IEC62321-5-2013-中文版.pdf - 第7页

62321 ‐ 5 ? IEC:2013 Page 7 of 27 情况下, 这些沉淀必须单独检测或使用另一种样品消解方法, 溶解沉淀, 然后混合到样品测试溶 液中。 2 引用标准 以下参考文件对于本文件的应用是密不可分的。对于注明日期的参考文件,所引用的版本适 用于本标准。对于未注明日期的参考文件,所引用的参考文件的最新版本(所括修正案)适 用于本标准。 IEC62321-1 ,电工产品中的相关物质的测定 - 第 1 部分:简介和概述

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1 适用范围
IEC 62321 本部分介绍了通过使用仪器 AAS AFS ICP-OES ICP-MS 测定聚合物,金属和
电子产品中的铅,镉,铬的含量。
本标准规定了测定镉( Cd ,铅( Pb ,铬( Cr)在电工产品的含量水平。它包括三种类型的基
质:聚合物及聚合物工件,金属及合金和电子产品。
此标准针对的样品是指用来加工或测量的样品。 通过测试来定义什么样品和如何获得样品。 而且,
IEC62321-2 里可以找到从电子成品中获得代表性样品有关指导, 和通过测试获得限制物质含
量的有关指导。值得注意的是,样品的选择和 /或决定都可能会影响测试结果。
该标准描述了四种方法,即 AAS (原子吸收光谱) AFS (原子荧光光谱法) ICP-OES (电感
耦合等离子体发射光谱) ICP-MS (电感耦合等离子体质谱仪) ,以及由专家分析得到的多种最
合理的样品溶液制备方法。
由于聚合物和电子产品中的六价铬的有时难以测定,所以该准则除了介绍 AFS (原子荧光光谱
法)外,还引入了筛选方法测定聚合物和电子产品中的铬。 铬分析能提供材料中六价铬的存在的
相关信息。然而,元素分析不能选择性地检测六价铬含量,只能检测样品中所有的氧化态 Cr
量。所以如果 Cr 总含量超过六价铬铬的限制,就应该进行六价铬测试。
本标准中所描述的测试程序,旨在提供最高水平的准确度和精确度,在使用 ICP-OES AAS
情况下, PbCd Cr 的浓度范围从 10mg/kg 开始;在使用 ICP-MS 的情况下, Pb Cd 的浓
度范围从 0.1mg/kg 开始;在使用 AFS 的情况下, Pb 的浓度范围范围是从 10mg/kg 开始, Cd
的浓度范围范围是从 1.5mg/kg 开始。程序对更高的浓度并不限制。
本标准不适用于含有多氟聚合物的材料, 因为这种材料很稳定。 如果在分析方法中, 使用了硫酸,
那就会有损失 Pb 含量风险的, 从而导致错误的低的测定值。 此外,如果使用 AFS 测定 Cd 含量,
那么使用硫酸和氢氟酸消解样品是不适合的,因为这两种酸会干扰测试,减少 Cd 含量。
限制和风险的发生是由于样品的消解步骤, 例如目标元素或其他元素沉淀, 可能会发生, 在这种
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情况下, 这些沉淀必须单独检测或使用另一种样品消解方法, 溶解沉淀, 然后混合到样品测试溶
液中。
2 引用标准
以下参考文件对于本文件的应用是密不可分的。对于注明日期的参考文件,所引用的版本适
用于本标准。对于未注明日期的参考文件,所引用的参考文件的最新版本(所括修正案)适
用于本标准。
IEC62321-1 ,电工产品中的相关物质的测定 - 1 部分:简介和概述
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IEC62321-2 ,电工产品中的相关物质的测定 - 2 部分:拆卸、磨碎和机械制样
IEC62321-3-1 ,电工产品中的相关物质的测定 - 3-1 部分:采用 X-射线荧光光谱法( XRF
筛选 - 铅,汞,镉,总铬和总溴含量
ISO 3696 ,分析实验室用水 -规格和测试方法
ISO 5961 ,水质 -原子吸收光谱法测试镉的含量
3 术语、定义和简写
3.1 术语和定义
IEC 62321-1 中出现的及以下术语和定义适用于本文件
3.1.1 准确度
测试结果和公认的参考值之间的一致程度
3.1.2 校正标准
固体或液体形态的物质,它具有已知的、稳定浓度的目标分析物,根椐分析物的浓度来建立
仪器的响应(标准曲线)
3.1.3 校准溶液
校准溶液是由储备溶液或(经认证)标准物质制得,用来校准仪器
3.1.4 认证参考物质
附有证书的参考物质,它的一项或多项属性通过认可程序的验证,可以追溯到所表述属性什
单位的真实准确度,而且每个验证值在所述的置信水平下都附有不确定度
3.1.5 实验室控制样品
实验室控制样品是一种由已知基质添加上一种或多种目标分析物的化合物, 通常用来验证实验室
性能
[根据 US EPA SW-846] [1]
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3.1.6 试剂空白溶液