IEC62321-5-2013-中文版.pdf - 第6页
62321 ‐ 5 ? IEC:2013 Page 6 of 27 1 适用范围 IEC 62321 本部分介绍了通过使用仪器 AAS ， AFS ， ICP-OES 和 ICP-MS 测定聚合物，金属和 电子产品中的铅，镉，铬的含量。 本标准规定了测定镉（ Cd ） ，铅（ Pb ） ，铬（ Cr ）在电工产品的含量水平。它包括三种类型的基 质：聚合物及聚合物工件，金属及合金和电子产品。 此标准针对的样品是指用来加工或测量的样品。 通…
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是许多国家修改法律法规以影响电子电气产品中废弃物、物质和能源的使用。
电子电气产品中某些物质，如：铅（ Pb）、汞（ Hg）、镉（ Cd ）、六价铬（ Cr(Ⅵ)）和它们的
化合物，另外加上两种溴化阻燃剂多溴联苯（ PBB ）和多溴联苯醚（ PBDE ），这些物质在当
前的和提案的地方法规是被限制使用的。
因此，本标准的目的是为电子电气产品业界提供测试方法，在全球范围内一致的基础上测定
电子电气产品中的限制物质 Pb、Hg 、Cd、Cr( Ⅵ)和它们的化合物，以及 PBB 和 PBDE 的浓
度。
警告 - 使用本国际标准中的人应该熟悉正常实验室操作。 本标准并不旨在解决所有的安全问题，
只解决与其使用相关的安全问题。它是由用户自己负责建立的，适当的安全和健康操作实践， 并
确保符合任何国家的监管条件。
电工产品中相关物质的测定 -
第 5 部分：使用 AAS ，AFS ，ICP-OES 和 ICP-MS ，分别测定聚合物和电子产品中镉，铅，铬
的含量以及金属中镉和铅的含量
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1 适用范围
IEC 62321 本部分介绍了通过使用仪器 AAS ，AFS ， ICP-OES 和 ICP-MS 测定聚合物，金属和
电子产品中的铅，镉，铬的含量。
本标准规定了测定镉（ Cd ），铅（ Pb ），铬（ Cr）在电工产品的含量水平。它包括三种类型的基
质：聚合物及聚合物工件，金属及合金和电子产品。
此标准针对的样品是指用来加工或测量的样品。 通过测试来定义什么样品和如何获得样品。 而且，
在 IEC62321-2 里可以找到从电子成品中获得代表性样品有关指导， 和通过测试获得限制物质含
量的有关指导。值得注意的是，样品的选择和 /或决定都可能会影响测试结果。
该标准描述了四种方法，即 AAS （原子吸收光谱） ，AFS （原子荧光光谱法） ，ICP-OES （电感
耦合等离子体发射光谱） ，ICP-MS （电感耦合等离子体质谱仪） ，以及由专家分析得到的多种最
合理的样品溶液制备方法。
由于聚合物和电子产品中的六价铬的有时难以测定，所以该准则除了介绍 AFS （原子荧光光谱
法）外，还引入了筛选方法测定聚合物和电子产品中的铬。 铬分析能提供材料中六价铬的存在的
相关信息。然而，元素分析不能选择性地检测六价铬含量，只能检测样品中所有的氧化态 Cr 含
量。所以如果 Cr 总含量超过六价铬铬的限制，就应该进行六价铬测试。
本标准中所描述的测试程序，旨在提供最高水平的准确度和精确度，在使用 ICP-OES 和 AAS
情况下， Pb，Cd 和 Cr 的浓度范围从 10mg/kg 开始；在使用 ICP-MS 的情况下， Pb ，Cd 的浓
度范围从 0.1mg/kg 开始；在使用 AFS 的情况下， Pb 的浓度范围范围是从 10mg/kg 开始， Cd
的浓度范围范围是从 1.5mg/kg 开始。程序对更高的浓度并不限制。
本标准不适用于含有多氟聚合物的材料， 因为这种材料很稳定。 如果在分析方法中， 使用了硫酸，
那就会有损失 Pb 含量风险的， 从而导致错误的低的测定值。 此外，如果使用 AFS 测定 Cd 含量，
那么使用硫酸和氢氟酸消解样品是不适合的，因为这两种酸会干扰测试，减少 Cd 含量。
限制和风险的发生是由于样品的消解步骤， 例如目标元素或其他元素沉淀， 可能会发生， 在这种
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情况下， 这些沉淀必须单独检测或使用另一种样品消解方法， 溶解沉淀， 然后混合到样品测试溶
液中。
2 引用标准
以下参考文件对于本文件的应用是密不可分的。对于注明日期的参考文件，所引用的版本适
用于本标准。对于未注明日期的参考文件，所引用的参考文件的最新版本（所括修正案）适
用于本标准。
IEC62321-1 ，电工产品中的相关物质的测定 - 第 1 部分：简介和概述