赫立AOI操作手册.pdf - 第51页
上海赫立电 子科技有 限公司 在线型自动 光学检测 仪使用手 册 第 50 页 共 64 页 5-4 . 常见 缺陷检测方法 及常用 检测 算法应用实例 5-4-1. 缺件 a) 缺件检测 方法 之 颜色抽取 HSV 在 Side （ RGB ） 真彩色图像模 式下： 电容 C1 未缺件时， 当前 检测窗口 位置应为 元件本 体之褐色 （基本 无任何绿色 ） ；电容 C1 缺件 时，则当 前检测 窗口位置应 被裸露出 的电路板 基板 绿…
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b) 算法参数设置定义
算法参数
参数功能
参数类型
[参数值域]
参数详解
合格范围
设置合格的范围
亮度数值
[0-1]
设置亮度投射最小跨度数值的合格范围。
c) 运算结果
数据类型[数据范围]：亮度数值[0-1]
运算结果详解：亮度投射最小跨度数值。
5-3-25. 条码识别
a) 算法工作原理
在检测窗口指定的区域内，自动辨识各种条码。
b) 算法参数设置定义
算法参数
参数功能
参数类型
[参数值域]
参数详解
条码格式
设置条码的格式
下拉列表
[Codebar/Code39/Cod
e93/Code128/DataMatr
ix/EAN8/EAN13/ITF-14
/PDF417/QRCode/UP
C-A/UPC-E]
设置需要检测的条码格式
匹配模式
设置匹配的模式
下拉列表
[无/仅数字/仅字母/仅字
享 福和 数 字/限 定长 度
12]
设置需要匹配的条码模式
侦测格式
自动侦测条码的模式
N/A
[点击侦测]
自动辨识条码的格式及具体数值
c) 运算结果
数据类型[数据范围]：字符数值类型
运算结果详解：辨识出的各种条码
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5-4. 常见缺陷检测方法及常用检测算法应用实例
5-4-1. 缺件
a) 缺件检测方法 之 颜色抽取 HSV
在 Side（RGB）真彩色图像模式下：电容 C1 未缺件时，当前检测窗口位置应为元件本体之褐色（基本
无任何绿色）；电容 C1 缺件时，则当前检测窗口位置应被裸露出的电路板基板绿色几乎全部占据。
因此，在当前检测窗口区域内，运用颜色抽取 HSV 方法计算颜色为绿色的像素个数占窗口内像素总数
的百分比应在 50%以内（通常情况下运算结果应几乎为 0）。如若缺件，运算结果将远大于 50%。
b) 缺件检测方法 之 亮度平均值
在 Top (RGB) Dark 图像模式下：当 IC 元件 U4 未缺件时，本体相对较暗，亮度平均值也相对较小；当
元件缺件时，元件本体下的基板便裸露出来，而基板亮度相对较亮，亮度平均值相对较大。
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c) 缺件检测方法 之 亮度最大值
在 Side (RGB)真彩色图像模式下：当二极管 D1 未缺件时，本体相对较暗，亮度最大值相对较小；当元
件缺件时，元件本体下的白色高亮丝印便裸露出来，亮度最大值则相对较大。
d) 缺件检测方法 之 亮度投射最小跨度
在 Top (RGB) Dark 图像模式下：当电容 C14 未缺件时，基板是相对较亮，而元件本体左右两侧两道暗
边就会贯穿当前检测窗口，亮度投射最小跨度的原理是当有极亮或极暗的物体贯穿检测窗口长度方向
时，结果值将会较大，所以当元件没有缺件时，亮度投射最小跨度结果值将较大；而当元件缺件时，便
无两道暗边贯穿检测窗口，亮度投射最小跨度结果值将较小。