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ヤマハ発動機株式会社 IM 事業部 マウンター技術部 ソフト開発グループ MDOC-SOFT50350 3/12 表 2.1 チューニング対象補正タイプ・アルゴリズム、及びチューニング対象パラメータ チ ッ プ 部品 標準チップ 通常 O - - O 電極欠けチップ認識 O O - O 電極輝度チェック O O - O 方向判定 O O - O 中央部輝度チェック…
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本機能の対象機種、対応バージョンは以下の通りです。
表 1.1 本機能の対象機種・ソフトウェアと対応バージョン
対象機種・ソフトウェア名 対応バージョン 備考
YSM40、YSM20 V4.45STDR1.000 以降
YS100、YS88、YS12 シリー
ズ、YS24 シリーズ、YS24X シ
リーズ、YSH20
V3.45STDR1.000 以降
本機能は、生産中に、複数の部品の認識結果から適切な部品認識パラメータを作成できる機能
です。バラつきがある部品や、マルチサプライヤー部品間でサイズが異なる場合などに、認識エラ
ーで部品廃棄されていたケースを減らすことができます。これにより、部品データ変更の作業時間
を短縮でき、廃棄部品も最小限に抑えることができます。
また、一定の条件を満たした場合、チューニング結果を自動的に他の基板データに引き継ぐ機能
もあります。引き継がれることにより、他の基板データで最初からデータチューニングをやり直す
必要がなくなるため、認識エラーによる部品廃棄を減らすことができます。
1. シングルカメラ認識部品、及びコプラナリティカメラ認識部品は、チューニング対象外です。
(*01)
2. YS シリーズマシンの場合、部品サイズ XY の認識結果が 65.535mm を超えた部品は、サンプ
ルに加えられません。(*01)
3. チューニング対象の補正タイプ・アルゴリズム、及びチューニング対象パラメータは、下表の
通りです。
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表 2.1 チューニング対象補正タイプ・アルゴリズム、及びチューニング対象パラメータ
チ ッ プ
部品
標準チップ 通常 O - - O
電極欠けチップ認識 O O - O
電極輝度チェック O O - O
方向判定 O O - O
中央部輝度チェック O O - O
電極中心検出リトライ O O - O
チップアレイ認識 O O - O
メルフチップ 通常 O O - O
ベアチップ 通常 O - - O
サイズフィット認識 O - - O
極小ベアチップ認識 O - - O
特殊チップ 通常 O - - O
極小チップ 通常 - - O O
O：対象 / -：対象外
< 注意 >
- リード幅は、画面上は 1 項目しか表示されていない場合でも、内部的には「リード幅 N1」と「リ
ード幅 S1」の両方のチューニングが行われます。ただし、「編集モード」が「詳細」で、「リードグル
ープ数 E」と「リードグループ数 W」の両方に 1 以上の値が設定されている場合は、「リード幅 E1」と
「リード幅 W1」がチューニング対象となります。
部品データ自動チューニング機能は、大きく分けて、部品情報チューニング機能と、チューニング
結果引き継ぎ機能から構成されます。
本機能では、部品情報のチューニングを行います。
自動運転中の部品認識時に部品サイズ XY 及びリード幅の測定を行い、1 吸着グループ終了ごと
に平均値を計算し、部品情報に反映させます。公差チューニングが有効で、所定のサンプル数
（部品点数）に到達している場合は、さらに公差を計算し、部品情報に反映させます。所定のサン
プル数を超えた場合は、最も古いサンプルを破棄して新しいサンプルを加えることで、常に直近の
サンプルを対象にします。
なお、認識エラーが発生した部品でも、部品サイズ及びリード幅の測定に成功した場合は、サンプ
ルに加えられます。（部品サイズ、リード幅のいずれかがサンプル許容率を超えている場合は除
く）
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図 3.1 1 吸着グループ内での部品データ自動チューニング処理
図 3.2 部品データ自動チューニング処理（1 ヘッド分）の流れ
部品吸着
部品認識
（「部品サイズ XY」「リード幅」の認識結果を記憶しておく）
部品搭載
部品サイズ XY、リード幅の平均値を計算
サンプル許容率以下？
サンプル数到達？
チューニング結果（部品サイズ XY 等）を部品情報へ反映
チューニング対象部品？
サンプル追加（古いサンプル消去）
Yes
No
No
Yes
No
Yes
チューニング処理（1 ヘッド分）開始
チューニング処理（1 ヘッド分）終了
公差を計算