盛雄激光简介2020.pdf - 第5页

1.3. 检测设备 雷尼绍激光 干涉仪 Renishaw laser inte rferometer 自相关仪 Autocorrela tor M2光束质量分 析仪 M2 beam q uality an alyzer 泰克高频示 波器 (Tekt ronix ) High Freque ncy Oscillos cope 用于测量和校 正运动平台 精度 U s e d t o d e t e c t a n d c o r r e c…

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1.2. 历年营业额
年/Year
营收 /Revenue
(百万人民币/Million RMB)
项目 Project
2016
2017
2018
营业额（百万）
Revenue (million)
178.51
174.56
320.6
研发投入（百万）
R&D expenses
(million)
11.52
12.09
23.15
研发占比
R&D ratio
6.45%
6.93%
7.22%
专利类型
Patent type
发明专利
Invention patent
实用新型
Utility model
外观设计
Industrial Design
软件著作权
Software copyright
申请
Number of applications
28
52
13
12
授权
Number of authorizations
5
33
13
员工学历
Education of staff
本科
Bachelor
硕士
Master
博士
Doctor
人数 Number
130
24
5
1.3. 检测设备
雷尼绍激光干涉仪
Renishaw laser interferometer
自相关仪
Autocorrelator
M2光束质量分析仪
M2 beam quality analyzer
泰克高频示波器 (Tektronix )
High Frequency Oscilloscope
用于测量和校正运动平台精度
Used to detect and correct the
accuracy of motion platform .
用于测量激光脉冲宽度
Used to measure the pulse
width of laser.
用于测量激光光束质量
Used to measure the beam
quality of laser.
用于测量激光脉冲频率
Used to measure the pulse
frequency of laser.
用于测量激光加工效果 (微米级 Micron level)
Used to measure the effect of laser processing.
基恩士2D & 3D显微镜
KEYENCE 2D & 3D microscope
高速摄像机
High speed camera
扫描电子显微镜（SEM）
Scanning electron microscope
用于观察激光与材料相互作用的过程
Used to observe the interaction
between laser and material.
用于测量激光加工的微观效果
（纳米级 Nano level）
Used to measure the microscopic
effect of laser processing.
1.3. 检测设备