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SIPLACE Explorer ab 3. 11 (R 20 -2) Ausgabe 11/20 20 Edition 36 of 44 Der Standard-Produktumfa ng von SIPLACE Explorer unterstützt d ie oben aufgelisteten SI PLACE Bestückautomaten . SIPLACE Explo rer kann außerdem mit a…
SIPLACE Explorer ab 3.11 (R20-2) Ausgabe 11/2020 Edition
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Stationssoftware Version
Automatentyp
713
DX-Serie DX1, DX2
SX-Serie SX1/SX2, SX1/SX2 V2, SX1/SX2 V3
X-Serie S X2 S, X3 S, X4 S, X4 S micron
X4i S, X4i S micron
CA-Serie CA4, CA4 V2
TX-Serie TX1, TX2, TX2i, TX2i W, TX2 micron, TX2i micron,
TX2i micron V2
TX V2-Serie TX1 V2, TX2 V2, TX2i V2
E-Serie E1 R, R1 L
712
DX-Serie DX1, DX2
SX-Serie SX1/SX2, SX1/SX2 V2
TX-Serie TX1, TX2, TX2i, TX2 micron, TX2i micron
TX V2-Serie TX1 V2, TX2 V2, TX2i V2
X-Serie S X2 S, X3 S, X4 S, X4 S micron
X4i S, X4i S micron
CA-Serie CA4 V2
E-Serie E by SIPLACE
711
DX-Serie DX1, DX2
SX-Serie SX1/SX2, SX1/SX2 V2
TX-Serie TX1, TX2, TX2i, TX2 micron, TX2i micron
TX V2-Serie TX1 V2, TX2 V2, TX2i V2
X-Serie S X2 S, X3 S, X4 S, X4 S micron
X4i S, X4i S micron
CA-Serie CA4 V2
605
D-Serie D1, D2, D3, D4
HINWEIS
Eingestellte SIPLACE Bestück Automaten sind in der Tabelle oben nicht angeführt.
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Der Standard-Produktumfang von SIPLACE Explorer unterstützt die oben aufgelisteten SIPLACE
Bestückautomaten. SIPLACE Explorer kann außerdem mit anderen Linienkomponenten (z.B.
Siebdrucker und Ofen) und Datenquellen eingesetzt werden und zur Auswertung von
Produktionsleistungen mit der Standard Monitoring Applikation (SMA) oder anderen Anwendungen
herangezogen werden.
Für detaillierte Informationen bezüglich speziellen Komponenten und Schnittstellen, kontaktieren
Sie bitte Ihren regionalen SIPLACE Vertriebspartner.
4.5 Schnittstellen
SIPLACE Explorer bietet keine Schnittstellen. Es besteht allerdings eine Verbindung zu OIS und
SIS, da SIPLACE Explorer alle benötigten Daten aus OIS und SIS über sog. Datenbankviews
erhält. Weitere Details über die Datenbankviews von OIS und SIS entnehmen Sie folgenden
Beschreibungen:
● SIPLACE OIS / SIS Databases 18.0 Interface Description.
4.6 Mögliche Abweichung der Bestückdaten zwischen
SIPLACE Explorer und OIS
Die Anzahl der verbrauchten Bauelemente, Abwürfe und Leiterplatten können in SIPLACE Explorer
und in OIS abweichen.
In OIS hat jeder Datensatz einen Zeitstempel (verbrauchte Bauelemente, Abwürfe von
Bauelementen und jede Leiterplatte).
Startet man eine OIS-Abfrage über SQL Query über den Verbrauch innerhalb eines bestimmten
Zeitintervalls, wird von OIS die Anzahl der Datensätze ausgegeben, deren Zeitstempel innerhalb
dieses Zeitintervalls liegt.
SIPLACE Explorer ordnet die Bauelemente den Leiterplatten zu, auf welchen diese bestückt
wurden. Startet man eine Abfrage über den Verbrauch innerhalb eines bestimmten Zeitintervalls,
wird von SIPLACE Explorer die Anzahl der Bauelemente ausgegeben, die auf den Leiterplatten
bestückt wurden, die innerhalb des Zeitintervalls produziert wurden. Dieser Unterschied wird bei
einer Fertigung mit 2 Bestückbereichen deutlich.
Die folgende Grafik verdeutlicht den Unterschied.
Beispiel: Es wurden 8 Leiterplatten auf einer Maschine mit 2 Bestückbereichen bestückt. In der
Grafik sind drei Zeitlinien abgebildet:
● Bauelemente Bestückbereich 1
● Bauelemente Bestückbereich 2
● Leiterplatten
Die Bauelemente X auf der Zeitlinie für Bestückbereich 1, entsprechen den möglichen
Zeitstempeln der Bauelemente, die auf Leiterplatte X bestückt wurden.
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Zeitstempel der Bestückdaten
Bauelemente
Bestückbereich 1
Bauelemente
Bestückbereich 2
Leiterplatten
1 2 3 4 5 6 7 8
1 2 3 4 5 6 7 8
T1 T2
1 2 3 4 5 6 7 8 9
X
X
= Leiterplatte
= Bauelemente-Datensatz
Startet man eine OIS-Abfrage über SQL Query für das Zeitintervall zwischen T1 und T2, wird die
Gesamtanzahl aller Bauelemente ausgegeben, die auf allen 8 Leiterplatten bestückt wurden,
abzüglich der Anzahl der Bauelemente, die im 1. Bestückbereich auf Leiterplatte 1 bestückt
wurden.
Startet man die gleiche Abfrage über SIPLACE Explorer, wird die Gesamtanzahl aller Bauelemente
ausgegeben, die auf allen 8 Leiterplatten bestückt wurden.
In diesem Beispiel wird die aus SIPLACE Explorer ausgegebene Anzahl höher sein, als die Anzahl
aus OIS.
Dennoch ist das nicht immer der Fall. Wird Leiterplatte 9 bestückt (in der Grafik im Bestückbereich
1), wird SIPLACE Explorer die Bauelemente nicht zählen, die auf dieser Leiterplatte bestückt
wurden, und somit weniger Bauelemente als OIS ausgeben.
Aus diesem Grund entstehen auch Abweichungen zwischen OIS und SIPLACE Explorer bei der
Ermittlung der Anzahl von Abwürfen von Bauelementen.
4.7 Abweichung der Status Anzeige zwischen SIPLACE
Explorer und OIS
In SIPLACE OIS ist ein spezielles OIS-Zustandsmodell realisiert. Das OIS-Zustandsmodell wird in
SIPLACE Explorer auf das SIPLACE Explorer Zustandsmodell abgebildet, welches dem SEMI
E10-Zustandsmodell entspricht. Dadurch können sich Abweichungen bzgl. angezeigter Status und
Statuszeitanteile zwischen OIS und SIPLACE Explorer ergeben. Ein direkter Vergleich ist damit
nicht möglich.