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SIPLACE SWS Software 2.1 /

Versionsbeschreibung / Version Description Ausgabe Fehler! Unbekannter Name für Dokument-

Eigens

4.8 Plain Wafer

4.8.1 Feste-Wafer-Map-Koordinaten verwenden

Mit dieser Option kann eine Verknüpfung von Start -Die-Position und der Wafer-Map-Koordinate

erzwungen werden.

Hintergrund:

Ohne diese Option (Standard) wird beim Festlegen des Startdies bei manueller bzw. automatischer

Wafer-Referenzierung, die Wafermap-Die-Koordinaten aus dem theoretischen Mittelpunkt

errechnet. Sollte der Wafer schlecht in dem Rahmen montiert worden sein und eine Wafer-

Randerkennung nicht durchgeführt werden können (z.B. Kunsstoff-Wafer mit sehr breiten

Sägestraßen) werden zu viele Dies vom Wafer abgenommen oder es werden sehr große Bereiche

des Wafers abgefahren in denen sich aber keine Dies befinden.

Diese wird mit der Option Feste-Wafer-Map-Koordinaten verwenden verhindert.

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5 Leistungsmerkmale der SWS Software 2.1

Die SWS Software 2.1 beinhaltet alle Funktionen der SWS Software 2.0. Nachfolgend sind die

wichtigsten neuen Leistungsmerkmale der SWS Software 2.1 aufgeführt.

HINWEIS

Detaillierte Angaben zu einzelnen Funktionen entnehmen Sie bitte der Softwareanleitung

"SIPLACE SWS Software 2.1 [Artikel Nr.: 00195986-02].

5.1.1 Überarbeitung der Schnittstelle zum Wafer-Map-Server

Die Menüführung unter Manuelle Einstellung => Parameter Testkamera wurde vereinfacht. Die

Einstellungs- und Überwachungsmöglichkeiten wurden überarbeitet.

Die Option Verbindungseinstellungen => SIPLACE Wafer System wurde erweitert. Es werden

jetzt auch passive Verbindungen zum Wafer-Map-Server unterstützt.

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Versionsbeschreibung / Version Description Ausgabe 05/2014 Edition

5.1.2 Menüführung Manuelle Einstellungen vereinfacht.

Die Menüführung unter Manuelle Einstellung => Parameter Testkamera sowie deren Ansichten

Wafer-Kamera und Inspektionskamera wurde vereinfacht.

Einige nicht benötigte Funktionalitäten wie Pattern Teaching wurden entfernt.