NPM_SupplementToRecognitionSetting_C_15识别设定补充资料.pdf - 第24页
Page 24 4 - 2. 更改芯片元件 大 小容许值 在芯片系列元件 ( 微型电阻 / 微型电容器 ) 中元件正常吸着时 也可能发生 元件大小判断异常，此类情况，通过 更改大小容许值便可更改判断异 常 的容许值。 大小异常时的错误代码 : Ans25(L 侧 ) / 25(W 侧 ) 的大小异常 ＜数据输入方法＞ 在 DGS,LWS 的识别数据编辑画面选择 [ 详细设定 ] - [ 容许值 ] 。 [ 备注 ] 大小容许值可分别指定…
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4. 有关识别的疑难问题解答例
◆在以后的页面中，将对发生识别故障的原因进行分析并介绍对策方法。
4 - 1. 设定多引线元件・球阵列元件的间距容许值
形状数据 : 引线组/球组/插入引线组指定时，
在识别示教的结果画面中将显示出被测量的平均间距信息。
识别错误代码: Ans=36(测量间距异常)发生时，请以该显示信息为基础，
设定识别选项的间距(弯曲)容许值。
< 显示的间距测量信息 >
引线组 插入引线组 球组
显示测量的平均间距信息
此外，为球组元件时，同时还会显示测量出的球平均直径大小信息
识别错误代码: Ans=32(电极宽度大小异常)发生时，请以该显示详细为基础，
设定识别选项的球直径容许值。
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4 - 2. 更改芯片元件 大小容许值
在芯片系列元件(微型电阻/微型电容器)中元件正常吸着时也可能发生
元件大小判断异常，此类情况，通过更改大小容许值便可更改判断异常
的容许值。
大小异常时的错误代码: Ans25(L侧) / 25(W侧)的大小异常
＜数据输入方法＞
在DGS,LWS的识别数据编辑画面选择
[详细设定] - [容许值]。
[备注]
大小容许值可分别指定：
“＋”侧(使元件变大的容许值)
“－”侧(使元件变小的容许值)
芯片有可能被横立着吸着时，请设定为『仅更改大小＋Ｌ侧容许值』
或『仅更改“＋”侧容许值』。
[参考]
大小错误(Ans25/26)发生时，在识别错误画面信息处测量的大小信息
会被记录下来。
大小错误多次发生时，请以该信息为基础更改输入的尺寸或大小容许
值。
错误画面信息的
A: 测量大小信息
B: 输入大小信息
4. 有关识别的疑难问题解答例
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4 - 3. 贴装偏移 (XY偏移 大)
例) 贴装位置的X、Y有大幅度偏移。
＜对策＞
在识别数据中添加「中心范围检查」选项。
中心范围检查是当吸嘴中心和元件中心的各自识别结果差异
过大，被作为识别错误时使用的选项。
＜数据输入方法＞
在DGS,LWS的识别数据编辑画面选择
[详细设定]-[识别选项]-[中心范围检查]-[添加]。
对中心范围选项进行设定。
[输入]-[应用] - [关闭]
＜备注＞
1. 窗口大小过小时，有可能会造成所有的元件错误，
请把窗口大小修改为适当的大小。
2. 中途多次发生识别错误时，也可能是在超出所设定的窗口之外
处稳定下来了。
3. 在该选项输入后贴装位置仍有大幅度偏移时，
可考虑为识别后的吸着偏移、元件落下等等。
因吸着不稳定等引起偏移时。错误识别时另当别论。
中心范围检查
输入吸着偏移的偏移量
输入吸嘴中心和元件中心的容许偏移量
4. 有关识别的疑难问题解答例