積體電路邏輯測試機設計概述.pdf - 第9页
9 Report 上方一小塊記錄 。 以批來講不便的資料 ， 其它幾千行即為隨機變化 的測試資料 ( 測試後記錄的參數 ) ，如此規劃，隨即得到成功的蒐集及儲存 模式， 爾後再不同的版本上都有略加擴充參數的規模，記錄的模式不 變記 錄的內容可以一直增加 ， 但基本 B ig T ext 的模式不變 ， 如此反應擴充幾次 的 ， 得到 Big T ext File 已大大的超出原先規劃 ， 這些原始的資料可以包括 Category Rep…
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(五)測試資料的即時蒐集和儲存
User Behavior，Big data 的第一步是資料蒐集和儲存。
資料蒐集的硬體解決了，接下來的便是軟體的問題，首先碰到的事資料格
式問題，
格式問題會影響到資料儲存的問題，這是牽一髮動全身的問題。
透過 Data Linker 的方式，和測試機的硬體設計，當取得資料不是問題，
所有參數巨量湧現，我們最初想到的是用 SQL 資料庫的結構來儲存資料，
但隨之發現 SQL 有其先天性限制，資料庫天生是結構化的組織，每一行
有幾欄，每一欄的格式(int ,unsigned int ,float,char,….)都是必需固定，每
一欄有幾個字元也必須固定。資料庫一塊一塊，非常僵化，這些資料庫應
有的特性反而是一種限制， 曾經實驗最大的問題在於沒法滿足資料內容
的多變性(Variety)。
IC 測試機的待測物，是永遠不相同的，所測的參數可能只有 5 個也有可能
是 50 個，甚至更多，每個參數所需的精密度不一，甚至有的要帶 Rom Code
長度很長，資料庫怎麼都難滿足這些多元的需求，最後決定改用 Big Text
的方式來記錄，
再以一批晶片的可變與不可變的參數為依據，半結構化的模式規化採文字
檔的記錄方式，記錄的資料可分下列三種類型:
1. 晶片測試批量生產基本資料。
2. 晶片測試動態基本資料。
3. 收集 IC 測試參數資料。
如下說明， 例如要測試一片其基本的型號批號，軟體版本晶元工廠，Probe
Card 編號…，以批來講為其不變的資料，另一隨著 IC 測試而變的資料如
測試順序 XY 座標，測試的時間所耗測試時間及 USER 自己設定的傳回參
數，這些是參數資料正常狀況是相近而不相同的測試資料， Category
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Report 上方一小塊記錄。以批來講不便的資料，其它幾千行即為隨機變化
的測試資料(測試後記錄的參數)，如此規劃，隨即得到成功的蒐集及儲存
模式，爾後再不同的版本上都有略加擴充參數的規模，記錄的模式不變記
錄的內容可以一直增加，但基本 Big Text 的模式不變，如此反應擴充幾次
的，得到 Big Text File 已大大的超出原先規劃，這些原始的資料可以包括
Category Report、Summary Report，及測試機的行為和製作程序。
蒐集來的測試原始資料 Big Text File 多元龐大，隨著工廠晶片測試的進行
資料不斷的累積，其基本正可滿足 Big Data 蒐集資料特徵的三個特徵
3V, (Volume ,Variety ,Velocity )
這裡要說明的是，我們所蒐集的資料無論參數或其他的數值，都是可以用
文字模式來描述，沒有牽涉到其它的格式如 jpg ，mpg4， bmp， Flv ，
PDF，…，因此儲存相對就變得比較容易多了，對文字檔的規劃確定，以
一片晶片為一個文字檔的方式進行儲存，以批號為一個 dir，以型號為上
一個 dir，以客戶為再上一個 dir，以 Tester_ID. 為再上一個 dir….
Example
C:\Tester_ID>Custom_name>Custom_type_no>Custom_Lot>Custom_Lot
+Wafer_no
這般的儲存規劃主要是易於爾後的搜尋，以及做資料分析時所使用。
如下說明 Original Text File 的記錄內容
Big data collection ( IC Testing Big text / Category Report )
IC Testing 巨量資料即時蒐集 Big data 的第一步廣泛的資料收集類別
1. 晶片測試批量生產基本資料
CUSTOM_NAME,
CUSTOM_Lot_No,
CUSTOM_Type_No,
Tester ID,
INTERNAL_LOT_NO,
TEST_SETUP_DATE:;2014/03/25 21:05:14
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Program Name:;XT1136-CP1
WAFER_NO:;1
TEST_PRORRAM_RELEASE DATE:;2014/03/25 13:20
TEST_START_TIME:;2014/03/25 21:05:14
TEST_End_TIME:;2014/03/25 22:23:17
OPERATOR_ID:;89040
SOFTWARE_MODE:;ENGINEERING
LAST_BUILD:;Last Build: 2014/03/05 16:22
Timing_Resolution:;2.00ns
TP_File_Path:;P:\Nick\XT1136\CP\CP3_AP065T\XT1136.TP
%Probe Card information ‘
Procard_ID:;
Procard_Device_Name:;
Procard_Custom_Name:;
Procard_Manufacture_Date:; Procard_Setup_Date:;
Procard_Expire_Date:;
Procard_Current/PM_Counter:;0/0
Procard_History_Counter:;
2. 晶片測試動態基本資料
Index :;
dut No :;
BIN No:;
X..Y coordinate ;;
Test start time :;
tested time;:
retest mark;;
Probe working status; up/down;
Stop Time ; Pause Time ……
3. 蒐集 IC 測試參數資料
Each Test Voltage;
Each Test Current,
Each Test Frequency,
Each Test Timing,
Each Test pattern Fail/Pass & Waveform Analysis;
Read back Rom Code;
Write Rom Code;
BIN No; remark;
4. 收集來的資料, 後送幾乎採 Big Text 的模式高速傳回到系統.滿足了