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Bedienungsanleitung Testprogramm SITEST 3 Ka librierfunktionen Software-Version 10 .xx A usgabe 03/98 3.8 IC-Kamera kalibrieren (SIPLACE 80F) 3 - 15 3.8.1 Beleuchtungswerte ändern HINWEIS Eine Än derun g der Bele uchtun …

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3 Kalibrierfunktionen Bedienungsanleitung Testprogramm SITEST
3.8 IC-Kamera kalibrieren (SIPLACE 80F) Software-Version 10.xx Ausgabe 03/98
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Übersicht der Funktionen:
-
Kalibr.teil abholen Kalibrierteil mit IC-Kopf abholen
-
Kalibr.teil ablegen Kalibrierteil in der Kalibrierteiltasche ablegen
-
Fokus einstellen Messung der Fokusposition
-
z-Delta messen Ermittlung des z-Deltas (Oberkante Transport zur Fokusposition der IC-Kamera)
-
Fokuspos. (DIGIT) Anzeige der gemessenen Fokusposition
●
Wählen Sie im Menü "Höhe für KT messen" die Funktion
Kalibr.teil abholen
an, und betätigen Sie die
RETURN-Taste. Der IC-Kopf nimmt das Kalibrierteil mit der Pipette auf und fährt über die IC-Kamera. Läßt
sich das Kalibrierteil nicht abholen, müssen Sie die Kalibrierteilposition kalibrieren. (siehe Abschnitt 3.1.2)
●
Wählen Sie die Funktion
Fokus einstellen
an, und betätigen Sie die RETURN-Taste.
●
Stellen Sie mit Hilfe der Cursor-Tasten
↑↓
das Kalibrierteil so ein bis es am Bildschirm scharf erscheint.
●
Betätigen Sie die Cursor-Taste
↑
sooft, bis das Kalibrierteil unscharf erscheint. Notieren Sie sich die aktu-
elle z-Achsenposition. (Achstestbox Achse Nr. 6, siehe Service- oder Einstellanweisung SIPLACE)
●
Betätigen Sie die Cursor-Taste
↓
sooft, bis das Kalibrierteil unscharf erscheint. Notieren Sie sich die aktu-
elle z-Achsenposition. (Achstestbox Achse Nr. 6, siehe Service- oder Einstellanweisung SIPLACE)
●
Ermitteln Sie den Mittelwert der beiden z-Achspositionen.
●
Positionieren Sie mit Hilfe der Cursor-Tasten
↑↓
auf den Mittelwert. Das Kalibrierteil muß am Bildschirm
scharf erscheinen.
●
Betätigen Sie nach Beendigung der Fokuseinstellung die ESC-Taste. Der Monitor wird in den normalen
Programm-Modus zurückgeschaltet.
●
Wählen Sie die Funktion
z-Delta messen
an, und betätigen Sie die RETURN-Taste.
Der ermittelte Wert wird am Bildschirm angezeigt.
●
Wählen Sie die Funktion
Kalibr.teil ablegen
an, und betätigen Sie die RETURN-Taste.
Der IC-Kopf legt das Kalibrierteil in der Kalibrierteiltasche ab.
●
Betätigen Sie die ESC-Taste um in das Menü "IC-Kamera Fkt." zurückzukehren.
●
Wählen Sie die Funktion
IC-Kamera kalibr.
an, und betätigen Sie die RETURN-Taste.
Der Kalibriervorgang wird an der IC-Kamera durchgeführt.
●
Wählen Sie die Funktion
IC-Ka.Pos u. Offset
aus, und betätigen Sie die RETURN-Taste.
Am Bildschirm wird das Menü "IC-Ka.Pos u. Offset" angezeigt (siehe Abschnitt 3.8.2).
●
Wählen Sie im Menü "IC-Ka.Pos u. Offset" die Funktion
Messen
an, und betätigen Sie die RETURN-
Taste.
Der Offset IC-Kopf zu BE-Kamera und die Position der IC-Kamera wird gemessen.
●
Wenn Sie die ermittelten Werte nach Abschluß des Kalibriervorgangs ansehen wollen, wählen Sie die
Menüfunktion
Kalibr.faktoren anz.
an, und betätigen Sie die RETURN-Taste.
Die ermittelten Werte werden angezeigt.
Bedienungsanleitung Testprogramm SITEST 3 Kalibrierfunktionen
Software-Version 10.xx Ausgabe 03/98 3.8 IC-Kamera kalibrieren (SIPLACE 80F)
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3.8.1 Beleuchtungswerte ändern
HINWEIS
Eine Änderung der Beleuchtungswerte ist in der Regel nicht
erforderlich. Eine unsachgemäße Änderung der
Werte verursacht falsche Kalibrierergebnisse.
