【IPC-7095C】_BGA设计与组装工艺的实施_(IPC标准).pdf - 第89页

焊性 。在 再流过 程中 由 于多 种原 因形 成的 锡 珠 通 常是 可 靠性 所关心的 问题 ,特 别 是 包含有 密 节距器件 时。 溶 剂 对 于 控 制焊膏 的 粘性 有 重 要 的作 用 ,并 且 会 影响流变性质 。 BGA 焊点 中空 洞 的 形 成与 焊膏 中的 溶 剂 有关。 低 沸 点 的 溶 剂 和 /或 不 正 常 的 再流 参 数 会 使 BGA 焊点 中空 洞 的 发 生率 增加 。 为了 细节距 BGA …

100%1 / 176
以从他们的设备中提出标准的信息。
项新技术成的关于其
结构。车间的任何设备可连接到架构
数据集合XML作为标准以确不会有
人对数据产。不故障
纠错产品改善故障的可追溯
故障的来源和
,提产品质量和减少成本要了
故障图。从生
不同阶段
故障可能个不同的字。采用CAMX
标准,在产运行间的故障名称持一
改善了通信的
电子制造EMS)提,不
的工艺什么CAMX标准在影响数据
合数据分析制造
该软件比半导体工业开发的系统
那么复杂,
所有设备符合
一标准,其结果是设备使用便和支持便
捷。
标准化为开展更详尽数据分析会,
标准减少收集信息上的力。
IPC-2501作为CAMX信息代
IPC标准化的基于XML
动。对信息的设备
仅仅向现基于和通XML信息SOAP
协议“订
应用或系统可,考虑其它
面的构架和实时下载响应SOAP种由
要的计算和支持的XML通信标准。
它形成了设施基础
当原始设备制造OEMS时,机器
XML信息类型很少是要的。但是随着
量的增多整合成为例外
非规。新标准使OEM客户有可能
包而的审视制造动的测量。
使用用数据
也给了对他们
控以 止客户 产线的能
力。元器件他们的元器件
线使用并接本来EMS公司
OEM公司负责能。
6.8.3 多场合,文会参考其它规
这些规范应 以原
拷贝电子版)同的方应当
元器件符合性
电路,这样元件可通过破
坏性技术来测符合性电路至少
电路号/版本字
和参料清单
追溯
•日编码
制造份,业和政府CAGE
标志等等
使用系统要他们在图中
7 印制电路板上的BGA组装
7.1 SMT组装⼯艺 方面连接BGA元器
的组装工艺连接细节距外元器件的组装
工艺
但是其它方面要求
工艺不良比外细节距元器件
的工艺要的。
7.1.1 及其施 表面贴装组装工艺使用
焊膏BGA球连接到电路上的连接焊膏
可通式施加到连接丝印模板印
点涂BGA用模板焊膏印BGA
连接上,模板的开孔尺寸BGA连接盘尺寸
模板和开孔尺寸决定设计的焊膏量,焊膏
量对
BGA类型焊点靠性是至
的。刮刀类型和工艺参数设定影响
焊膏量。使用较密节距BGA元器件小模
;但减小模板要特别小心不要
减少其它元器件焊膏量。形模板
部开)通作为
们可改善焊膏
焊膏金属粉末颗粒焊剂
成。焊膏金属含量
(通量的90%决定
焊点中的料量。焊膏合金Sn
63Pb37无铅合金SAC30596.53.00.5
金属粉末颗粒为球状均匀颗粒
于印或点涂工艺可通表面
减少氧化。
焊剂焊膏大部焊剂
中的将氧物从颗粒、连接
BGA球中清
们提再流焊过程的可
IPC-7095C-C 20131
74
焊性。在再流过程中于多种原因形成的
常是靠性所关心的问题,特包含有
节距器件时。制焊膏粘性
的作,并影响流变性质BGA焊点中空
成与焊膏中的有关。
/或再流使BGA焊点中空
生率增加
为了细节距BGA的成焊膏必须
模板极小的开焊膏
要在一的时间
持可粘性,同时必须再流焊之前
的清焊膏粘度颗粒
模板寿命施加焊膏时的关
7.1.1.1 颗粒尺⼨和选择 市面上的焊膏
据印焊剂密节
距焊颗粒尺寸焊膏
可提
塌陷焊膏中的焊剂应
并能表湿性再流
使用免焊剂与清工艺表面电
要求兼容颗粒宽度
除以4.2结论是由实验验得出的。
反这条规定时,会影响焊膏
颗粒尺寸J-STD-005行分类
7-1
颗粒尺寸分布影响焊膏粘度和可
类型3焊膏使用的,用于大部分印
用途极密节距CSP应用可能使用类型4
焊膏。在类型4心,
