2858A说明书.pdf - 第16页
16 3.6.1 开路校正 开路校正功能能消除与被测元件相并联的杂散导纳（ G, B ）造成的误差。如图 3-8 所示。 图 3-8 杂散导纳 [ 开路 ] 功能是用户开路校正总开关，只有该功能处于 ON 状态时，全频开路及单频点开路数据才有效。 开路校正功能操作步骤如 下 1) 移动光标至 [ 开路 ] ，屏幕软键区显示 [ON] 、 [OFF] 、 [ 开路全频清 ] 。 2) 选择软键区 [ON] ， 则打开开路校正总开关， 此时…
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当仪器被 HANDLER 接口触发后，经过触发延时时间可以保证被测件与测试端可靠接触。
延时功能设置操作步骤如下：移动光标至[延时]，使用数字键输入延时时间，选择软键区[msec](毫秒)、[sec](秒)倍
率单位确认输入或按键[ENTER]确认输入。
3.5.7 输出内阻
提供 4 种输出内阻可选择：100 Ω 、30 Ω、10/100、10/CC。当测试电感时，为了与其他型号的测试仪进行数据对
比，必须保证有相同或近似的输出内阻值。
3.5.8 偏差测试功能
偏差测试功能能将偏差值代替实际测试值直接显示在屏幕上。偏差值等于当前实际测试值减去预先设置的参考值。
使用该功能可以方便地观察被测元件参数随温度，频率，偏置等条件的变化情况。偏差测试功能可用于主参数或副
参数，或者同时用于主副参数。仪器提供两种偏差测试方式如下：
ΔABS 方式（绝对偏差方式）
当前显示的偏差为被测件的测试值与设定的参考值之差。
ΔABS＝Ｘ－Ｙ （X: 当前被测件的测量值；Y: 预先设定的参考值）。
Δ% 方式（百分比偏差方式）
当前显示的偏差为被测件的测试值与设定的参考值之差除以参考值所得到的百分比误差。
Δ%＝(Ｘ－Ｙ）/Y ×100 [%] （X: 当前被测件的测量值；Y: 预先设定的参考值）。
偏差测试功能操作步骤
1) 移动光标至[参考 A]，使用数字键输入主参参考值，选择软键区倍率单位确认输入或按键[ENTER]确认输入。
当仪器测试端连接标准参考件时，可不用输入参考值，直接选择软键[测量]即可，此时仪器会自动将标准参考
件的测试结果更新到[参考 A][参考 B]，省去了用户输入的时间。
2) 移动光标至[参考Ｂ], 使用数字键输入副参参考值，执行步骤 1）中类似操作来完成副参参考值的设置。
3) 移动光标至[偏差 A]，选择软键[ΔABS]使用绝对值偏差模式显示；[ Δ%]使用相对值偏差模式显示；[ OFF]关
闭偏差显示模式，恢复原测量结果显示。
4) 移动光标至[偏差 B]，执行步骤 3）中选择软键的操作来选择偏差显示模式。
5) 按仪器前面板[MEAS]键，进入<元件测量显示>页面观察测量结果。
3.5.9 工具
<测量设置>页面的辅助工具提供清除设置的功能。清除设置将本页面的设置恢复到系统默认设置状态。
辅助工具功能操作步骤
执行下列操作步骤复位仪器和加载<测量设置>页面的默认设置参数。
移动光标至测量设置域，按软键工具 ，再按软键清除设置将<测量设置>页面的参数设置恢复到出厂默认状态。
3.6 <用户校准>页面
按菜单键[SETUP],再按软键用户校准，进入<用户校准>页面。
如图 3-7：
图 3-7 用户校准页面
<用户校准>页面的开路，短路和负载校正功能可用于消除分布电容，寄生阻抗和其它测量误差。仪器提供两种校正
方式。一种是采用插入法对所有频率点进行开路和短路校正。另外一种是对当前设定频率点进行开路，短路和负载
校正。
本显示页面有 16 个域，他们是：用户校准
，开路，短路，负载，电缆，方式，功能，频率 1，参考 A, 参考 B，频
率2，参考 A, 参考 B，频率 3， 参考 A 和 参考 B。每个控制功能域在下面段落将进行详细说明。
