【IPC-7095C】_BGA设计与组装工艺的实施_(IPC标准).pdf - 第105页

所 需 的电 压 部 分 取 决于 所 使用 的特 定 X 射线系统 的 灵 敏度 和 待 测 BGA 的 结构 和 性 能。 例 如 对 带 有 铜散热器 的 BGA , 比 PBGA 或 CBGA 需 要 更 高 的 穿透 电 压 。而 带 有 铝 散热器 的 BGA ,不 需 要 较高 的电 压 , 因 为 铝 属于 低 密度 材料, 相比于 铜 更 能 让 X 射线 穿透 。 7.3.3 X 射 线系 统 术 语 的定义和 讨论…

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7-4 检测⽅法推荐
⽅法 ⼯艺开发 线⽣ 失效分析 ⼯艺审核 PI量⽣
检测 好好
X-ray
传输型X-ray 好好好
X-ray 好好
扫描声波显微镜 好好
隙高度测量 好好
动光检测 焊膏
元件识别
焊膏
元件识别焊膏 元件识别焊膏
破坏性分析 好差
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图7-18 X-线技术的基本
X射线管
管控制
控制杆/计算机
数字控制(CNC)
图像处理
调制器
探测器(图像链)
图7-19焊球缺失的X-线
图7-20焊触点空洞的X-线图例
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的电决于使用的特X射线系统
敏度BGA结构能。
铜散热器BGAPBGACBGA
穿透。而散热器BGA,不
较高的电属于密度材料,相比于
X射线穿透
7.3.3 X线系的定义和讨论 市面
上的X射线检测有人工(MXI)和动(AXI
MXI系统有不同程动化,可包
BGA分析动图像处理能、动化
作。X射线系统一特
视获高放7.3.3.2
AXI系统MXI为,AXI系统能在线使用
作员来作出接收/
MXI设备几乎只X射线技术,而AXI设备
以进
的组AXI设备
有三形式:
AX被称2-D X射线
AX被称3-D X射线
2-D/3-DAXI
下面为面和组X射线检测应用
定义:
射型X射线成位X射线源和
的所有特。图7-237-25示的
是透层合成和分层X射线的示
AXI 成电路一个面的图
层合成和分层是切AXI
AXI设备PCB检测中并行使用
技术。合型系统状况自
图7-21 ⼿X-线系的图质量
图7-22 形失和电压过X-线例⼦
图7-23 2D
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的技术并自由使用
的技术。面都贴装有元器件的组上(类型
2,标准的X射线技术叠使焊点
集无法到,非采用视法
一方面,不能采用时,面技术
的测试访问X射线技术
焊点体积的信息,而技术
焊点面的信息,在类型
焊点
时,这些技术特和通能力。所
有的面和组X射线技术都能测到
于焊点外形变化而PCB件缺这些
件缺类型不限于:焊路、
开路、料不缺件元件接空
7.3.3.1 X线技术 X
射线X射线源和以是
动,化。
,在视线上的所有特
同时测到,是没
材料度或密度致透X射线
中的不同,而在图像显示中呈现
或明或。对单一材料类型
料)到的X射线光子与材料
正比
成的
定焊点可接。图7-26示了检测的
7.3.3.2 X线技术的斜视检测 X
线系统检测有两种本方
由倾斜样 来得到 7-27所示的
斜角这种技术可能无法
达成最高放
的方使用广角透X射线源,
7-28所示。在这种中,X射线
中心动,用辐射
可达到的最高放倾斜
7-297-30过比较自顶向
FBGA说明了在高放
优点
图7-24 层合成成3D
图7-25 分层成像切⾯图 (3D)
图7-26 图例
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