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第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序 4- 242 5) 单独测量结束画 面（轴向进纸器 吸取高度结果 ） 当轴向进纸器的 吸收高度测量完 成后，将看到 以下画面。 a) 引脚突出量 将被显示的输出 测定铅量。是相 同的值作为“ 补正后的引脚突 出量” 。 b) 补正后的引脚突 出量 它显示前和后测 量吸取坐标 Z 。 c) 确定（ [F 9] 键） 吸取的测 量结果的值 Z 坐 标反映的吸附数 据。 此后，将原始单 一测量条件…
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实施例）的条件的部位时，以下
组件高度测量结果： 18.0mm
喷嘴头高度： 15.0mm
补正后的引脚突出量 ： 1.5mm
吸取坐标Z ： 7.0mm
吸取坐标Z 为在下面计算。
引脚突出量 = 18.0 – 15.0 = 3.0mm
高度补正值 = 3.0 – 1.5 = 1.5mm
补正后的吸取坐标Z = 7.0 – 1.5 = 5.5mm
c) 为了反映吸附数据教学效果
如果检查是有效的，以反映该测量结果的吸附数据的抽吸高度。
托盘元件无法反映在吸取数据中。
补正后的
引脚突出量
引脚突出量
喷嘴高度
喷嘴和组件之间
（＝引脚突出量）
①
②
高度补正值
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5) 单独测量结束画面（轴向进纸器吸取高度结果）
当轴向进纸器的吸收高度测量完成后，将看到以下画面。
a) 引脚突出量
将被显示的输出测定铅量。是相同的值作为“补正后的引脚突出量”。
b) 补正后的引脚突出量
它显示前和后测量吸取坐标 Z。
c) 确定（[F9]键）
吸取的测量结果的值 Z 坐标反映的吸附数据。
此后，将原始单一测量条件设置屏幕它将返回。
d) 取消（ESC 键）
禁用的测定结果，然后，返回到原来的单一测量条件设置屏幕。
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(2) 连续测量
测量指定的全部元件。
1) 设置连续测量条件
从菜单栏中选择「机器操作」/「测量」/「连续测量」，显示如下画面。
a) 对象元件
设置对元件数据的某项条件一致的元件进行测量。
● 全元件
测量全部元件的数据。
● 仅限薄元件
仅测量元件高度在设定尺寸以下的元件。
● 仅限指定元件类型
仅测量指定的元件类型。
● 仅限指定的吸嘴的使用元件
仅测量要使用指定的吸嘴的元件。