XIA-XD1000操作手册.pdf - 第81页
（ 4 ） 按住 ctr l 点窗口 调整零件外 形窗口 尺寸 （ 下图绿色窗口） ， 激 活窗口列表 设定窗口类型 Bod ySearch ， 调整窗口大小到 零件本体大小记录 本体长宽 （ 5 ） 为了后续 资料库的统一 管理和调用， 元件类型命名方 式需要进行规范化 定 义， 考虑到资料库的通用性 采用 ( 类型 + 尺寸 +P 引脚 V 版本 ) 这样的排序进 行命名。如下图电容为 例： C160 8 （引脚和 版本没必要引入则…
（1） Chip 元件制作步骤；新数据原始状态如下图示
（2） 选取元件类型（电阻，电容，晶体管，电感，排容/阻，集成电路，BGA，
连接器，MARK，BAD Mark）
（3） 参考事例中元件类型为电容，增加窗口：新增窗口类型默认为 Area，检
测算法默认为 Scale，窗口默认大小 2000*2000 正方形；
（4） 按住 ctrl 点窗口调整零件外形窗口尺寸（下图绿色窗口），激活窗口列表
设定窗口类型 BodySearch，调整窗口大小到零件本体大小记录本体长宽
（5） 为了后续资料库的统一管理和调用，元件类型命名方式需要进行规范化定
义，考虑到资料库的通用性采用(类型+尺寸+P 引脚 V 版本
)这样的排序进
行命名。如下图电容为例：C1608（引脚和版本没必要引入则可以取消）
（6） chip 电容的检查项目归纳如下：漏件，偏移，错件（损件），虚焊，少
锡；可能需要进行检查的项目：短路，侧立。针对上述项目分别设定检查
窗口
漏件和偏移 可以采用一个算法 ContoursFind 达成
激活检查窗口列表中需要进行设定的窗口---选择算法---拖动窗口大小到零件本体大小---设
定目标尺寸的几何参数（取窗口，设定块数量和一致性）---再次拖动检查窗口大小（搜寻本体的
区域）---抽取电容两端电极的亮度和彩度---再次对目标尺寸的几何参数进行设定（取模板）---
最后设定阀值进行判定（目标尺寸的容许误差：通常建议 10%；X/Y/
θ方向的偏移量：按照各
公司制定实际接受的标准进行设定，图中零件为 1608 电容 X 允许偏移的量：
0.8*0.25=0.2mm=200um，Y 偏移量设定为：1.6*0.25=0.4mm=400um，
θ设定值为 5-7°；）
ContoursFind 算法可以得到量化值，同时可以将输出值作为向量进行调用；向量包含 X/Y。
错件（损件）是针对零件存在后需要进行的检查项目，对此通过 ContoursFind 算法得到的
向量需要赋予此项目检查（以确保不产生误判），电容错件发生情况统计
（一）：电容错电容 就外观来看只能对亮度和颜色差异较大的情形进行检查，