Holly操作手冊-Ver3.0-C3099.pdf - 第29页
上海 赫 立 电 子 科 技 有 限 公司 在 线 型 自 动 光 学 检 测 仪 使 用 手册 第 2 8 页 共 6 4 页 2 - 3 - 7 . S i d e M a rk （ 板 面 标 识 ）检测 库 的 制 作 方 法、 步骤 和 工 作 原理 Si deM a rk （ 板 面 标识 ） 检测 库 主 要 用于 电路 板 检测 AB 面 自动 识 别 ， 即 放 入 电路 板 A 面 将 自动 调 入 A 程 序 检测…
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注意：关于“窗口生成”检测算法，对于一些具有几何对称性的元件，例如片式电阻、电容、
电感、IC（包含单边引脚连接器、双边引脚 SOP、四边引脚 QFP）等元件，为了实现快速制
作对称性的检测窗口、减少检测窗口的平铺数量、快速调试对称性检测窗口算法参数等目的，
请尽量使用“窗口生成”检测算法。
2-3-6. Bad Mark（拼板坏板标识）检测库的制作方法、步骤和工作原理
Bad Mark（拼板坏板标识）检测库主要用于自动屏蔽检测受检电路板任一拼板坏板（所谓拼板坏板
是指因板材自身来料不良而造成个别拼板报废，该报废拼板往往不贴装任何元件）。
对于一个检测程序来说，电路板有几块拼版就会有几个 Bad Mark。当 Bad Mark 检测窗口报错时，
则视其所在拼板为坏板，并且自动屏蔽检测该拼板；当 Bad Mark 检测窗口不报错时，则按正常状况检
测其所在拼板。注意：Bad Mark 拼板号必须与所在的拼板对应。
步骤 1）： 鼠 标 左 键 单 击 “ 赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元
件目录树内的 Bad Mark 点所在目录，在 随 即 出 现 的 右 下 方 目 录
属 性 “ 类 型 ” 下 拉 列 表 内 选择“Bad Mark”；（参见右图）
步骤 2）： 鼠 标 左 键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元件目录树内的 Bad Mark 点所在
目录，“赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”板块点击右侧的“检测库新
建/选择/链接”按钮 ，在随即出现的列表的上方点击“新建检测库”按钮 ，在弹出的“新
建检测库”对话框内输入 BADMARK 点检测库的名称，例如：BADMARK。（参见下图）
步骤 3）： 在 左 上 角“ 元件列表”板块内，鼠标左键单击选择其中任何一个元件（例
如，BADMARK_0），“ 图像”板块将自动切换至相应的位置；鼠标左键
单击“新建检测窗口”按钮，检测窗口树内出现第一个检测窗口，在左
下方“属性”板块“报错类型”列表选择“通用”，“算法”列表选择“颜
色抽取 HSV”，并同时进行适当的“图像源”选择，以及适当的算法参
数设置。注意：当 PCB 上无专用的 Bad Mark
点时，一般选择最大的元件，
以防止真正的缺件造成 Bad
Mark 起作用，导 致整个拼板
都未检测。
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2-3-7. SideMark（板面标识）检测库的制作方法、步骤和工作原理
SideMark（板面标识）检测库主要用于电路板检测 AB 面自动识别，即放入电路板 A 面将自动调入
A 程序检测，而放入电路板 B 面将自动调入 B 程序检测，无需人工手动调入程序。
要启用 AB 面自动识别功能，必须要依次打开两个检测程序，A 面程序及 B 面程序，A 程序检测到
B 面的图像必须报错，而 B 程序检测到 A 面的图像同样也必须报错。注意： AB 面都报错的话，将会
报标识错误。
步骤 1）： 鼠 标 左 键 单 击 “ 赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内
的元件目录树内的 Side Mark 点所在目录，在随即出现的
右下方目录属性“类型”下拉列表内选择“Side Mark”；
（参见右图）
步骤 2）： 鼠 标 左 键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元件目录树内的 Side Mark 点所
在目录，“赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”板块点击右侧的“检测库
新建/选择/链接”按钮 ，在随即 出现 的列表的上方点击“新建检测库”按钮 ，在弹出的“新
建检测库”对话框内输入 SIDEMARK 点检测库的名称，例如：SIDEMARK。（参见下图）
步骤 3）： 在 左 上 角“元件列表”板块内，鼠标左键单击选择其中任何一个元件
（例如，SIDEMARK_0），“ 图像”板块将自动切换至相应的位置；鼠
标左键单击“新建检测窗口”按钮，检测窗口树内出现第一个检测窗
口，在左下方“属性”板块“报错类型”列表选择“通用”，“算法”
列表选择“颜色抽取 HSV”，并同时进
行适当的“图像源”选择，以及适当的
算法参数设置，注
意：Side Mark 一
般选择在 AB 面基
板上有较大差异的
地方，例如找一个
坐标相同，A 面有
而 B 面没有的孔。
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2-3-8. BarCode（条码）检测库的制作方法、步骤和工作原理（选配功能）
步骤 1）： 鼠 标 左 键 单 击 “ 赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元
件目录树内的 BarCode（条码）所在目录，在随即出现的右下
方目录属性“类型”下拉列表内选择“条码”；（参见右图）
步骤 2）： 鼠 标 左 键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元件目录树内的 Bad Mark 点所在
目录，“赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”板块点击右侧的“检测库新
建/选择/链接”按钮 ，在随即出现的列表的上方点击“新建检测库”按钮 ，在弹出的“新
建检测库”对话框内输入条码检测库的名称，例如：BARCODE。（参见下图）
步骤 3）： 在 左 上 角“元件列表”板块内，鼠标左键单击选择其中任何一
个元件（例如，BARCODE_0），“ 图像”板块将自动切换至
相应的位置；鼠标左键单击“新建检测窗口”按钮，检测窗
口树内出现第一个检测窗口，在左下方“属性”板块“报错
类型”列表选择“通用”，“算法”列表选择“条码识别”，
并同时进行适当的“图像源”选择，以及适当的算法参数设
置，注意：可用多
种不同的光源去观
察，另外请特别留
意条码的元件角度
设定，横向为 0 度
或 180 度，纵向为
90 度或 270 度。
2-3-9. 元件检测库的选择链接和脱离链接
通常情况下，“赫立 AOI 系统软件”已附带了绝大多数常用 SMT（表面贴装）元件的标准检测库，
而且赫立标准检测库的兼容性和移植性非常好。通过直接给待测元件料号/封装形式直接选择链接已有检
测库，可缩短检测程序的制作时间。实际使用过程中，通过检测库的后期不断积累，可逐步缩短后续检
测程序制作的时间。
鼠标左键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧元件目录树内需要匹配选择/检测库的元件所在目录（例
如，1005R 目录），“ 赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”板块点击右侧的