TR7500_Series_Software_ch-v6-3-0.pdf - 第372页

Test Research Inc. 360 TR7500SeriesUserGuide – Software  改變瑕疵 (Change Defect) – 可以改變瑕疵的邏輯或名稱。選取一瑕疵並編輯欲修改的部分 ( 瑕疵名稱或邏輯方程式 ) ，接著按下 [ 改變瑕疵 ] 會出現確認視窗，確認後按下 [ 是 ] 即可改變瑕疵的設定，若按 [ 否 ] 則不會進行改變的動作。

Test Research Inc.

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 新增瑕疵(New Defect) – 在下方列表視窗中欲設定的邏輯方程式上按滑鼠左鍵兩

下，可將方程式列在[邏輯]視窗中，接著在[瑕疵]中輸入欲給予的瑕疵名稱，再按下

[新增瑕疵]，會出現確認視窗，確定無誤後按[是]即完成設定新瑕疵。若按[否]則不

會設定新瑕疵。

z 若設定邏輯的檢測框是位於 IC 腳上的檢測框，則系統會詢問是否要將邏輯複製

到其他 IC腳上相對應的檢測框上，若有需要請按[是]，系統將會出現視窗告知複

製了多少個邏輯，請按[確定]。

Test Research Inc.

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 改變瑕疵(Change Defect) – 可以改變瑕疵的邏輯或名稱。選取一瑕疵並編輯欲修

改的部分(瑕疵名稱或邏輯方程式)，接著按下[改變瑕疵]會出現確認視窗，確認後按

下[是]即可改變瑕疵的設定，若按[否]則不會進行改變的動作。

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