FX-3操作手册（程序员，管理员）.pdf - 第198页
操作手册 II Rev00 2-159 2-5-4-2 测量 在贴片头上安装实际元件，用激光执行测量（检测）后，把其数据反映到生产程序的功能。 ( 详情请参见“使用说明书 CD ” ) 注意 为了避免人身伤害，在机器运行过程中，切勿将手和头伸入装置内部。 2-5-4-2-1 测量模式 有“连续测量”和“单独测量”2种测量模式。 可选择菜单切换运行模式。 以下为各模式的功能。 表 2-5-4-2-1-1 测量模式的内容与菜单 测量子菜单 …
操作手册 II Rev00
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(2) 基板外形尺寸
设定基板外形尺寸。初始值设定为基板数据中的基板外形尺寸(Y)。
(3) 余宽
设置基板与传送轨道之间的余宽。
余宽适用于生产条件。
(4) 动作状态
显示移动时、宽度回原点时、传送道路上的动作状态。
(5) 说明
显示功能的概要说明。
(6) “基板传送”按钮
调出基板传送画面。
(7) “宽度回原点”按钮
基板宽度自动调整返回原点。
操作手册 II Rev00
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2-5-4-2 测量
在贴片头上安装实际元件，用激光执行测量（检测）后，把其数据反映到生产程序的功能。
(详情请参见“使用说明书 CD”)
注意
为了避免人身伤害，在机器运行过程中，切勿将手和头伸入装置内部。
2-5-4-2-1 测量模式
有“连续测量”和“单独测量”2种测量模式。
可选择菜单切换运行模式。
以下为各模式的功能。
表 2-5-4-2-1-1 测量模式的内容与菜单
测量子菜单 运行模式 运行内容
单独 单独测量 测量元件画面表格中显示的元件。
连续 连续测量
测量生产程序数据内所有元件/条件一致的元件。测量中因
某种原因测量失败的元件可进行单独测量。
2-5-4-2-2 测量操作
(1) 单独测量
只对被选择的元件进行测量。
1)设置单独测量的条件
从菜单栏中选择“机器操作”/“测量”/“单独测量”后，显示如下画面。
图 2-5-4-2-2-1 设置单独测量条件
操作手册 II Rev00
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a) 测量元件
显示要测量元件的内容。
b) 吸取坐标
显示吸取元件的吸取位置的内容。可以更改为前代替元件和后代替元件的吸取位置。当
没有吸取数据时，不显示各项目，也不能进行吸取位置的变更、顶推供料器和示教。
●送料
顶推一下供料器，供给元件(32mm的纸带除外)。
●把示教结果反映在吸取数据上
选择是否将使用示教功能的示教结果反映在吸取数据。不勾选时，坐标仅适用于此次吸
取时。
●变更吸取坐标的方法
用于测量的元件的吸取位置与实际有差异时，可使用示教功能进行贴片坐标的示教。
此外，不进行示教而用手动输入也可变更坐标。
c) 测量结果
显示测量前和测量后的值。未进行测量的项目显示***。
●变幻线
从激光单元取得检测(SWEEP)数据，可显示出元件轮廓图（变幻线）。
d) 测量项
选择需要测量的项目。默认为选择所有可测量的项目。
根据元件类型，可测量的项目有所不同。
设置结束后，单击“单独测量”进行单独测量。
因元件的包装方式而有所不同，当元件尺寸在1mm以下时，会显示询问测量后的元件是归
还、或是废弃。
图 2-5-4-2-2-2 确认是否归还元件