赫立AOI操作手册.pdf - 第41页

上海赫立电 子科技有 限公司 在线型自动 光学检测 仪使用手 册 第 40 页 共 64 页 b) 算法参数设置定义 算法参数 参数功能 参数类型 [ 参数值域 ] 参数详解 相对目标 选择相对的 目标 下拉列表 [ 父 窗 口 / 元件 /PCB] 可根据实际 情况, 选 择 [ 父窗口 ] 、 [ 元件 ] 或 者 [PCB] 为输出偏 移量的相 对目标。 最大偏移 设置偏移的 最大范围 长度数值 [0 -+ ∞ ] 设置元件偏 移…

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5-3. 测算法及参数详解
5-3-1. MARK 定位
a) 算法工作原理
在检测窗口指定的区域内,通过亮度过滤及 Mark 点的形状、大小设置计算 Mark 图像与预设
条件的匹配相似程度,并自动搜索定位 Mark 点的中心位置,以达到将所有元件窗口中心位置和每
块待测 PCB 实际图像更精确地进行位置匹配的目的。
b) 算法参数设置定义
算法参数
参数功能
参数类型
[参数值域]
参数详解
过滤阈值
过滤 Mark 点周边的干扰
亮度数值
[0-1]
通过亮度抽取的方式过滤 Mark 点以外
的亮度,使 Mark 点的形状突显出来。
Mark 类型
设置 Mark 的类型
下拉列表
[圆点/方块]
可根据实际 Mark 点的形状,选择[圆点]
[方块]
Mark 尺寸
设置 Mark 尺寸的大
长度数值
[0-+]
可根据实际 Mark 点的大小,设置 Mark
的尺寸,Mark 点的尺寸设置将直接影响到
最终运算结 Mark 点的匹配相似度。
合格范围
设置合格的范围
百分比
[0-1]
设置 Mark 点的当前图像与预设条件的匹配
相似度的有效范围,当不符合有效范围时,
Mark 点报错,将不进行定位;当符合有效
范围时,系统才进行全局定位运算
c) 运算结果
数据类型[数据范围]分比[0-1]
运算结果详解:Mark 点当前图像与预设条件的匹配相似程度的百分比。
5-3-2. 逻辑或
a) 算法工作原理
多个或多组检测条件(检测窗口)同时运算和判断,要其中 1 个或 1 组合格,则判定为合格
有全部检测条件都不合格时,才判定为不合格。常用于待用料的检测元件错件检测、及色环电阻
检测等。
b) 算法参数设置定义
算法参数
参数功能
参数类型
[参数值域]
参数详解
N/A
N/A
N/A
N/A
c) 运算结果
数据类型[数据范围]N/A
运算结果详解N/A
5-3-3. 相对偏移值
a) 算法工作原理
可设置相对父窗口、元件或者 PCB 进行偏移量输出;所有需要偏移量输出的元件都需要在算法中
追加此子窗口方能输出偏移量。
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b) 算法参数设置定义
算法参数
参数功能
参数类型
[参数值域]
参数详解
相对目标
选择相对的目标
下拉列表
[ /元件
/PCB]
可根据实际情况,[父窗口] [元件]
[PCB]为输出偏移量的相对目标。
最大偏移
设置偏移的最大范围
长度数值
[0-+]
设置元件偏移的最大范围元件偏移的数
值超过此值时,窗口报错;若最大偏移设为
0 时,无论元件偏移多少都不报错。
输出偏移量
是否输出偏移量
复选框
[勾选/勾选]
勾选,偏移量
SPC 报表,反之将不提交。切记:唯有复
选框勾选后系统才进 Mark 点全局定位
运算,否则 Mark 点运算无效。默认为勾上。
c) 运算结果
数据类型[数据范围]度数值[--+]
运算结果详解当前计算所得的边界位置与预先设定位置之间的偏移量数值,以+/-区别偏移方向。
上下两行结果数据分别代 X 方向和 Y 方向各自的偏移量数据。
5-3-4. 全板匹配剔除
d) 算法工作原理
启用全板匹配情况下从全板范围内剔除检测窗口指定的区域使之不参与全板匹配的运算,用
消除元件本体或者焊锡形状差异所导致的不必要的误报
e) 算法参数设置定义
算法参数
参数功能
参数类型
[参数值域]
参数详解
N/A
N/A
N/A
N/A
f) 运算结果
数据类型[数据范围]N/A
运算结果详解N/A
5-3-5. 窗口生成
a) 算法工作原理
在检测窗口指定的区域内,以实时响应方式快速矩阵/阵列形式生成一系列检测窗口。常用于 IC
脚检测窗口中心位置的快速生成、几何对称元件检测窗口中心位置的快速生成。
b) 算法参数设置定义
算法参数
参数功能
参数类型
[参数值域]
参数详解
IC 类型
选择 IC 的类型
下拉列表
[IC/Connector]
选择 IC 类型,可选[IC]或者[Connector]
[IC] SOP
QFP 的引脚,[Connector]可生成单边引脚。
引脚长度
设置引脚的长度
长度数值
[0-+]
设置每个引脚的长度
引脚宽度
设置引脚的宽度
长度数值
[0-+]
设置每个引脚的宽度
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引脚个数 A
设置引脚 A 的个数
自然数
[0-+]
设置 A 方向引脚的个数,若引脚个数为 0
时,显示为无引脚。
引脚距离 A
设置引脚 A 的距离
长度数值
[0-+]
设置 A 方向引脚间距,若引脚间距为 0 时,
多个引脚将重叠在同一个位置上, A 方向
引脚个数为 0 时,引脚间距的数值将不起任
何作用。
引脚个数 B
设置引脚 B 的个数
自然数
[0-+]
设置 B 方向引脚的个数,若引脚个数为 0
时,显示为无引脚。
引脚距离 B
设置引脚 B 的距离
长度数值
[0-+]
设置 B 方向引脚间距,若引脚间距为 0 时,
多个引脚将重叠在同一个位置上, B 方向
引脚个数为 0 时,引脚间距的数值将不起任
何作用。
c) 运算结果
数据类型[数据范围]N/A
运算结果详解N/A
5-3-6. 极性检测
a) 算法工作原理
在检测窗口指定的区域内,自动辨识窗口长度方向上的亮暗分布差异,辨识结果二值化N P
判断。常用于检测一些极性元件(例如二极管、三极管IC)的极性检测
b) 算法参数设置定义
算法参数
参数功能
参数类型
[参数值域]
参数详解
极性
选择极性 P 或者 N
下拉列表
[P/N]
若当前元件的极性为 P件极反后,极性
则变为 N,窗口即报错。反之亦然。
c) 运算结果
数据类型[数据范围]值化结果[P/N]
运算结果详解:“极性参数设置 P,而 当前元件的运算结果为 N则窗报错暨为极反缺陷。
反之亦然。
5-3-7. 亮度聚合
a) 算法工作原理
在检测窗口指定的区域内两个或多个的子检测窗口的结果值进行比较极差、平均值、最小值
最大值的运算。常用于检测一些极性元件(例如二极管、三极管IC)的极性检测
b) 算法参数设置定义
算法参数
参数功能
参数类型
[参数值域]
参数详解
聚合类型
选择聚合类
下拉列表
[比较/极差/
均值/最大/
小值]
可把多个窗口的数值进行各种聚合运算。
合格范围
设置合格的范围
亮度数值
[0-1]
设置聚合类型的合格范围。
c) 运算结果
数据类型[数据范围]度数值[0-1]
运算结果详解:个或者多个窗口进行聚合运算的结果值。