FA1240-60J2-6ZB.pdf - 第3页
3 データ作成・電気検査・不良の確認 が連携する実装基板検査システム 電子データだけで作成するから正確（現物不要） 検査座標、ネット（部品接続）情報もガーバーデータとマ ウントデータなどの設計情報から作成するので、5 ステッ プの作業で正確な情報が抽出可能です。 ガーバーデータ が無い基板もベアボード製造メーカから簡単にガーバー出 力できます。正確な情報を使えば、それだけ手戻りのない データ作成と検査品質の向上が可能です。 現物の確認が…
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はかる みるつくる
データ作成・電気検査・不良の確認 が連携する実装基板検査システム
設計データからプログラムを作成し
最小の時間とコストで電気検査を行う
そして、不良はすばやく確認し結果を残す
FA1240-61 ４端子ハイスピードモデル
オペレータ画面は中国語に対応
FA1240-63 コンパクトモデル
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データ作成・電気検査・不良の確認 が連携する実装基板検査システム
電子データだけで作成するから正確（現物不要）
検査座標、ネット（部品接続）情報もガーバーデータとマ
ウントデータなどの設計情報から作成するので、5 ステッ
プの作業で正確な情報が抽出可能です。 ガーバーデータ
が無い基板もベアボード製造メーカから簡単にガーバー出
力できます。正確な情報を使えば、それだけ手戻りのない
データ作成と検査品質の向上が可能です。
現物の確認が最小限だから簡単で早い
ワークフローに従うだけの簡単作成
データ作成時間 1/10 ライン停止時間は 1/15 に短縮
プローブを当てる場所も、コンタクトするプローブも設計
情報から自動計算されるため電気測定に集中できます。
また、ネット情報を使った最新のソーティングアルゴリズ
ムと組み合わせることで、より簡単に、より高速な検査を
実現します。
ネット情報の活用で簡単リペア
FAIL VIEWER は不良になった部品表示以外に実装検査用
のネット探索機能を搭載しています。並列部品のチェック
だけでなく、短絡の危険度の高いレジスト開口部だけの探
索ができます。検査装置を停止することなく不良箇所を探
索します。
フライングプローブテスタの検査に必要な工程「データ作成」・「電気検査」・「不良箇所の確認」
この３つの工程をリンクすることで、品質の向上と工数の削減をお約束します。
フライングプローブテスタ
は検査装置から基板検査システムへ生まれ変わりました。
より正確に
つくる FIT-LINE UA1780
より簡単に
はかる
フライングプローブテスタ
FA1240
よりすばやく
みる FAIL VIEWER UA1782
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こだわりの「はかる」技術
実動試験では見つからない！ 外観検査では過検出になりやすい！
だから IC リードの疑似接触は４端子抵抗測定で検出
抵抗検査で確実な疑似接触検出 アナログ回路に強い位相分離
真値を追求するガーディング
ソフトランディング
４端子プローブでショート流出ゼロ
デジタル基板の検査タクトを短縮
HIOKI 独自のリード浮き検出は、リードとパッド間の抵
抗値で判定を行うため、信号属性を問いません。
また部品の内部回路の影響も受けないため、IC はもとよ
り SMT コネクタのリード浮き検出にも威力を発揮します。
同軸構造の 4 端子プローブは、
疑似接触検出のために開発さ
れた専用プローブです。
スリップレス構造の４端子プ
ローブとコンタクトチェック
の組合せによりコンタクトミ
スによるショート流出の可能
性がゼロになります。
●プアソルダ
半田の上がりが悪く、十分に接続抵抗
が下がっていない状態
動作（通電）試験では良品となるため、
原因不明の誤動作になりやすい不具合
●プアコンタクト
リードの酸化膜により、結合力が不
足してしまった例
外観上に大きな違いが出にくいため
流出する可能性が高い不具合
■４端子抵抗測定
プローブの接触抵抗がキャンセルされ、端子間
の抵抗値を正確に測定できる。DMM の上位モ
デルに搭載される測定方式です。
業界唯一の４端子プローブでの
近接距離が全方向 0.5mm を実
現しました。
（シングルプローブ 0.15mm）
IC リードのコンタクトチェック
付き S/O 検査では 25% 近く検
査時間が短縮されます。
疑似接触
足浮き
この間の抵抗値を測定
センス側
ソース側
外力によりブレています。
プローブのダウンスピードをコ
ントロールします。基板に接す
る直前でスピードを落として、
衝撃力を緩和し、基板にダメー
ジを与えません。検査ステップ・
グループ・全体および本体の単
位で設定できます。
距離
時間
基板面
ソフトランディング
（1）ガーディング無し
周辺回路からの電流 Ir の影響
を受ける。
（2）ガーディング有り
Em ≒ 0 のため Ir ≒ 0 す
なわち Ix のみを測定
測定電流の回り込みを防ぎ、各々の部品の実装値通り測定で
きるガーディング機能。ATG 機能が最適なポイントを抽出す
るためデータ品質が向上します。
交流測定モードでは単純な直並列素子の影響を無視でき
る位相分離測定が可能です。モード選択は ATG 機能で自
動選択されるため、作業者が悩むことはありません。
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