赫立AOI中文客户培训教材(2).pdf - 第36页

电 阻缺件的差异你找了 吗 ? 需要你 对 算法的充分理解 找到一种光源如上 图 所示,当出 现 距离 的差异 时 ,使用算法亮度梯度双 边 距离( mm ), 设 置范 围 ,当元件缺件的 时 候,距离会 变 短, 设 置下限如下 图 如果缺件,两条 绿线 的距离是 0.20 0 less than 0.35 , 报 警:缺件 算法:亮度梯度双 边 距离( mm ) 在“亮度梯度双 边 定位” 获 取的两条 边 界的基 础 上, 计 …

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候我定位本体的候受部分干
可能致窗口引脚的位置不在测试中心,
可通亮度梯度双定位重新搜索位
置精准定位,以致重新搜索到窗口中心
检测窗口偏移
回到中心
因本体定
位干
致的
窗口随之
偏移
效果
算法:亮度梯度双定位
检测窗口指定的区域内,以及指定的范内,在指定的方向(或短方向),自追踪取指定方
式(亮到暗,或暗到亮)的最大明暗化的两条界。。用于更准确的找到测试点位置做的致定位
选择长方向,短方向的效果
选择两种追踪模式的效果
使用双定位重新
搜索引脚中心位置
算法例:桥连
选择一种黑白分明效果的光源,选择
向和追踪模式找到自己想精准定位的位置
不要“任意”
阻缺件的差异你找了?
需要你算法的充分理解
找到一种光源如上所示,当出距离
的差异,使用算法亮度梯度双距离(mm),
置范,当元件缺件的候,距离会短,
置下限如下
如果缺件,两条绿线的距离是0.200
less than 0.35, 警:缺件
算法:亮度梯度双距离(mm
在“亮度梯度双定位”取的两条界的基上,算出两条界之的距离
和双定位的算法有点似,个算法是在双定位的基算出两条定位线的距
置上下限来测试不良缺陷
选择长方向,短方向的效果
选择两种追踪模式的效果
找到一种光源如上所示,当出距离的差
,使用算法亮度梯度双距离(%),点
检测图标,卡住分布区域,当元件缺件的
候,百分比会化,置下限如下
如果缺件,算出的距离百分比是
25.08%<32.1%, 警缺件
算法:亮度梯度双距离(%
在“亮度梯度双定位”取的两条界的基上,算出两条界之的距离占检测
窗口自身度的百分比
阻缺件的差异你找了?
需要你算法的充分理解