雅马哈3D-AOI技术介绍汇总.pdf - 第36页
SEPL W14500 -00 V1.00 ◼ ◼ 2D 图像 3D 图像 ◼ ✓ ✓ ✓ ✓ ✓ ✓ ✓ ✓ ◼ 2D 检查 的难点 与盲区 白 色基板 上的白 色元件 I 财鲍财 — 黑 色基板 上的黑 色元件 Confidential 2D 检查技 术发展 停滞, 存在 很大局 限性, 淘汰只 是时间 的问题 2D 检查 的盲 区：相 同元件 即使设 定相同 ，检 查结果 也会有 差异： 因 干涉导 致的位 置差异 相邻元 件阴影…
3D-A0I
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2D图像
3D图像
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✓
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✓
✓
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✓
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2D
检查
的难点
与盲区
白
色基板
上的白
色元件
I
财鲍财
—
黑
色基板
上的黑
色元件
Confidential
2D
检查技
术发展
停滞,
存在
很大局
限性,
淘汰只
是时间
的问题
2D
检查
的盲
区：相
同元件
即使设
定相同
，检
查结果
也会有
差异：
因
干涉导
致的位
置差异
相邻元
件阴影
元
件亮度
基
板颜色
照
明颜色
PCB
差异
来
料差异
产
品差异
2D
的设定
条件需
不断与
生产状
况同步
调整,
不断的
根据不
同基板
相应的
更改设
定条件
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3D
检查不
再需要
考虑基
板和元
器件颜
色色差
的干扰
3D-A0I
编程
更简单
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