I.D.,
Alliant Techsystems Inc.
Frank Belisle, Hamilton
Sundstrand
Mark Bentlage, IBM
Corporation
Robert J. Black, Northrop
Grumman Corporation
Gerald Leslie Bogert,
Bechtel Plant Machinery,
Inc.
John L. Bourque, C.I.D.,
Shure Inc.
Scott A. Bowles, Sovereign
Circuits Inc.
Ronald J. Brock, NSWC -
Crane
Mark Buechner
Lewis Burnett, Honeywell
Inc.
Byron Case, L-3
Communications
Ignatius Chong, Celestica
International Inc.
Christine R. Coapman,
Delphi Delco Electronics
Systems
Christopher Conklin,
Lockheed Martin
Corporation
David J. Corbett, Defense
Supply Center Columbus
Brian Crowley, Hewlett-
Packard Company
William C. Dieffenbacher,
BAE Systems Controls
Gerhard Diehl, Alcatel
SEL AG
C. Don Dupriest, Lockheed
Martin Missiles and Fire
Control
John Dusl, Lockheed Martin
Theodore Edwards, Dynaco
Corp.
Werner Engelmaier,
Engelmaier Associates,
L.C.
Gary M. Ferrari, C.I.D.+,
Ferrari Technical Services
George Franck, C.I.D.+,
Raytheon E-Systems
Mahendra S. Gandhi,
Northrop Grumman
Hue T. Green, Lockheed
Martin Space and Strategic
Missiles
Ken Greene, Siemens Energy
& Automation
Michael R. Green, Lockheed
Martin Space and Strategic
Missiles
Dr. Samy Hanna, AT&S Austria
Technologie & System
Richard P. Hartley, C.I.D.,
Hartley Enterprises
William Hazen, Raytheon
Company
Phillip E. Hinton, Hinton
‘PWB’Engineering
Michael Jouppi, Thermal
Man, Inc.
Thomas E. Kemp Rockwell
Collins
Frank N. Kimmey, C.I.D.+,
PowerWave Technologies,
Inc.
Narinder Kumar, C.I.D.,
Solectron Invotronics
Clifford H. Lamson, C.I.D.+,
Plexus Technology Group
Roger H. Landolt, Cookson
Electronics
Michael G. Luke, C.I.D.,
Raytheon Company
Wesley R. Malewicz, Siemens
Medical Systems Inc.
Kenneth Manning, Raytheon
Company
Susan S. Mansilla, Robisan
Laboratory Inc.
Rene R. Martinez, Northrop
Grumman
Brian C. McCrory, Delsen
Testing Laboratories
Randy McNutt, Northrop
Grumman
John H. Morton, C.I.D.,
Lockheed Martin
Corporation
Bob Neves, Microtek
Laboratories
2003年5月 IPC-2221A
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