颗粒表面增加增加颗粒氧化的
可能,使焊性降低使用类型4
时,再流焊要的。
7.1.1.2 模板
度和开孔设计 所有元器件
随着元件节距小模板
。对于节距范1.5mm1.0mmBGA元器
模板0.15mm[0.006
in] 0.18mm[0.007in]。对于芯片尺寸封
CSP或节距小于 0.80mm 细节
BGA其模板推荐0.1mm[0.004in]
0.15mm[0.006in]CSP其它密节距面阵列
装通并不印制电路组
一的元器
,所模板必须平衡点
型模板,对CSP可能不
其它元器件节距较大的BGA供足
焊膏如枕头效应或降低ASIC
寿命等
决定模板焊膏量时,焊膏
较多比积较少更目标为达到
开路值左这是
并不表示
数增加很少检,们一会在
ICT能测一方面,
为检测时焊点可能会接,开路和间
开路很容检测,最终致现场失
。所模板和连接形设计时,目标设定
开路单准是预场失
比最的方
可提 焊膏
模板孔设很重
要。为了焊膏推荐使用
1.5模板孔宽度模板
一个值是积比推荐使
0.66的面积比。计算面积比的公模板
的面除以的面7-1使用
这些推荐和面积比模板设
许更焊膏
残留焊膏会部堵塞
减少子上焊膏印量,焊点焊
接不开路。
连接积/模板积/孔
= L*W/2*(L+W)*T >0.66
LxW
2(L+W)
xT
在开孔设计中比比积比更常
连接远大连接盘宽度时,
积比的一形式例:一个尺寸
0.35mm的方0.125mm
积比
0.35x0.35
2(0.35+0.35)x0.125
=
0.1225
0.175
= 0.70
7-1 颗粒对⽐
类型
颗粒
[μm]
类型2 -200/+325 75
类型3 -325/+500 53
类型4 -400/+500 38
类型5 -500 25
20131 IPC-7095C-C
75
要达到此采用印或比连接大的开
要的。特于较细节距BGA模板
1:1或略小于连接达到密封效果
如果当模板孔比连接大时,为了达到
的面积比现更好焊膏,在
模板必须的。大的开
焊膏模板底部,的电路
意的,在
用于CBGA
CCGA和通孔内焊膏PIH)工艺的模板时,
孔应远大连接
形倒的方形或可提供更好
焊膏量。
7.1.1.3 量的重要性 BGA
分焊膏是由元件球提的,此时
量并不那么。对于节距0.80mm
BGA铅或无铅方)模板决于
印制板使用其它类型
元器件料量
模板于带塌陷铜焊或高
302°C90%铅/10%锡球的陶瓷BGA
用于陶瓷BGA球在通再流焊过
程中不会塌陷7-2
料量的塌陷球(铜制
90Pb/10Sn球)的CBGA,可能
使用式模板尺寸0.04mm0.08
mm
在电路表面施加两种不同的焊膏
尺寸0.04mm时,金属刮刀
使用如果使用模板线开任何
离至少3.75mm高铅含量
球不会塌陷焊膏是很重要的。
使用式模板模板
塌陷球所焊膏量。连接
间的填充决于焊膏量。CBGA
CGA要有一个焊膏靠焊点
有此技术能为装提定焊膏
量。7-2陶瓷封装的焊膏使用量要求
范例使用/铅或无铅SAC焊膏
7-2
焊膏量要求对/铅无铅焊膏应
的。外铜制焊或高90%Pb/10%Sn球的
量要求同的,这两种球在再流
IPC-7095c-7-1-cn
图7-1 膏释放的宽⽐和⾯
焊料模板特征尺寸
开孔长度(L)
模板厚度(T)
开孔宽度(W)
IPC-7095c-7-2-cn
图7-2 ⾼铅共晶焊球及其焊点对⽐
PBGA基板
PWB
62/36铅/2
b)
a)
CBGA基板
PWB
晶锡/铅90/10铅/
7-2 陶瓷阵列封装量要求
器件
节距
(mm)焊合⾦
μm
3
最⼩ ⼤)
CBGA/
CuBGA
1.27 /铅或无铅 78,660,000 163,870,000
CBGA/
CuBGA
1.00 /铅或无铅 40,968,000 75,380,000
CCGA/
CuCGA
1.27 /铅或无铅 60,632,000 124,542,000
CCGA/
CuCCGA
1.00 /铅或无铅 32,321,000 81,935,000
IPC-7095C-C 20131
76