2858A说明书.pdf - 第13页
13 图 3-4 UC2858A 档计数显示页面 下列测量控制参数可在 <档计数显示> 页面设定。 计数打开、关闭、复位计数 该页面其他不可设定参数含义如下： 1. 参数： 当前测量的“功能” 参数，如果用户选择了主副参数对调比较模式，其参数将显示为当前“功能” 参数 的对调，例如，把“Cp-D”显示为“D-Cp” ，表示当前把 D 作为主参数比较，而 Cp 作为 副参数比较。 2. 标称： 档比较的标称值。 3. 档：…
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通过软键区[加+]、[减-]软键进行快速切换偏置。按前面板[DC BIAS]键，允许设定的直流偏置输出。
3.1.6 测试速度
测试速度主要由下列因数决定：
积分时间(A/D 转换)
平均次数(每次平均的测量次数)
测量延时(从启动到开始测量的时间)
测量结果显示时间
一般来说，慢速测量时，测试结果更加稳定和准确。通过软键区[快速]、[中速]、[慢速]选择测量速度。
3.1.7 显示工具
软键小数位置锁定锁定参数测试结果的小数点位置。在小数点被锁定位置将显示符号“▲”。软键小数位置自动将
取消小数点位置的锁定。
软键小数位置加+锁定并增加参数测试结果的小数点位置。在小数点被锁定位置将显示符号“▲”。
软键小数位置减-锁定并减少参数测试结果的小数点位置。在小数点锁定位置时将显示符号“▲”。
按软键小字体将结果显示从大字体改成小字体。此时软键小字体变为大字体。
按软键大字体将结果显示从小字体改成大字体。此时软键大字体变为小字体。
按软键显示关闭，用于关闭测量结果的显示，可提高自动系统的测试速度。
注
注
注
意
意
意
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在下列情况下小数点位置锁定功能将自动取消：
测试功能改变。
在偏差测试时，偏差测试方式（ΔABS,Δ%,OFF）被改变。
3.1.8 监视域
其中，Vm：被测件电压监视；Im：被测件电流监视。
校正：OFF :用于提示用户开路，短路，负载校正状态。
3.2 <档号显示>页面
按菜单键[MEAS],再按软键档号显示，进入<档号显示>页面。在<档号显示>页面档号以大字符显示，当前测试结果
以正常的小字符显示。
如图 3-3：
图 3-3 档号显示页面
下列测量控制参数可在<档号显示>页面设定。
比较功能 ON/OFF(比较)
显示工具（光标移动到档号显示区域）
本页面其他功能参数可在<测量设置>、<元件测量显示>等页面进行设置。
3.2.1 比较器功能
内置比较功能可将被测元件分档测试。如果一被测件主参数在档极限范围内，但是其副参数不在档极限范围内，该
被测件被分选到附属档中。本系列仪器通过 HANDLER 接口附件，将比较测试结果输出给自动测试系统，实现自动分
选测试。这些极限设定只能在<极限列表设置>页面进行设定。比较
域让你设定比较功能 ON 或 OFF。
注：
UC2858A 档为（BIN1 至 BIN9 及 BIN OUT）。
3.3 <档计数显示>页面
按菜单键[MEAS],再按软键档计数，进入<档计数显示>页面。在<档计数显示>页面显示各档的计数值。
如图 3-4：
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图 3-4 UC2858A 档计数显示页面
下列测量控制参数可在<档计数显示>页面设定。
计数打开、关闭、复位计数
该页面其他不可设定参数含义如下：
1. 参数：当前测量的“功能”参数，如果用户选择了主副参数对调比较模式，其参数将显示为当前“功能”参数
的对调，例如，把“Cp-D”显示为“D-Cp”，表示当前把 D 作为主参数比较，而 Cp 作为副参数比较。
2. 标称：档比较的标称值。
3. 档：其正下方显示了极限列表的档序号。“2nd”表示副参数档。
4. 上下限：此区域的正下方显示各档上下限值。
5. 计数：此区域的正下方显示了当前测量的各档统计结果。
6. 附属(AUX)：此区域的显示了当前附属档的统计结果。
7. 超差 (OUT)：此区域的显示了当前超差档的统计数值。
屏幕可显示的最大计数值为 999999。当计数值超过该数时，屏幕显示信息“----”。但是仪器内部计数器正常计数，
因此可以通过通讯接口来读取计数值。
档计数操作：
开：打开计数功能。
关：关闭计数功能。
复位计数：按该键后提示“是”或“否”，选择是否对计数进行复位。
3.4 <列表扫描显示>页面
UC2858A 最多可对 10 个测试点扫描。
每个列表扫描测试点可以设定其上限和下限值。这些测试点将被自动扫描测试，测试结果与其相应极限值进行比较。
按菜单键[MEAS],再按软键列表扫描，进入<列表扫描显示>页面。如图 3-5：
