Holly操作手冊-Ver3.0-C3099.pdf - 第30页

上海 赫 立 电 子 科 技 有 限 公司 在 线 型 自 动 光 学 检 测 仪 使 用 手册 第 2 9 页 共 6 4 页 2 - 3 - 8 . Ba r C ode （ 条码 ） 检测 库 的 制 作 方法、 步骤 和 工 作 原理 （ 选配功 能 ） 步骤 1 ）： 鼠 标 左 键 单 击 “ 赫立 A OI 系 统 软件 ”右 侧 “ 导 航 ” 板 块 内 的 元 件 目 录 树 内 的 B a r Co de （ 条码…

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2-3-7. SideMark（板面标识）检测库的制作方法、步骤和工作原理
SideMark（板面标识）检测库主要用于电路板检测 AB 面自动识别，即放入电路板 A 面将自动调入
A 程序检测，而放入电路板 B 面将自动调入 B 程序检测，无需人工手动调入程序。
要启用 AB 面自动识别功能，必须要依次打开两个检测程序，A 面程序及 B 面程序，A 程序检测到
B 面的图像必须报错，而 B 程序检测到 A 面的图像同样也必须报错。注意： AB 面都报错的话，将会
报标识错误。
步骤 1）： 鼠 标 左 键 单 击 “ 赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内
的元件目录树内的 Side Mark 点所在目录，在随即出现的
右下方目录属性“类型”下拉列表内选择“Side Mark”；
（参见右图）
步骤 2）： 鼠 标 左 键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元件目录树内的 Side Mark 点所
在目录，“赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”板块点击右侧的“检测库
新建/选择/链接”按钮 ，在随即 出现 的列表的上方点击“新建检测库”按钮 ，在弹出的“新
建检测库”对话框内输入 SIDEMARK 点检测库的名称，例如：SIDEMARK。（参见下图）
步骤 3）： 在 左 上 角“元件列表”板块内，鼠标左键单击选择其中任何一个元件
（例如，SIDEMARK_0），“ 图像”板块将自动切换至相应的位置；鼠
标左键单击“新建检测窗口”按钮，检测窗口树内出现第一个检测窗
口，在左下方“属性”板块“报错类型”列表选择“通用”，“算法”
列表选择“颜色抽取 HSV”，并同时进
行适当的“图像源”选择，以及适当的
算法参数设置，注
意：Side Mark 一
般选择在 AB 面基
板上有较大差异的
地方，例如找一个
坐标相同，A 面有
而 B 面没有的孔。
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2-3-8. BarCode（条码）检测库的制作方法、步骤和工作原理（选配功能）
步骤 1）： 鼠 标 左 键 单 击 “ 赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元
件目录树内的 BarCode（条码）所在目录，在随即出现的右下
方目录属性“类型”下拉列表内选择“条码”；（参见右图）
步骤 2）： 鼠 标 左 键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧“导航”板块内的元件目录树内的 Bad Mark 点所在
目录，“赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”板块点击右侧的“检测库新
建/选择/链接”按钮 ，在随即出现的列表的上方点击“新建检测库”按钮 ，在弹出的“新
建检测库”对话框内输入条码检测库的名称，例如：BARCODE。（参见下图）
步骤 3）： 在 左 上 角“元件列表”板块内，鼠标左键单击选择其中任何一
个元件（例如，BARCODE_0），“ 图像”板块将自动切换至
相应的位置；鼠标左键单击“新建检测窗口”按钮，检测窗
口树内出现第一个检测窗口，在左下方“属性”板块“报错
类型”列表选择“通用”，“算法”列表选择“条码识别”，
并同时进行适当的“图像源”选择，以及适当的算法参数设
置，注意：可用多
种不同的光源去观
察，另外请特别留
意条码的元件角度
设定，横向为 0 度
或 180 度，纵向为
90 度或 270 度。
2-3-9. 元件检测库的选择链接和脱离链接
通常情况下，“赫立 AOI 系统软件”已附带了绝大多数常用 SMT（表面贴装）元件的标准检测库，
而且赫立标准检测库的兼容性和移植性非常好。通过直接给待测元件料号/封装形式直接选择链接已有检
测库，可缩短检测程序的制作时间。实际使用过程中，通过检测库的后期不断积累，可逐步缩短后续检
测程序制作的时间。
鼠标左键双击“赫立 AOI 系统软件”右侧元件目录树内需要匹配选择/检测库的元件所在目录（例
如，1005R 目录），“ 赫立 AOI 系统软件”将切换成检测库编辑界面，在“检测窗口树”板块点击右侧的
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“检测库新建/选择/链接”按钮 ，在随即出现的检测库列表内，鼠标左键双击目标检测库，则完成了
元件检测库的选择和链接，检测窗口列表内自动罗列该检测库所包含的所有检测窗口。
通过鼠标左键单击 按钮，可将元件目录（料号/封装形式）与当前检测库进行脱离链接。
2-3-10. 检测库制作常用工具及元件批量操作
“赫立 AOI 系统软件” 配备了图形化操作工具，以辅
助用户进行快速程序制作，以及快速进行元件批量操作。在
“导航”模式以及“检测库设计器”模式下，用户都可以通
过鼠标右键“框选”一片区域（按住鼠标右键，拖划一片区
域后松开鼠标，即可实现框选），以实现检测库缩略图的获
取和存储，以及批量操作选中区域内的元件（设置拼板、启
用元件、禁用元件、删除元件、标示、清除标示等）。 同
样，也可以通过在“导航”板块，展开右侧元件目录树后，
鼠标多选元件以实现元件批量操作的目的。
2-3-11. 全板匹配功能的使用方法和步骤
首先，“启动自动运行模式”（具体方法参看第三章. 电路板检测操作方法），在“缺陷警报信息确认
对话框”内点击下方的“模板采样”按钮，可将一块合格的 PCB 板图像自动存储为标准模板图像，按
照此方法采集一定数量的标准模板图像后（注意：切记不能将有异物或板材瑕疵的 PCB 基板图像存储
为标准模板）， 即 可 开始启用全板匹配功能（请鼠标单击自动运行界面“文件”主菜单项下的“选项”
子菜单内并勾选全板匹配“启用”复选框）， 即 可 开始全板匹配以辅助检测任意位置的多件和锡珠等。
2-4. 拼板复制的操作方法和步骤
有些情况下，一块 PCB 上会包含多块拼板。在这种情况下，可通过鼠标左键单击“赫立 AOI 系统
软件”“ 编 辑 ” 主 菜 单 项 下 的 “ 拼板管理”子菜单项，在弹出的“拼板管理”对话框中输入行数和列数，
以及相应的行列间隔数值。
注意：水平 方 向为列，向左复制拼板则列间隔数值为正数，向
右复制拼板则列间隔数值为负数；垂直方向为行，向上复制拼板则
行间隔数值为正数，向下复制拼板则行间隔数值为负数。
如右图所示：
注意：当完成上述所有工作后，检测程序已基本制作完毕。需要拿一些待测 PCB 通过检测来调整
检测库的兼容性及稳定性，即根据实际情况对相关检测算法的参数进行合理的设定和调试，直至检测程
序的缺陷检出率和误报率达到了期望的平衡点时，整个检测程序才算真正完成了。
2-5. 无 CAD/NC 数据的检测程序制作方法和步骤
本章节主要讲述没有 CAD/NC 数据时的检测程序制作方法和步骤，
步骤 1）： 点击“赫立 AOI 系统软件”“文件”主菜单，选择“新建”子菜单项；