00195044-10_UM_VisionTeachStation_DE EN.pdf - 第66页

7 Software Bedienungsanleitung Vision Teach Station 7.6 Features ab VTS-Version 4.3.1 Ausgabe 12/2012 66 7.6 Features ab VTS-Version 4.3.1 Im folgenden werden die Änderungen gegenüber SIPLACE Vision Teach Station V3.5.1 …

Bedienungsanleitung Vision Teach Station 7 Software

Ausgabe 12/2012 7.5 Fehlerreport

7.5 Fehlerreport

7.5.1 SIPLACE Vision Station

Um Fehler während des Betriebs des SIPLACE Vision Teach Station an den SIPLACE Service

melden zu können, steht das Tool "BugReporter" unter folgendem Pfad zur Verfügung:

<Installationspfad SIPLACE Vision-Teach-Station>\BugReporter.exe 7

Alternativ dazu können Sie auch über das "Start"-Menü  Programme  TeachStation den

BugReporter ausführen.

So können Sie Informationen über die SIPLACE Vision Teach Station in eine komprimierte Datei

(Zip-Datei) speichern und ggf. zur Untersuchung an den Service senden.

7.5.2 SIPLACE Pro

Fehler, die im Zusammenhang mit SIPLACE Pro entstehen, können über den SIPLACE Pro Error

Reporter gemeldet werden. Dieser wird über das "Start"-Menü  Programme  SIPLACE Pro 

SIPLACE Pro Error Reporting aufgerufen.

7 Software Bedienungsanleitung Vision Teach Station

7.6 Features ab VTS-Version 4.3.1 Ausgabe 12/2012

7.6 Features ab VTS-Version 4.3.1

Im folgenden werden die Änderungen gegenüber SIPLACE Vision Teach Station V3.5.1 beschrie-

ben.

7.6.1 SIPLACE Vision

7.6.1.1 SIPLACE Vision Quality Inspection Package (ab SIPLACE Pro 7.0)

Das Quality Inspection Package bietet erweiterte Inspektionsmöglichkeiten für Gehäuseformen:

 Prüfung der Kolinearität von Lead-Gruppen. Damit wird die Abweichungen der Position von

einzelnen Lead-Enden gegenüber den typischen Lead-Enden-Positionen einer Gruppe ge-

prüft. So können defekte Leads erkannt werden.

 Erweiterte Face-Down-Erkennung. Die Face-Down-Erkennung kann nun auch bei weiteren

Gehäuseformtypen wie SOT and SOxx eingesetzt werden. Neben dem Helligkeitsverfahren

steht eine zweites Verfahren zur Verfügung, welches den Kontrast im Prüfbereich auswertet,

um die Ober- und Unterseite der Bauteile zu unterscheiden. Die Face-Down-Erkennung ist

auch bei Mehrfachmessung möglich.

 Prüfung der Lead-Breite. Die Abweichung der Breite eines Leads von der Nennbreite unter Be-

rücksichtigung der Toleranzen lässt auf einen Defekt am Lead oder auf ein nicht richtig aufge-

nommenes Bauteil schließen. Die Lead-Breiten-Prüfung erfolgt nur für die Lead-Typen

Gullwing, Wraparound und JBend.

 Prüfung der Lead-Länge bei Chip und Moulded Gehäuseformen. Wenn Chip oder Moulded

Bauteile hochkant aufgenommen werden, kann dies bei Bauteilen, bei denen Höhe und Breite

sich gleichen, nicht mit der Dimensionskontrolle erkannt werden. Da an der Seitenfläche die

Leads meist eine andere Länge haben, ist es mit der Lead-Längen-Messung möglich, solche

hochkant aufgenommene Bauteile zu erkennen.

 Prüfung, ob mehr Leads vorhanden sind als beschrieben. Bei erfolgreicher Bauteil-Vermes-

sung wird geprüft, ob das Bauteil an einer zweiten Position gefunden werden kann. So können

falsch gerüstete Bauteile erkannt werden.

7.6.1.2 Rechtecksmerkmale bei Gehäuseformen (ab SIPLACE Pro 7.0)

Bei “NONSTANDARD”-Gehäuseformen ist es möglich, Rechteckmerkmale zu vermessen. Bis-

her konnte man rechteckigen Merkmale nur über die Verwendung von Eckenmerkmalen be-

schreiben.

7.6.1.3 Verbessertes Lernen von unregelmäßigen BGA oder CCGA

Bei BGA oder CCGA lassen sich nun Anschlussgruppen mit unregelmäßiger Anordnung der

Merkmale im Gehäuseform-Assistenten lernen.

Bedienungsanleitung Vision Teach Station 7 Software

Ausgabe 12/2012 7.6 Features ab VTS-Version 4.3.1

7.6.2 SIPLACE Vision-Ansichten

7.6.2.1 SIPLACE Vision Versionsanzeige

Wenn eine SIPLACE Vision-Ansicht sichtbar ist, kann in der Toolbar eine SIPLACE Vision Kom-

patibilitätsversion ausgewählt werden. Standardwert ist Version 431.

Bei jeder Änderung in den SIPLACE Vision-Ansichten wird geprüft, ob die Änderungen kompati-

bel zur eingestellten SIPLACE Vision Version sind. So kann sichergestellt werden, dass die Än-

derungen auch an Maschinen mit älteren Versionen eingesetzt werden können (z.B. X- oder D-

Maschinen mit SIPLACE Vision V3.5.1).

7.6.2.2 Importieren von Ball-Beschreibungen

Wenn in einer SIPLACE Vision-Ansicht eine BGA- oder eine CCGA-Gehäuseform geöffnet ist,

können Ball-Beschreibungen über den Menü-Eintrag "SIPLACE Vision  Ball-Beschreibungen

importieren..." aus einer Textdatei geladen werden. In einem Dialog können diese importierten

Beschreibungen um fehlende Informationen ergänzt werden.

7.6.2.3 Editieren von Messkontexten

In den SIPLACE Vision-Ansichten ist ein Messkontext editierbar, der aus einer Datei geöffnet

wurde.

7.6.2.4 Laden und Speichern von Vision Daten aus SIPLACE Pro

Wenn eine SIPLACE Vision-Ansicht sichtbar ist, können Vision-Daten über den Menü-Eintrag

"SIPLACE Pro Æ Vision Daten laden...“ aus einer SIPLACE Pro Gehäuseform geladen werden.

Ebenso können über den Menü-Eintrag "SIPLACE Pro  Vision Daten speichern..." die Vision-

Daten einer SIPLACE Pro Gehäuseform überschrieben werden.

7.6.2.5 Öffnen einer SIPLACE Vision Ansicht ohne Selektion einer SIPLACE Pro

Gehäuseform

Aus der Ansicht "Live-Bild" kann nun direkt eine SIPLACE Vision-Ansicht geöffnet werden. Wenn

vorher keine SIPLACE Pro Gehäuseform ausgewählt wurde, wird eine Default-Gehäuseform vor-

gegeben.