图 3-5 UC2858A 列表扫描页面
在该显示页面测试点将被自动扫描测试，测试结果与极限值进行比较。在列表扫描测试过程中，最左面的符号“>”
指示当前扫描测试点。下列测量控制参数可在<列表扫描显示>页面设定。
扫描方式（方式）
本显示页面有 2 个域，他们是：列表扫描显示
，方式。列表扫描点及相关参数不能在该页面下设定，只能在<列表
扫描设置>页面进行设置
。
3.4.1 扫描方式
该页面中只有[方式：SEQ]参数可以设定。移动光标至[方式：SEQ]所在位置，选择软键区[SEQ]软键，则每按动仪
器前面板[TRIGGER]键，所有扫描点被测试一遍；选择[STEP]软键，则每按动仪器前面板[TRIGGER]键，测试一个扫
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描点。
注
注
注
意
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触发方式为 INT 时，扫描测试方式 SEQ 及 STEP 不受[TRIGGER]键控制。将触发方式设置为 MAN 手动触发时，
才能使用[TRIGGER]键触发列表扫描测试。
该页面其他不可设定参数说明如下：
1. 频率(Hz)：其正下方显示当前扫描的参数模式及其单位。可通过<列表扫描设置>页面改变参数模式。
2. Cp[F] ：其正下方显示当前扫描的主参数测量结果。
3. D[ ] ：其正下方显示当前扫描的副参数测量结果。
4. CMP：此区域显示当前扫描点的比较结果。其中“L”表示下超，“H”表示上超，“ ”表示合格。
3.5 <测量设置>页面
按菜单键[SETUP]，进入<测量设置>页面。如图 3-6：
图 3-6 测量设置页面
该页面中，[功能][量程][频率][偏置][电平][速度]这些参数的设置可以参考 3.1 章节中的说明。其他参数的设定
说明如下：
3.5.1 触发方式
触发方式有 4 种：
INT(内部触发)，MAN(手动触发)，EXT(外部触发)和 BUS(总线触发)。
当触发方式设置为 INT 方式时，仪器连续重复测试。
当触发方式设置为 MAN 方式时, 每按一次前面板[TRIGGER]键，仪器进行一次测试。
当触发方式设置为 EXT 方式时, HANDLER 接口或脚踏开关每接受到一次触发信号，仪器进行一次测试。
当触发方式设置为 BUS 方式时，IEEE488 接口每接受到一次”TRIGGER”命令，仪器进行一次测试。BUS 触发方式
不能在仪器前面板进行设置，需通过通讯接口向仪器发送“TRIGger:SOURce BUS”命令进行设置。
注
注
注
意
意
意
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在测试过程中，接受到触发信号，该触发信号将被忽略。因此需在测试完成后发送触发信号。
3.5.2 恒电平
恒电平功能将实际的测试电平（被测件两端的电压或流过被测件的电流）调整至你所设定的测试电平值。使用该功
能能保证被测件两端的测试电压或电流保持恒定。
当采用自动电平控制功能时，测试电平可设定范围限制如下：
恒电压设置范围：10 mV
rms
至 1V
rms
恒电流设置范围：100 µA
rms
至 10 mA
rms
注
注
注
意
意
意
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当恒电平功能有效时，如果电平设定超出上述范围，恒电平功能将被自动设定为 OFF。当前所设定的电平值
作为一般非恒电平值。
3.5.3 ISO
默认 OFF，保留功能。
3.5.4 平均
平均功能将 2 次或多次测试的结果进行平均值计算。平均次数可设置范围为 1 至 255，以 1 为步进。
3.5.5 监视功能 Vm、Im
监视功能能监视当前被测件两端的实际电压或流过被测件的实际电流值。其值显示在<元件测量显示>监视区域。
注
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注
意
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意
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仪器的校正功能对电平监视功能有影响。因此当校正数据发生变化时，电平监视值也会发生变化。校正功能
OPEN/SHORT/LOAD 的 ON/OFF 状态变化也会对电平监视值产生影响。
3.5.6 延时
用以设置仪器被触发到开始测量之间的延时时间。当使用列表扫描功能时，每个扫描测试点都将延时所设定的延时
时间。触发延时时间设定范围为：0 s 至 60 s，1 ms 为步进。当仪器被用在自动测试系统中时，触发延时功能很有用。