00194862-0202-MM-D1-D2_JAP.pdf - 第32页
5 毎月のメンテナンス作業 SIPLACE D 1 / D2 2.6 メンテナンススケジュール 2008 年 8 月版 32 5
SIPLACE D1 / D2 5 毎月のメンテナンス作業
2008 年 8 月版 2.6 メンテナンススケジュール
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Y 軸のリニアガイドを清掃 5
① SIPLACE クリーニングティッシュを使用して、Y 軸のリニアガイドをその全長に沿ってくま
なく清掃します。
① けばのないクロスを使用して、リニアガイドに残っているしつこい汚れを取り除きます。
① 新品の SIPLACE クリーニングクロスを使用して、リニアガイドに油を塗布し錆から保護しま
す。
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X 軸のリニアガイドを清掃 5
② SIPLACE クリーニングティッシュを使用して、X 軸のリニアガイドをその全長に沿ってくま
なく清掃します。
② けばのないクロスを使用して、リニアガイドに残っているしつこい汚れを取り除きます。
② 新品の SIPLACE クリーニングクロスを使用して、リニアガイドに油を塗布し錆から保護しま
す。
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Y 軸対向ベアリングの摺動面を清掃 5
③ SIPLACE クリーニングティッシュを使用して、対向ベアリングの摺動面を清掃します。
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Y 軸摩擦面を清掃 5
④ SIPLACE クリーニングティッシュを使用して、Y 軸摩擦面を清掃します。
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5 毎月のメンテナンス作業 SIPLACE D1 / D2
2.6 メンテナンススケジュール 2008 年 8 月版
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SIPLACE D1 / D2 5 毎月のメンテナンス作業
2008 年 8 月版 2.6 メンテナンススケジュール
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SIPLACE D1 のみ :
IC カメラと FC カメラの清掃 5
ミラーのエッジに沿って指を切断する危険性があります。 5
手を保護するために、実験室用手袋をはめ、エッジに触れないようにします。 5
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実験室用手袋は、効果的な清掃にとっても、必要になります（指紋）。 5
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① IC カメラの上部を注意して上に引き上げ、外します。
② レンズクロスで、斜めのガラスディスクを清掃します。
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○ IC カメラの上部を再度挿入します。
IC カメラの上部を挿入するとき、下部に対して平行になっていて、動かないようにします。
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③ 同様に FC カメラの上部を取り外します。
④ レンズクロスを使用して、斜めガラスプレートを清掃します。
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○ 再度上部を挿入します。
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SIPLACE D1 のみ :
平面度測定モジュールの清掃 ( 存在する場合 ) 5
○ レンズクリーニングクロスを使用して、平面度測定モジュールのレンズを清掃します。
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○ メインスイッチで実装マシンに電源を入れます。
○ 部品トロリーを実装マシンに結合します。
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