●
Wählen Sie im Menü "IC-Kamera Fkt. " den Menüpunkt
Beleuchtungswerte
aus, und betätigen Sie die
RETURN-Taste. Am Bildschirm wird das Eingabemenü "Beleuchtungswerte" dargestellt.
Übersicht der Funktionen:
-
Beleuchtung steil steiler Beleuchtungswinkel
-
Beleuchtung mittel mittlerer Beleuchtungswinkel
-
Beleuchtung flach flacher Beleuchtungswinkel
●
Ändern Sie die Werte nach Bedarf, und bestätigen Sie die Eingaben mit der RETURN-Taste.
●
Verlassen Sie das Eingabemenü mit der ESC-Taste.
●
Führen Sie die Kalibrierung der IC-Kamera erneut durch, wie in Abschnitt 3.8 beschrieben.
ETPos. anfahr.+übern.
Akt.Pos.uebernehmen
Akt.Pos.eingeben
LP-Kamera Fkt.
BE-Kamera Fkt.
IC-Kamera Fkt.
Flip-Chip Kamera Fkt.
Vision-System
IC-Kamera Fkt.
Pos.mit LP-KA anf.
Pos.mit IC-Pip.anf
IC-Ka.Pos u. Offset
IC-Kamera eichen
Beleuchtungstest
Beleucht. für GF
Höhe für KT messen
Beleuchtungswerte
Kalibrierfaktoren anz.
Kamera Nummer
Beleuchtungswerte
Beleucht. steil
Beleucht. mittel
Beleucht. flach
3 Kalibrierfunktionen Bedienungsanleitung Testprogramm SITEST
3.8 IC-Kamera kalibrieren (SIPLACE 80F) Software-Version 10.xx Ausgabe 03/98
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3.8.2 Offset IC-Kopf zu BE-Kamera und IC-Kameraposition messen
HINWEIS
Vergewissern Sie sich, daß die Kalibrierdaten für LP-Kamera, IC-Kamera und BE/LP-Kameraoffset bereits
ermittelt wurden.
●
Treffen Sie die Vorbereitungen wie unter Abschnitt 3.1 und Abschnitt 3.1.1 beschrieben.
●
Wählen Sie im Menü "Vision-System" den Menüpunkt
IC-Kamera Fkt.
aus, und betätigen Sie die
RETURN-Taste. Am Bildschirm wird das Menü "IC-Kamera Fkt." dargestellt.
●
Wählen Sie im Menü "IC-Kamera Fkt." die Funktion
IC-Ka.Pos u. Offset
aus, und betätigen Sie
die RETURN-Taste. Am Bildschirm wird das Menü "IC-Ka.Pos u. Offset" angezeigt.
Übersicht der Funktionen:
-
Kamera Pos. eing. Anzeige bzw. Eingabe der x- und y-Position der IC-Kamera
-
IC-Kamera-Offs.eing. Anzeige bzw. Eingabe des x- und y-Offsets IC-Kopf zu BE-Kamera
-
Messen Ermittlung des Offsets IC-Kopf zu BE-Kamera und Ermittlung der IC-Kamera-
position
●
Wählen Sie im Menü "IC-Ka.Pos u. Offset" die Funktion
Messen
an, und betätigen Sie die RETURN-
Taste.
Der Offset IC-Kopf zu BE-Kamera und die Position der IC-Kamera wird gemessen.
HINWEIS
Die ermittelten Werte können nach Abschluß des Meßvorgangs mit der Funktion
IC-Kamera-Offs.eing.
angezeigt werden.
●
Betätigen Sie 3 x die ESC-Taste um in das SITEST-Hauptmenü zurückzukehren.
ETPos. anfahr.+übern.
Akt.Pos.übernehmen
Akt.Pos.eingeben
LP-Kamera Fkt.
BE-Kamera Fkt.
IC-Kamera Fkt.
Flip-Chip Kamera Fkt.
Vision-System
IC-Kamera Fkt.
Pos.mit LP-KA anf.
Pos.mit IC-Pip.anf
IC-Ka.Pos u. Offset
IC-Kamera eichen
Beleuchtungstest
Beleucht. für GF
Höhe Kamera messen
Beleuchtungswerte
Eichfaktoren anz.
Kamera Nummer
IC-Ka.Pos u. Offset
Kamera Pos. eing.
IC-Kamera Offs. eing.
Messen