雅马哈3D-AOI技术介绍汇总_Media.pdf - 第36页
SEPL W14500 -00 V1.00 ◼ ◼ 2D 图像 3D 图像 ◼ ✓ ✓ ✓ ✓ ✓ ✓ ✓ ✓ ◼ 匿 YAMAHA 2D 检查 的难点 与盲区 白 色基板 上的白 色元件 2D 检查技 术发展 停滞, 存在 很大局 限性, 淘汰只 是时间 的问题 — 黑 色基板 上的黑 色元件 2D 检查 的盲 区 : 相 同元件 即使设 定相同 ,检 查结果 也会有 差异: 因 干涉导 致的位 置差异 相邻元 件阴影 元 件亮度 基…

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2D图像
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匿
YAMAHA
2D
检查
的难点
与盲区
白
色基板
上的白
色元件
2D
检查技
术发展
停滞,
存在
很大局
限性,
淘汰只
是时间
的问题
—
黑
色基板
上的黑
色元件
2D
检查
的盲
区
:
相
同元件
即使设
定相同
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查结果
也会有
差异:
因
干涉导
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相邻元
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3D-A0I
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再需要
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