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Test Research Inc. TR 7007 SII Us er Guide – Sof tware 91 高度演算–設定錫膏高度判定的方法，可選擇 [ Average ] 、 [ Medium ] 、 [ Max Count ] 或 [ Max Height ] 。 [ A verage ] 表示以平均值計， [ Medium ] 表示以中位數計。建議用在直方 圖顯示三個峰值時可指定判定方式。 底層演算–設定底部判定的方法。可…
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7) 搜尋範圍–設定搜尋範圍，系統會在此檢測框的搜尋範圍內搜尋，並認定最大面
積的錫點為此錫點的錫膏。搜尋範圍可分上下左右設定，此參數可以畫素或百分
比(上下百分比依長度，左右百分比依寬度)來計算，如果改變畫素，會自動換算
百分比，也就是這兩個參數具連動性，搜尋範圍顯示如檢測框外虛線部份。
8) 演算法–可設定針對雜訊進行過濾的功能。
CS.H–去除暗點的雜訊。
Range2–主要過濾直方圖中的雜訊。直方圖中超過所設定之參數即被濾除，設定為 0
時為系統預設值為 400。
最小高度–以 base h0 為起點偏差設定值後計算錫膏。
2D 遮罩–本功能主要在解決白線產生之問題。以 2D 灰階圖為樣本，將搜尋範圍內所
設定的灰階以上的資料點濾除後再做檢測。
9)
檢測框長寬比
錫形分數
設定值
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TR7007 SII User Guide – Software 91
高度演算–設定錫膏高度判定的方法，可選擇[Average]、[Medium]、[Max Count]或
[Max Height]。[Average]表示以平均值計，[Medium]表示以中位數計。建議用在直方
圖顯示三個峰值時可指定判定方式。
底層演算–設定底部判定的方法。可選擇[Average]、[Medium]、[Base Hight]或[Base
Low]。[Average]表示以平均值計，[Medium]表示以中位數計，[Base Hight]表示以
最大高度計，[Base Low]表示以最小高度計。建議用在直方圖顯示三個峰值時可指定
判定方式。
10) 額外控制
錫膏群組–設定將檢測框內的錫膏合併計算，當系統在搜尋範圍內找到 2 群以上的錫膏
時，會加總計算作為本檢測框的檢測結果。
忽略框–勾選表示此檢測框不檢測
預先處裡–勾選表示系統會根據影像自動濾除細絲類型的雜訊。
重試–針對檢測出不良的錫點，再次檢測，如第一次檢測為 PASS，則重試不啟動。
使用說明：為防止使用者誤勾選，啟用這部分功能需勾選兩次空白框，啟用步驟如下
所示：
1 勾選[額外控制]空白框。
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2 勾選錫膏群組上空白框。
3 勾選錫膏群組下空白框。
4 點選[套用]，啟用完成。
取消步驟如下所示：
1 勾選[額外控制]空白框。
2 勾選錫膏群組上空白框。
3 取消錫膏群組下空白框。
4 點選[套用]，完成取消。
11) 額外控制 2
高度補–設定高度補償值，檢測後的高度結果會再加上此補償值後進行條件比對，單位
為 um。