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第 二 章、主 程 式 選 單介紹 T R 7500 E 使用手冊 1 07 7.9.1. 啟 動 C pk 資料 收集 ( E n a b le C p k D a t a C o llec t i on) l 勾選 表 示 啟動 線上 元件 分 析 ，系統 會 出 現 設定視窗 。 n X - S h i ft 、 Y - s h i ft 、 T h e ta 分別 代 表 各 元件 的 水 平 位 移 、 垂 直 位 移 、 偏…
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l 敏感度 – 設定定位標記的敏感度，若設定為 40 分，表示在搜尋範圍內找到
與標準影像進行影像比對後，分數超過 40 分的物件即認為其為對位標記。
7.6. 重置 X Y Table(Reset X Y Table)
l 按下此按鈕可將 Camera 移動至 Table 的原點位置(右上角)。
7.7. 取出電路板(Unload Panel)
l 按下此按鈕可將電路板送至出板端
7.8. 電路板定位測試(Panel Standby Test)
l 勾選此按鈕後可以設定電路板不出板檢測次數。再按一次選項可以取消。
7.9. 線上元件分析(Inline Component Analysis)
l 使用此功能可以自動收集元件檢測的資訊，並可以直接在 AOI 機器上查看
結果。
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7.9.1. 啟動 Cpk 資料收集(Enable Cpk Data Collection)
l 勾選表示啟動線上元件分析，系統會出現設定視窗。
n X-Shift、Y-shift、Theta 分別代表各元件的水平位移、垂直位移、偏移
角度。
n 高、低–位於此範圍內的檢測結果才列入 Cpk 計算。
n USL–計算 Cpk公式所需的規格上限
n LSL–計算 Cpk 公式所需的規格下限
n CpkSpec–可自訂所計算出的 Cpk 容許值，高於此值可視為正常，低於
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此值視為異常。
n 無–不自動輸出
n 檢測時間–依照檢測時間自動輸出(單位：小時)
n 檢測次數–依照檢測次數自動輸出
7.9.2. Cpk 資料報告(Cpk Data Report)
l 有勾選[Cpk 資料收集]，此按鈕才會作用。按下次按鈕可以檢視先前收集的
[Cpk資料報告]。
此欄位變成可
以點選
l Cpk資料報告格式