TR7500E_Manual_ch_v28.pdf - 第192页
第 三 章、 A T PG 功 能 介紹 T R 7500 E 使用手冊 1 84 l 檢視 ( V i e w ) – 按下 [ 檢視 ] 按 鈕 可以 把 [ 邏 輯 ] 完字方 塊中 有 關 的 檢測框 在 圖 上 用 紅色 顯示 出來。 1 0 . 7 . 1 . 2 設定檢測方法步驟 步驟 1. 在 畫面 中選擇 欲 設定 邏 輯 的 檢測框 ( 可按 住 鍵 盤 的 「 C t rl 」 後 以滑 鼠 點 選 來 選擇 多 …
第三章、ATPG 功能介紹
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l 改變瑕疵(Change Defect) – 可以改變瑕疵的邏輯或名稱。選取一瑕疵並
編輯欲修改的部分(瑕疵名稱或邏輯方程式)，接著按下[改變瑕疵]會出
現確認視窗，確認後按下[是]即可改變瑕疵的設定，若按[否]則不會進
行改變的動作。
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l 檢視(View) – 按下[檢視]按鈕可以把[邏輯]完字方塊中有關的檢測框在
圖上用紅色顯示出來。
10.7.1.2
設定檢測方法步驟
步驟1. 在畫面中選擇欲設定邏輯的檢測框(可按住鍵盤的「Ctrl」後以滑
鼠點選來選擇多個檢測框)。
步驟2. 選定[運算子]種類、勾選[視窗]後按下[群組]，則所選擇的檢測框
名稱會用運算子連接起來並列在下方列表中。
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步驟3. 在列表上使用滑鼠左鍵按欲設為邏輯的方程式兩下，將此方程式
列在[邏輯]欄位中。
步驟4. 給予新瑕疵名稱並輸入在[瑕疵]欄位中，接著按下[新增瑕疵]按
鈕，此檢測方法即設定完成。