<用户校准>页面除上述设定域外同时还显示下列监视域。监视域和设定域很相似，但是监视域只提供信息显示，不
能设定。
负载校正的实际测试结果。（测量 A，测量 B）
负载校正的实际测试结果，可在频率 1，频率 2 和频率 3 设定域进行测试。
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3.6.1 开路校正
开路校正功能能消除与被测元件相并联的杂散导纳（G, B ）造成的误差。如图 3-8 所示。
图 3-8 杂散导纳
[开路]功能是用户开路校正总开关，只有该功能处于 ON 状态时，全频开路及单频点开路数据才有效。
开路校正功能操作步骤如下
1) 移动光标至[开路]，屏幕软键区显示[ON]、[OFF]、[开路全频清]。
2) 选择软键区[ON]，则打开开路校正总开关，此时仪器自动调用系统中原有开路数据；若此时 3 个单频点有频率
设置，则对应频率开路数据采用相应单频点数据。若选择软键区[OFF]，则关闭开路校正总开关，即便此时 3
个单频点有频率设置，其对应开路数据仍然无效。
3) 若选择软键区[开路全频清]，则需将测试夹具连接到仪器测试端并可靠开路。一旦进行全频开路清零，则屏幕
会有进度条提示开路进程；此时若选择软键区[中止]键，则中断当前全频开路清零操作，系列仍保留原有开路
数据。
3.6.2 短路校正
短路校正功能能消除与被测元件相串联的寄生阻抗（R, X）造成的误差。如图 3-9 所示。
图 3-9 寄生阻抗
[短路]功能是用户短路校正总开关，只有该功能处于 ON 状态时，全频短路及单频点短路数据才有效。
短路校正功能操作步骤如下
1)移动光标至[短路]，屏幕软键区显示[ON]、[OFF]、[短路全频清]。
2)选择软键区[ON]，则打开短路校正总开关，此时仪器自动调用系统中原有短路数据；若此时 3 个单频点有频率设
置，则对应频率短路数据采用相应单频点数据。若选择软键区[OFF]，则关闭短路校正总开关，即便此时 3 个单频
点有频率设置，其对应短路数据仍然无效。
3)若选择软键区[短路全频清]，则需将测试夹具连接到仪器测试端并可靠短路。一旦进行全频短路清零，则屏幕会
有进度条提示短路进程；此时若选择软键区[中止]键，则中断当前全频短路清零操作，系列仍保留原有短路数据。
3.6.3 负载校正
负载校正总开关。移动光标至[负载]，选择软键区[ON]打开；[OFF]关闭。只要该功能总开关处于 ON 打开状态时，
各单频点下的负载校正数据才有效。
3.6.4 频率 1、频率 2、频率 3：
系统最多提供 3 个单点频率下的开短路及负载校正功能，以便更加精确的消除所设定单频点的各种干扰影响，提高
测试的准确度。
注意：只有[开路]，[短路]总开关处于 ON 状态时，各单频点的开短路数据才会被调用，否则各单频点的开短路数据
只会被保存在内存中，但不被调用。
单频点开短路、负载校正操作如下：
1） 移动光标至[频率 *] （这里，*为 1
，2，3 中的任意一个）
2） 选择软键区[ON]，则原来该频率点所设置的频率被显示出来。（若选择[OFF],则关闭当前频率点单频校正数据。）
3） 使用仪器前面板数字键输入数据，选择软键区倍率单位（Hz, kHz 和 MHz）确认输入或按键[ENTER]确认输入。
此时该单频点的频率被改成用户所需频率。
4） 保证测试夹具与测试端可靠连接并可靠开路，选择软键区[开路单频清]，完成该频率点开路清零，同时屏幕信
息提示区会显示该频率点开路测试数据。
5） 保证测试夹具与测试端可靠连接并可靠短路，选择软键区[短路单频清]，完成该频率点短路清零，同时屏幕信
息提示区会显示该频率点短路测试数据。
6） 以上步骤即已完成了单频点的开短路清零操作了，如用户需进行负载校正，则需继续下列步骤的操作。
