PARMI技术 – PARMI.pdf - 第11页

P ARMI 广东省东莞市长安镇翠怡路怡翠豪园9-122 T el : +86-769-8150-1199 E-mail : jordan@parmi.com Privacy P olicy Language 

2. 可应对多种半导体工艺

可检测SiP, Tiny chip (0201~ : metric), Die component, Lead Frame, Bump, IGBT 等, 多种半导体原件

Bonding wire (Ball, Foot, Tail, Loop) 检测

SiP 0201 Chip Lead Frame

Solder Bump IGBT Wire Sagging Wire



3. 精密的2D/3D 图像

呈现高品质的3D图像

不受物体表面的亮度,形状影响

SiP Die crack

4. 便捷的编程,调试

基于Wizard的程序设计

直观的软件界面(UI)

快速的调试



PARMI

广东省东莞市长安镇翠怡路怡翠豪园9-122

Tel : +86-769-8150-1199

E-mail : jordan@parmi.com

Language

