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8 504.01 中的新功能 SIPLACE 软件指南 SR.504.xx 8.4 带 PCB 条形码的同步双传送导轨 2003 年 1 月版 86 当使用带双传送导轨的贴片机时， 在缺省情况下，印制电路板为异步移动。印制电路板交替 在传 送导轨 1 和传送导轨 2 上装配。这意味着，传送所需的时间未 延长贴装的时间。在这种情况下， 面板与单个印制电路板相关。当使 用同步传送导轨系统时，印制电路板横跨两个料槽 。因此， 该 印制电路板至…
SIPLACE 软件指南 SR.504.xx 8 504.01 中的新功能
2003 年 1 月版 8.3 矩阵式料盘交换器 MTC2
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8.3 矩阵式料盘交换器 MTC2
如果装载了 MTC2，即可使用高达 240 x 340 mm 的料盘。 MTC2 可以容纳 100 个 Jedec 料盘。8
MTC 记录运行小时和用于元件供应的供料层更改的数量。通过 SITEST 可调用该数据。 8
504.01 软件已进行了如下更改。 料盘塔 1 较宽，且 6 个料层中的每一层均可容纳 5 个料盘。功能未
做任何更改。 8
8
使用 “Feeders （供料器）” --> "MTC" 视图，调用 MTC 功能。 8
8
Fig. 8.3 - 1
“矩阵式料盘交换器”视图
8.4 带 PCB 条形码的同步双传送导轨
从 503.01 版开始，即可使用同步双传送导轨功能。 504.01 版现允许使用带 PCB 条形码的同步双
传送导轨。 8
8 504.01 中的新功能 SIPLACE 软件指南 SR.504.xx
8.4 带 PCB 条形码的同步双传送导轨 2003 年 1 月版
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当使用带双传送导轨的贴片机时，在缺省情况下，印制电路板为异步移动。印制电路板交替在传
送导轨 1 和传送导轨 2 上装配。这意味着，传送所需的时间未延长贴装的时间。在这种情况下，
面板与单个印制电路板相关。当使用同步传送导轨系统时，印制电路板横跨两个料槽 。因此，该
印制电路板至少由两个子面板组成，被称为 “逻辑印制电路板”，见下。 8
在缺省情况下，传送导轨控制器将传送导轨料槽视为彼此独立 （异步）。进行同步双传送导轨操
作时，您可以将在两个输入传送导轨上同时移动到贴片机上的印制电路板视为单个逻辑印制电路
板。这可以增加要求不同吸嘴配置的面板的处理量。 8
物理印制电路板被释放后，同时移入处理区域并被夹紧。被传送到处理传送导轨后，即可确定逻
辑印制电路板是否包含一个或多个物理印制电路板。这样可确保，即使单个印制电路板也能够贴
装。 8
然后，开始贴装。贴装完成后，组成逻辑印制电路板的物理印制电路板被同时释放，并传送到下
一个传送导轨上。 8
只有与两个料槽相对应的下游传送导轨被清空后，才能将逻辑印制电路板 （由一个或更多物理印
制电路板组成）传送到下一个传送导轨上。 8
注意
同步传送必须在编程系统和贴片机上，通过 SITEST 进行配置。如果编程系统的规格与贴片机的
配置不匹配，就会发出错误信息，随后进行的回参考点也会失败。 8
SIPLACE 软件指南 SR.504.xx 8 504.01 中的新功能
2003 年 1 月版 8.5 元件抛料
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下列工作流 / 条件同样适用于 PCB 条形码操作： 8
– 每个印制电路板有一个条形码。
– 印制电路板行进至贴片机时，读取条形码。
– 两个条形码被传送到编程系统中。 该编程系统从配置的方法中选择相应的方法。此方法的面板
信息传送到贴片机上。
– 如果编程系统中没有为已读取的条形码分配的方法，则该印制电路板直接通过贴片机传送。
– 如果印制电路板没有条形码，或条形码无法读取，贴片机打开对话框，并提示操作员输入条形
码。
8.5 元件抛料
自 504 版起， SIPLACE HF 配有一个新的抛料仓，该抛料仓用于 6 吸嘴和 12 吸嘴旋转头。 旋转
头或其最下面的段位器可直接置于该抛料仓的上方。这可确保当星形轴处于 6:00 的位置时，开始
进行抛料，并提高抛料的可靠性。 8
在 504 版本中，该抛料仓为缺省设置。 8
在带有旋转头的处理区域中，最多可能有两个抛料仓，每个抛料仓用于一个料位侧。如果在处理
过程中，必须抛弃元件，则贴片头移动到最近的抛料仓。 8
如果使用 MTC 代替料台，料位的抛料仓就会被覆盖住，仅而无法使用。相反，如果使用料台而
不是 MTC ，则可添加一个抛料仓。这由软件来控制。 8
8.6 新 IC 和 FC 摄像机
对于 SIPLACE HF 贴片机， 504 版本中包括两个静态摄像机系统。视野为 45 x 55 mm 的静态 IC
摄像机 (SST22) 主要对 40 x 50 mm 元件进行一次测量。视野为 11 x 11 mm 的可选静态 FC 摄像
机 (SST20) 主要对 8 x 8 mm 元件进行一次测量。可使用其中任一摄像机，进行多次测量。 8
校准和配置摄像机时，使用 SITEST。 8
8.7 SITEST – 新功能
注意