3D AOI程序制作指.pdf - 第17页
服务热线： 400-1189 -123 www .aleader .hk E-mail：aoi@aleader .hk Ø 算法：T OC 此算法主要为检测元件具有特征颜色的部分来检测元件的缺件、错件等有颜色差异的检测项 可选择按面积百分比计算或像素点计算
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Ø算法：Match
采用水平垂直对齐模式后可通过软件对图片进行处理
最终得到的效果图可以避免因小角度旋转或者污染等情况导致的定位不准
并且能得到更好的检出效果
主要用于chip物料定位使用
可采用“2D图像+水平垂直对齐”或“3D点云+水平垂直对齐”
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Ø算法：TOC
此算法主要为检测元件具有特征颜色的部分来检测元件的缺件、错件等有颜色差异的检测项
可选择按面积百分比计算或像素点计算
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Ø算法：Planeness
此算法主要检测检测区内各个点区域的最大高度差，拥有不同模式，不同模式下检测区域不同
检测范围以及X/Y偏移主要用
于调整检测区域大小及位置