7） 移动光标至[功能]，从软键区选择所需测量的参数组合。
8） 再次移动光标至[频率 *]，向下移动光标至该单频点下方对应[参考 A]。
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9） 使用数字键输入负载校正标准件的主参数参考值，选择软键区倍率单位确认输入或按键[ENTER]确认输入。
10）向右移动光标至该单频点对应[B]。
11）使用数字键输入负载校正标准件的副参数参考值，选择软键区倍率单位确认输入或按键[ENTER]确认输入。
12）保证测试夹具与测试端可靠连接，并将负载校正用标准件正确与测试夹具连接。
13）向上移动光标至该单频点[频率 *]，选择软键区[负载校正]，完成一次负载校正过程。此时标准件的主副参数实
际测量值会显示在该单频点下方对应的[测量 A]、[B]中。
14）至此，负载校正完成。此时按前面板[MEAS]键进入<元件测量显示>页面，可以看到主副参数对应显示值被校
正到所设定的参考值了。
负载校正功能比较适用于检验同一批次产品的一致性能。
3.6.5 电缆长度选择
当前可选电缆长度为 0 m。
3.7 <极限列表设置>页面
按菜单键[SETUP],再按软键极限设置，进入<极限列表设置>页面。
UC2858A为9档分选。
图 3-10 UC2858A 极限列表设置页面
在该页面可以对仪器比较器功能进行设置。可设定 n 个主参数的档极限以及一个副参数的档极限值。被测结果可分
选成最多 n+1 个档（BIN1 至 BINn 和 BIN OUT）。如果被测件的主参数在 BIN1 至 BINn 的极限范围内，但是其副参数
不在极限范围内，这时被测件被分选到附属档中。下列比较功能的极限参数只能在<极限列表设置>页面进行设定。
UC2858A，n=9。
3.7.1 参数
对换参数功能可将参数
设定域中的主参数和副参数对换。例如：当测试参数为：Cp-D 时,参数互换功能将测试参数
改为：D-Cp。这时 D 可设定多档比较极限，而 Cp 可设定 1 档比较极限。
3.7.2 比较功能极限模式
比较方式共 4 种模式，其中前 3 种只针对主参数：
Δ% TOL：百分比比较模式。此时，若（测量值-[标称]值）/[标称]值*100 [%]的值在[下限]与[上限]之间,
则该档主参合格；反之超差。
ΔABS TOL：绝对偏差量比较模式。此时，若测量值在（[标称]值-[下限]）与（[标称]值+[上限]）之间，
则该档主参合格；反之超差。
SEQ MODE：连续极限比较模式。该模式下，档 1 正常设置[下限]和[上限]；档 2 的[下限]即为档 1 的[上
限]；以此类推，档 n 的[下限]即为档 n-1 的[上限]。这里，n 取 2~9。此时，若测量值在[下限]和[上限]之
间，则该档主参合格；反之超差。即该种模式下，[标称]值无效。
TWO ABS：主副参绝对值比较模式。该模式下，共可设定 n 档主参极限，n 档副参极限。此时，若主参
测量值在某档主参[下限]与[上限]之间，则其后面主参档不再进行比较，此时若副参测量值在该档副参[下
限]与[上限]之间，则该档合格，反之当[附属]功能为 ON 打开，判断结果为 BIN AUX,当[附属]功能为 OFF
关闭，判断结果为 BIN OUT。
注意：一旦档 N-1 合格，则档 N 将不再进行比较。这里，N 取 2~n。UC2856A，n=9。
另外，切换比较方式时，若用户已经设置过极限值，则软键区会提示用户清空数据才能切换模式，选择相应软
键清空数据或者放弃。
3.7.3 标称
用于设定参考件的主参标称值。移动光标至[标称]，使用数字键输入数据，选择软键区倍率单位（p, n, µ, m, k, M, *1）
确认输入或按键[ENTER]确认输入。注：按键[ENTER]确认输入时，默认上次的倍率单位。