Cheetah-EVO_Brochure_chi-LR.pdf - 第5页

在实验室的研究和开发过程中检测电子部件是一件 很复杂的事情,需要最大范围的特征表现和最先进 的技术。计算机断层扫描在对微小部件的细节分析 中必不可少,通常会被用于电池、连接器及医疗器 械的开发和研究。 全 新的 CHEETAHEVO提 供极 致的 图 像精 度 和最 高的工业CT重构细节,甚至更多其他专业配置: 超常的计算机断层扫描( C T ) 质量 -全新的 O R Y X  1 6 1 6  探测器确保最高质量的CT…

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电子部件,半导体装置是电子系统的主要核心组
成。由于它们排列紧密和其本身的密度特性,检测
它们状态的过程中需要最高的精度,但要维持较低
的管功率和管电压水平。空洞计算,包含多个区域
的空洞计算,需要精确并可重复的检测程序。
新的CHEETAHEVO提供优质的测结,并
维持低水平的管功率和管电压,甚至更多其他专业
配置:
高灵敏度探测器及缩减放射剂量
-高灵敏度的探测器能够缩减检测的放射剂量
-通过可选的缩减放射工具,用于检测敏感部件的
放射率能够额外缩减,例如使用滤镜和准直仪
-优化的电路设计,确保高速和稳定的24/7工作
时长
-得益于辐射抗性,探测器具有更高的工作寿命
识别高精度的细节呈现
-操作员能够在一个完整的图像链中观察最佳的细
节呈现
自动缺陷检测
-在FGUI界面中整合的缺陷检测(焊锡,空洞)
-PROINSIGHT(开发及整合个人算法成为可能)
其他专业配置
-兼VOLUMEGRAPHICS软件
-更高、更稳定的部件配置
应用
-晶圆检测
-整体连接回路的三维图片
-微焊锡
-传感器
-MEMS和MOEMS
-TSV
半导体检测:最电压实现最大检测精
BGA和焊锡的平面层析扫描概 BGA中的空洞,平面层析扫描可视化
在实验室的研究和开发过程中检测电子部件是一件
很复杂的事情,需要最大范围的特征表现和最先进
的技术。计算机断层扫描在对微小部件的细节分析
中必不可少,通常会被用于电池、连接器及医疗器
械的开发和研究。
新的CHEETAHEVO提供极致的像精和最
高的工业CT重构细节,甚至更多其他专业配置:
超常的计算机断层扫描(CT质量
-全新的ORYX1616探测器确保最高质量的CT扫
描体素
-出色的对比度信噪比
-高灵敏度探测器
YXLON FF CT 软件成信息可
-FGUI用户交互界面中呈现完整的工作流程
-真实生动的可视化图像,由单独的三维电影级渲
染软件呈现,以及一套预设的转换功能(TF)
-平面层析扫描的可视化结果等同于高质量CT扫描
结果的体素,能够呈现更为复杂的样品内部结构
-通过一系列功能降低人造伪影,如BHR射束硬化
降低,BHC射束硬化矫正,降低环形伪影,降低
体素噪音等
-清晰的目视错误识别
其他专业配置
-兼VOLUMEGRAPHICS软件
-ORYX1616新探器:
·高处理速度
·始终如一的图片质量,得益于稳定的探测器工
作温度
·放射不影响部件寿命(辐射抗性)
应用
-电池
-接头
-不易观察的电子部件
-医用材料
-军用及航天电子
实验室检测:确分析打造的前沿技术
金线的CT扫描结果
一键”功能
“一键”功能方案使很多高阶的X射线检测操作变得
非常简单。例如:
-点击&定中
-框选&放大
-PowerDrive
-Zoom+
这些功能能够确保恒定的放大倍数,无需调整射线
管参数或进行软件补正,至需要轻轻点击一次即可
实施。
扩展的 BGA 检测
通过CheetahEVO,用户能够快速选择和标记单独
的一个球体,不论手动方式或自动栅格识别。引导
功能会在整个工作流程中帮助用户完成设置,确保
完美的精度和获得可重复的结果。此外,这个功能
允许多个用户运行同一个程序。
扩展的 ADR 交互界面
CheetahEVO的软件配置能够通过用户的特殊需求
提供定制化软件方案,甚至能够提供定制化的算法
方案。
eHDR
为了确保最高水平的产品质量,eHDR滤镜功能可以
高亮一些复杂的结构,用户只需一次点击即可。得
益于先进的软件和增强的16位灰阶,系统能够在灰
阶中探测到极其微小的差异,没有一处缺陷会被遗
漏。这使得您能够轻松地观察到之前无法看到的缺
陷。
多区域空洞计算 (MAVC)
现今的焊接工艺正变得越来越复杂,方形扁平无引
脚和其他底部封端的器件只能被X射线检测到。虚焊
或缺失的焊点,以及大区域的空洞都能够被可靠的
检测到,多区域空洞计算功能甚至能够帮助用户分
析复杂焊接设计中的空洞分布。然而,这一功能只
需要设置4个参数,步骤快速,简便,成本经济。所
得出的结果质量始终如一,可重复,并且精确。
予您
BGA中的空