TR518_SII_硬体规格与架构_v1.0.0.pdf - 第18页
Test R esearch Inc. 16 TR518 SII 使用手冊 --- 硬體 規格與架構 3.2.23 DA Cs ( 數位 - 轉 - 類比的轉換器 ) Resolution : 12 bits Accuracy : +/ - 1 LSB 3.2.24 AD Cs ( 類比 - 轉 - 數位的轉換器 ) Resolution: 14 bi ts Conversio n Time : 50nS Accur…
Test Research Inc.
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3.2.16 電感測量
Range: 1uH ~ 60H
Accuracy: (1% ~ 10%)+/-50uH
3.2.17 兩極體測量
Current Range: 3mA, 10mA, 20mA
Voltage Range: 0 ~ 10V
3.2.18 齊納二極體測量
Current Range: 3mA, 10mA, 20mA
High Voltage Range: 100V/ 100mA max
3.2.19 雙載子接面電晶體
Junction Test (similar to Diode Test)
Hfe ( Beta ) Test
Vce Test
Source Voltage: 0 ~ +/-10V
3.2.20 場效電晶體
Junction Test (similar to Diode Test)
JFET/MOSFET Ids Test
Source Voltage: 0 ~ +/-10V
3.2.21 矽控整流器 測量
Iak Test
Source Voltage: 0 ~ +/-10V
3.2.22 保險絲,交換器 以及跳針 測試
Default Source Voltage: 0.2V
Resistance Range: 3 ohm ~ 100 ohm
Test Research Inc.
16 TR518 SII 使用手冊---硬體規格與架構
3.2.23 DACs (數位-轉-類比的轉換器)
Resolution : 12 bits
Accuracy : +/- 1 LSB
3.2.24 ADCs (類比-轉-數位的轉換器)
Resolution: 14 bits
Conversion Time : 50nS
Accuracy : +/- 4 LSBs (max)
3.2.25 通用型 輸入/輸出 (GPIO)
TTL Input : Maximum 24V
Open collect output : Maximum 24V
Over Current Protection
- Build-in diagnostic hardware
- Auto Calibration
- USB 2.0 / PCIe interface with NetBook/Notebook/Desktop PC
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3.2.26 Press Unit 介面
Press Unit Interface at ATM board
針位定義:
PIN
Signal Name
1
TEST_Button
2
Down_Solenoid
3
Up_Solenoid
4
ABORT_Button
5
Position_Sensor_Switch
6
DOWN_Button
7
Accept_Lamp
8
Reject_Lamp
9
Test_Lamp
10
+24V
11
+24V
12
Photo Protect Switch
13
RESET_Button
14
GND
15
GND